C a a - · PDF fileMal das Fraunhofer IPA Eventforum mit Sonderschau statt, das dem...

download C a a -   · PDF fileMal das Fraunhofer IPA Eventforum mit Sonderschau statt, das dem Fach-besucher die Möglichkeit bietet, ... cmP-modul von cera 14.40 Uhr Alexander Flisch,

If you can't read please download the document

Transcript of C a a - · PDF fileMal das Fraunhofer IPA Eventforum mit Sonderschau statt, das dem...

  • 3. bIs 6. maI 2011

    Control 2011

    neue messe stuttgart | halle 1 | stand 1602

    VortragsForum

    Computertomographie

    im industriellen

    einsatz

    FraunhoFer-InstItut

    Fr ProduktIonstechnIk und automatIsIerung IPa

  • Vorwort

    Auf der Control 2011 in Stuttgart findet in diesem Jahr bereits zum viertenMal das Fraunhofer IPA Eventforum mit Sonderschau statt, das dem Fach -besucher die Mglichkeit bietet, sich gezielt und um fassend ber zukunfts-weisende Technologien zu informieren und diese live zu erleben. Das Schwer -punktthema bildet im Jahr 2011 die Computertomographie im industriellenEinsatz. Konzentriert auf einer Standflche findet sowohl ein Vortrags forummit praxisnahen Prsentationen als auch eine Erlebnis-Sonderschau mit aus-gewhlten Exponaten und Vorfhrungen statt. Den Messebe suchern wirdsomit die Mglichkeit gegeben, sich ausfhrlich anhand der verschiedenenExponate und Fachvortrge ber die CT-Technologie, deren prinzipielleFunktionsweise, Einsatzmglichkeiten sowie Vor zge und Grenzen, zu in -formieren. Dabei wird das gesamte Spek trum der Datenverarbeitungs ketteund -auswertung abgedeckt, z. B. Software zu den Themen Materialprfung,Materialanalyse, messtechnische Auswertungen, Reverse Engineering undweitere spannende Anwendungsfelder der industriellen Computertomographie.

    Wir laden Sie dazu herzlich ein!

    Stuttgart, im Mai 2011

    Die Institutsleitung

    Prof. Dr.-Ing. Prof. e.h. Dr.-Ing. e.h. Dr. h.c. mult.Engelbert Westkmper

    Prof. Dr.-Ing. Dr. h.c. Alexander Verl

  • Programm VortragsforumDienstag, 3. mai 2011sitzungsleitung: ira effenberger

    9.45 Uhr Ira Effenberger, Fraunhofer IPAeinfhrungsvortrag: computertomographie im industriellen einsatz

    10.00 Uhr Stephanie Adolf, GOM mbH3-d-Form- und maanalyse von ct-scandaten mit gom Inspect Professional

    10.20 Uhr Detlef Ferger, Ingomar Schmidt, Werth Messtechnik GmbHVom rntgenbild zum messergebnis mit Win Werthrckfhrbar und wirtschaftlich messen

    10.40 Uhr Peter Ernst, Quality Analysis GmbHVorteile durch einsatz der industriellen computer -tomografieMehrwert durch bessere und schnellere Produkt- undProzessentwicklung

    11.00 Uhr Alexander Flisch, Empa20 Jahre industrielle computertomographie an der empa

    11.20 Uhr Volker Junior, phoenix GmbH & Co. KGsehen, was passiertMit anwendungsoptimierter Kombination aus 3-D-Digitalisierungund Software zu besseren Produkten und Prozessen

    14.00 Uhr Alexander Nolte, CADFEM GmbHbildgebende Verfahren als basis fr die Fem-simulation

    14.20 Uhr Roland Frwis, Renko Dieling, Carl Zeiss IMT GmbHmit bewhrter computertomographie fit fr die Zukunft

    14.40 Uhr Hans-Peter Duwe, Duwe-3d AGautomatisierte auswertung von ct-daten undserienmessungen in PolyWorks

    15.00 Uhr Matthias Elter, Siemens AGcera hardware-beschleunigte rekonstruktion undVisualisierung fr die industrielle computertomographie

    15.20 Uhr Jrgen Stephan, Siemens AGkompensation von abweichungen der achsen-geo metriebei industrieller tomographie mit dem cmP-modul voncera

  • Programm Vortragsforummittwoch, 4. mai 2011sitzungsleitung: ira effenberger

    9.45 Uhr Ira Effenberger, Fraunhofer IPAeinfhrungsvortrag: computertomographie im industriellen einsatz

    10.00 Uhr Alexander Nolte, CADFEM GmbHbildgebende Verfahren als basis fr die Fem-simulation

    10.20 Uhr Hans-Peter Duwe, Duwe-3d AGautomatisierte auswertung von ct-daten undserienmessungen in PolyWorks

    10.40 Uhr Renko Dieling, Roland Frwis, Carl Zeiss IMT GmbHmit bewhrter computertomographie fit fr die Zukunft

    11.00 Uhr Detlef Ferger, Ingomar Schmidt, Werth Messtechnik GmbHVom rntgenbild zum messergebnis mit WinWerthrckfhrbar und wirtschaftlich messen

    11.20 Uhr Stephanie Adolf, GOM mbH3-d-Form- und maanalyse von ct-scandaten mit gomInspect Professional

    14.00 Uhr Holger Scherl, Siemens AGrekonstruktion und Visualisierung von teravoxel-Volumina in der computertomographie mit cera

    14.20 Uhr Jrgen Stephan, Siemens AGkompensation von abweichungen der achsen-geometrie bei industrieller tomographie mit dem cmP-modul von cera

    14.40 Uhr Alexander Flisch, Empa20 Jahre industrielle computertomographie an der empa

    15.00 Uhr Volker Junior, phoenix GmbH & Co. KGsehen, was passiert Mit anwendungsoptimierter Kombination aus 3-D-Digitali sierungund Software zu besseren Produkten und Prozessen

    15.20 Uhr Peter Ernst, Quality Analysis GmbHVorteile durch einsatz der industriellen computer -tomografieMehrwert durch bessere und schnellere Produkt- undProzessentwicklung

  • Programm VortragsforumDonnerstag, 5. mai 2011sitzungsleitung: Julia Kroll

    9.45 Uhr Julia Kroll, Fraunhofer IPAeinfhrungsvortrag: computertomographie im industriellen einsatz

    10.00 Uhr Peter Ernst, Quality Analysis GmbHVorteile durch einsatz der industriellen computer -tomografieMehrwert durch bessere und schnellere Produkt- undProzessentwicklung

    10.20 Uhr Thomas Lthi, Empa 20 Jahre industrielle computertomographie an der empa

    10.40 Uhr Volker Junior, phoenix GmbH & Co. KGsehen, was passiertMit anwendungsoptimierter Kombination aus 3-D-Digitali sierungund Software zu besseren Produkten und Prozessen

    11.00 Uhr Steffen Hachtel, F & G Hachtel GmbH & Co. KGcomputertomographie in der kunststoffverarbeitungund im Werkzeug- und Formenbau

    11.20 Uhr Dr. Oliver Wirjadi, Fraunhofer ITWM3-d-charakterisierung von Verbundwerkstoffen

    14.00 Uhr Detlef Ferger, Ingomar Schmidt, Werth Messtechnik GmbHVom rntgenbild zum messergebnis mit WinWerthrckfhrbar und wirtschaftlich messen

    14.20 Uhr Michael Salamon, Fraunhofer EZRTanwendungsspektrum der rntgentechnik fr dieIndustrie

    14.40 Uhr Stephanie Adolf, GOM mbH3-d-Form- und maanalyse von ct-scandaten mit gomInspect Professional

    15.00 Uhr Alexander Nolte, CADFEM GmbHbildgebende Verfahren als basis fr die Fem simulation

    15.20 Uhr Roland Frwis, Renko Dieling, Carl Zeiss IMT GmbHmit bewhrter computertomografie fit fr die Zukunft

  • 9.45 Uhr Julia Kroll, Fraunhofer IPAeinfhrungsvortrag: computertomographie im industriellen einsatz

    10.00 Uhr Detlef Ferger, Ingomar Schmidt, Werth Messtechnik GmbHVom rntgenbild zum messergebnis mit WinWerthrckfhrbar und wirtschaftlich messen

    10.20 Uhr Stephanie Adolf, GOM mbH3-d-Form- und maanalyse von ct-scandaten mit gom Inspect Professional

    10.40 Uhr Alexander Nolte, CADFEM GmbHbildgebende Verfahren als basis fr die Fem-simulation

    11.00 Uhr Volker Junior, phoenix GmbH & Co. KGsehen, was passiertMit anwendungsoptimierter Kombination aus 3-D-Digitali sierungund Software zu besseren Produkten und Prozessen

    11.20 Uhr Thomas Lthi, Empa20 Jahre industrielle computertomographie an der empa

    11.40 Uhr Peter Ernst, Quality Analysis GmbHVorteile durch einsatz der Industriellen computer -tomografieMehrwert durch bessere und schnellere Produkt- undProzessentwicklung

    Programm Vortragsforumfreitag, 6. mai 2011sitzungsleitung: Julia Kroll

  • Dipl.-rest. (fh) stephanie adolf GOM mbHBraunschweig

    renko DielingCarl Zeiss IMT GmbHOberkochen

    Dr. hans-Peter DuweDuwe-3d AGLindau

    Dipl.-math. ira effenbergerFraunhofer-Institut frProduktionstechnik undAutomatisierung IPAStuttgart

    Dr. matthias elter Siemens AGErlangen

    Peter ernstQuality Analysis GmbHDettingen/Teck

    Dipl.-ing. Detlef fergerWerth Messtechnik GmbHGiessen

    Dipl.-ing. alexander flischEmpa Materials Science & TechnologyDbendorf (Schweiz)

    Dipl.-ing. roland frwis Carl Zeiss IMT GmbHOberkochen

    Dipl.-ing. steffen hachtel F & G Hachtel GmbH & Co. KGAalen

    Dipl.-ing. bac. phil. Volker Junior phoenix GmbH & Co. KGGrbenzell

    Dipl.-inform. Julia KrollFraunhofer-Institut fr Produktionstechnik undAutomatisierung IPAStuttgart

    Dr. thomas lthi Empa Materials Science & TechnologyDbendorf (Schweiz)

    Dipl.-ing. (fh) alexander nolte CADFEM GmbHGrafing bei Mnchen

    Dipl.-ing. (fh) michael salamon Fraunhofer-EntwicklungszentrumRntgentechnik EZRTFrth

    Dipl.-inf. holger scherlSiemens AGErlangen

    Dr.-ing. ingomar schmidtWerth Messtechnik GmbHGiessen

    Dipl.-ing. Jrgen stephanSiemens AGMnchen

    Dr. oliver wirjadi Fraunhofer-Institut fr Techno- und Wirtschafts -mathematik ITWMKaiserslautern

    referenten

  • aussteller

    cadFem gmbhGrafing bei Mnchen,Deutschland

    Fraunhofer-Institut fr Produk tions technik undautomati sierung IPaStuttgart, Deutschland

    empa, swiss Federallaboratories for materialsscience and technologyDbendorf, Schweiz

    gom gesellschaft froptische mess technik mbhBraunschweig, Deutschland

    phoenix gmbh & co. kgGrbenzell, Deutschland

    Quality analysis gmbh Dettingen/Teck, Deutschland

    Werth messtechnik gmbhGieen, Deutschland