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Der Maßstab für Phased-Array, neu definiert Heller, großer Monitor Schneller, intuitiver Touchscreen Revolutionäre Schweißnaht- maske Prüfdatenspeicher mit großer Kapazität Schnelle Datenübertragung PHASED-ARRAY-PRÜFGERÄT OmniScan MX2 920-218A-DE

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Der Maßstab für Phased-Array, neu definiert• Heller,großerMonitor

• Schneller,intuitiverTouchscreen

• RevolutionäreSchweißnaht-maske

• PrüfdatenspeichermitgroßerKapazität

• SchnelleDatenübertragung

PHASED-ARRAY-PRÜFGERÄT

OmniScan MX2

920-218A-DE

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Seit über zehn Jahren nimmt Olympus eine führende Stellung im Markt der modularen zfP-Konsolen ein. Mit einer großen Vielzahl von Geräten im weltweiten Einsatz ist das OmniScan MX das bisher erfolgreichste, tragbare modulare Phased-Array Prüfgerät.

Auf solider Basis entwickeltDas OmniScan MX der zweiten Generation bietet eine erhöhte Produktivität, garantiert bessere Prüfergebnisse für manuelle und automatisierte Anwendungen durch eine schnellere Konfiguration, schnellere Prüf-zyklen und einfache Berichtsfunktionen. Darüberhinaus ist das neue OmniScan MX2 mit allen Vorgängermodellen sowie zunküftig geplanten Phased-Array-Modulen kompati-bel. Diese hochwertige, erweiterbare Basis-einheit stellt die zfP-Technologie der Zukunft für Vorreiter in der Phased-Array Prüfung dar.

Das OmniScan MX2 vereint die schnelle Verarbeitung von Daten und leistungsstar-ke Softwarefunktionen in einer tragbaren Basiseinheit.

Je schneller desto besser!Mit dem OmniScan MX2 im Arbeitsalltag schneller sein. Mit seiner neuen Schweiß-nahtmaske vereinfacht und beschleunigt das OmniScan MX2 die Konfiguration. Der Prüfvorgang kann ohne lange Verzö-gerung starten. Die innovative, schnelle Phased-Array-Benutzeroberfläche mit einem großen, hellen 10,4 Zoll LCD-Monitor mit Touchscreen-Funktionen und einer schnellen Datenübertragung, ermöglicht das zügige Abarbeiten der anstehenden Prüfaufgaben.

Robuster denn jeDas OmniScan MX2 entspricht jetzt der Schutzart IP 66. Es ist sturzgeprüft, spritzwas-sergetestet und kann in rauen Prüfumgebun-gen eingesetzt werden.

Mehr als ein Gerät – eine GesamtlösungDas OmniScan MX2 ist eine wichtige Kom-ponente zur Lösung von Prüfaufgaben. In Kombination mit anderen Geräten kann ein komplettes Prüfsystem konfiguriert wer-den. Olympus bietet eine breite Palette von Phased-Array Sensoren, Scannern, Analy-sesoftware und Zubehörteilen an. Damit ist es dem Nutzer möglich, sich sein anwen-dungsspezifisches Gerätesystem für seine Prüfaufgabe zusammenzustellen. Weiterhin bietet Olympus einen weltweiten, hoch-qualifizierten Service für Kalibrierung und Reparaturen der OmniScan Prüfgeräte durch Phased-Array Spezialisten an.

Der Maßstab für Phased-Array, neu definiert

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OmniScan MX2 in Originalgröße

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10,4 Zoll großer, heller Bildschirm

Der Touchscreen - die neue, innovative BenutzeroberflächeDer zukunftsweisende Touchscreen vereinfacht und beschleunigt die Navigation und verfügt über eine deutlich einfachere Texteingabe. Weiterhin sind die Cursor- und Blendeneinstellungen leichter und schneller zu bedienen.

Anzeige im VollbildmodusDie übersichtliche Vollbildanzeige des OmniScan MX2 bietet dem Prüfer erhöhten Sehkomfort und eine bessere Lesbarkeit aus der Entfernung. Die Vollbildanzeige steht im Prüf- und Analysemodus zur Verfügung.

SchweißnahtmaskeEin Assistent erleichtert das Erstellen von Schweißnahtmasken für die normenge-rechte Analyse und die Fehlerüberwa-chung im Volumen des Prüflings.

OmniScan MX2OmniScan MX

OmniScan MX

OmniScan MX2 Bildschirm 50 % größer

OmniScan MX

OmniScan MX2 Bildschirm 100 % heller

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Das modular aufgebaute PrüfgerätKompatibel mit alten und neuen Modulen Variable, anpassungsfähige Plattform für unterschiedlichste BedürfnisseJedes Olympus Phased-Array Modul, ob ein zuverlässiges, bewährtes oder ein Modell der zweiten Generation, kann an das OmniScan MX2 ange-schlossen werden. Das Gerät unterstützt ebenfalls zukünftige Software- und Phased-Array-Aktualisierungen mit Konfigurationen von 16:16 bis 32:128. Das OmniScan wächst also mit den Anforderungen des Anwen-ders und steigert damit die Wirtschaftlichkeit bei den Prüfaufgaben.

Modulkompatibilität OmniScan MX2 OmniScan MXOMNI-M-PA1664M ✔ ✔OMNI-M-PA1664 ✔OMNI-M-PA16128 ✔ ✔OMNI-M-PA16128PR ✔OMNI-M-PA32128 ✔ ✔OMNI-M-PA32128PR ✔ ✔OMNI-M-PA3232 ✔ ✔OMNI-M-UT ✔OMNI-M-ECT/ECA ✔Software-KompatibilitätMXU-3.X1 ✔MXU-2.X Konfiguration und Prüfdatendatei ✔ ✔

TomoView 2.9R71, 2 ✔ ✔1. Ältere Versionen sind mit dem OmniScan MX2 nicht kompatibel

2. Kompatibilität mit Prüfdatendateien, keine Datenerfassung

16:64 PA M 16:64 PA

16:128 PA

32:32 PA

32:128 PA

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Einfache Eingabe und NavigationTouchscreenDer 10,4 Zoll große, helle Bildschirm mit seinem revolutionären Touchscreen - der Neuheit bei tragbaren zfP-Geräten - beschleunigt die Navigation, vereinfacht die Eingabefunktionen und erleichtert die Cursor- und Blendeneinstellung.

Zoomen und Schwenken

Menüauswahl und Parametrierung

Texteingabe

Auswahl und Versetzen der Blenden

Mit der Zoom-Funktion können Sie einen bestimmten Bereich vegrößern. Im Zoom-Modus einfach einen Bereich mit dem Finger antippen und diagonal ziehen, es wird beim Loslassen sofort gezoomt.

Im Zoom-Modus kann das Fenster geschwenkt werden.

Durch einfaches Antippen navigieren Sie bequem durch Menüs, Untermenüs und Parameter.

Durch zweimaliges kurzes Antippen eines Parameters wird eine Tastatur eingeblendet, mit der Zahlen oder Buchstaben eingegeben werden können.

Im Cursor-Modus wird durch einmaliges Antippen der Cursor ausgewählt.Durch zweimaliges Antippen einer Position wird der Cursor in diese Position gebracht.

Im Blenden-Modus wird die Blende durch Antippen und Halten versetzt.

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KonfigurationAssistent für wesentliche Parameter:• Werkstoffauswahl aus einer Datenbank mit den

Schallgeschwindigkeiten für Longitudinal- und Transversalwellen; Konfiguration von flachen und gekrümmten Prüflingen

• Assistent zum Kopieren von Gruppen für die schnelle Konfiguration einer Prüfung mit zwei symmetrischen Sensoren

• Auswahl des Vorlaufkeils aus einer Datenbank von Olympus Vorlaufkeilen

• Automatische Sensorerkennung• Scanner-Konfiguration mit Offset, Abstrahlwinkel und

Sensorposition• Assistent für Phased-Array, konventionellen Ultraschall

und TOFD-Kanäle• Detaillierte interaktive Hilfe für jeden Schritt des

Assistenten• Schweißnahtmaske und RayTracing-Funktion

KonfigurationsgeschwindigkeitOmniScan MX

OmniScan MX2 50 % schneller

Anzeigeschwindigkeit in S-Bild und A-BildOmniScan MX

OmniScan MX2 300 % besser

JustierungJustierung mit einer NormDie unterschiedlichen Justierungs-Assistenten gewährleisten, dass jede Sendemodulierung in jeder Gruppe einem einka-naligen Prüfgerät mit konventionellem Ultraschall entspricht.

Justierungs-Assistenten• Justierungs-Assistenten leiten den Prüfer schrittweise

durch die Justierung der Schallgeschwindigkeit, des Vorlaufkeilvorlaufs, der Empfindlichkeit, der TCG, DAC und AVG

• Praktisch oder theoretisch ermittelte Empfindlichkeit und TCG-Kurven mit 2, 3 oder allen Schallbündeln für reelle oder interpolierte Justierung

• Einfache bedienerfreudliche Benutzeroberfläche, auf der für besondere Justieraufgaben alle Sendemodulierungen gleichzeitig angezeigt werden können

• Interaktives Hilfemenü mit detaillierten Illustrationen und Definitionen, kann für jeden Schritt des Assistenten aktiviert werden

Einrichtung des Prüfplans mit dem Sendemodulierungs-Assistenten

Justierung der Empfindlichkeit eines bestimmten Winkels bei Sektor-Scan

Justierung der Empfindlichkeit für alle Schallbündel bei Sektor-Scan

Einstellung der Ultraschallparameter mit der Zahlentastatur des Touchscreens

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Prüfung• Menü „Scan” für schnelles und einfaches Konfigurieren

der Prüfparameter für manuellen Linien-, Raster- oder schraubenförmigen Scan

• Weggebereinstellung für Prüfung mit Taktgeber auf einer oder zwei Achsen

• Konfiguration des C-Bildes für C-Bild der Amplitude oder der Position sowie Konfiguration der Anzeige

• Option zum Speichern der Daten von kompletten A-Bildern, S-Bildern und C-Bildern

• Layoutvorlagen erleichtern das Einrichten der Prüfung• IFF-Einstellung automatisch optimiert, auf maximale

Geschwindigkeit oder von Hand variabel eingestellt• Datenspeicherung auf Flash-Karte oder USB-

Speichermedien• Anzeige der Prüfdaten in Echtzeit mit der Möglichkeit,

Daten bei Einsatz eines Weggebers in beide Prüfrich-tungen zu überschreiben

• Benutzerfreundliche Schnittstelle für mechanische oder halbautomatische Scan-Systeme und einfache Rad-Weggeber

Impulsfolgefrequenz (IFF)OmniScan MX

OmniScan MX2 40 % besser

Speichern der Prüfdaten über USB-Anschluss (Geschwindigkeit)

OmniScan MX

OmniScan MX2 bis 400 % schneller

Maximale Dateigröße (Mb)OmniScan MX 160 Mb

OmniScan MX2 300 Mb

Analyse • Umfassendes Display-Menü mit Standard-Layouts für

mehrere Gruppen oder Prüfung mit mehreren Sensoren• Daten-, Referenz- und Messcursor zur Bestimmung der

Fehlergröße und für Berichte• Umfassende Messwert-Datenbank für Trigonometrie,

Fehlerstatistiken über die Achsen, Informationen über die räumliche Position, normengerechte Zulässigkeit, Korrosionsstatistiken usw.

• Alle Messwerte im Prüfmodus verfügbar beim Speichern des gesamten A-Bildes in der Prüfdatendatei, auch im Analysemodus

• Verknüpfte Darstellungen für die Analyse von A-Bildern, B-Bildern, S-Bildern und C-Bildern, für die Prüfung mit mehreren Gruppen und mehreren Sensoren

• Optimierte Layout-Vorlagen für schnelle und einfache Bestimmung der Länge, Tiefenlage und Höhe von Fehlern mit und ohne Norm

• Interaktive Änderung der Blendenposition, auch im Analysemodus

Fehlerfreie DatenverwaltungDie Daten werden auf einer SD-Speicherkarte abgelegt. Die erstellten Prüfdaten können so leicht auf einen Computer übertragen werden. Die SD-Karte kann eingelegt und heraus-genommen werden, ohne das Gerät ausschalten zu müssen. Die Daten können außerdem über den USB 2.0 Anschluss auf externe Speichermedien übertragen werden. Das OmniScan MX2 überträgt Daten bis 400 % schneller als das OmniScan MX (abhängig vom Gerät).

Oben: Prüfdaten ange-zeigt in TOFD-Ansicht

Rechts: Prüfdaten ange-zeigt mit zwei Phased-Array-Kanälen und einer TOFD-Ansicht

Anzeige der Fehler-indikationen mit der RayTracing-Darstellung bei der Schweißnaht-prüfung

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11-01-13 10:20

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OmniScan ReportReport Date Report Version File Name Inspection Date Inspection Version Save Mode

2011 / 01 / 11 MXU - 3.0B4T12 PV200steph2.opd 2010 / 12 / 20 MXU - 3.0B4T10 Inspection Data

OmniScan Type OmniScan Serial # Module Type Module Serial # Calibration Due Data File Name

N/AOMNI-

EQUX251C AMP127 OMNI-2037 2011/8/12 File####

Group 1

SetupA:70.00 Sk:090 L:001Beam Delay Start (Half Path) Range (Half Path) Max. PRF Type

Averaging Factor

22.1 us11.70 mm 61.40 mm 35

PA1

Scale Type Scale Factor Video Filter Pretrig. Rectification Filter

Compression 12Off

0.00 µsFW

None 0.50 - 19.00 MHz

VoltageGain

ModeWave Type Sound Velocity Pulse Width

40 (Low) 40.35 dBPE (Pulse-Echo) Shear

3240.0 m/s 100.00 ns

Scan Offset Index Offset SkewC-scan time resolution

-81.00 mm -21.50 mm 90.0º10.0 ns

GateStart

WidthThreshold Synchro.

I0.00 mm

11.00 mm 20.00 %Pulse

A7.00 mm

15.00 mm 50.00 %Pulse

B72.71 mm 11.00 mm 30.00 %

Pulse

TCG Point Number Position (Half Path) Gain

10.00 mm

0.0 dB

211.98 mm 1.2 dB

317.88 mm 5.0 dB

CalculatorElement Qty. Used First Element Last Element Resolution Wave Type Material Velocity

161

321.0

Shear3240.0 m/s

Start Angle Stop Angle Angle Resolution Focal Depth Law Configuration

70.00ºN/A

N/A12.00 mm Linear

Page 9 sur 9

Indication # ScanIndex Group Channel A%

DA^ViA^

VsA^ A%DA^

U(m-r) S(m-r)

1109.00 mm -11.63 mm 2

55.00º 67.7 % 5.60 mm -1.77 mm 109.00 mm 67.7 % 5.60 mm 6.84 mm 33.00 mm

Comments

-

The RayTracing is only a graphical representation of the readings approved by the operator.

Technician Name

____________________________________________________________________________________________________________________

Technician Signature ____________________________________________________________________________________________________________________

Contractor____________________________________________________________________________________________________________________

Date

____________________________________________________________________________________________________________________

Fehlertabelle mit Daten von einer Verbundwerkstoffprüfung

TomoView kann OmniScan-Daten nachbearbeiten. Hier illustriert: Schweißnahtmaske, mehrere S-Bilder, C-Bild mit mehreren Schallbündeln und zusammengelegte A-Bilder mit Drauf- und Vorderansicht (letztere mit Anzei-ge der Umlenkungen).

Die TomoView-Software ergänzt die OmniScan-Gerätefamilie perfekt. Diese Software importiert OmniScan-Dateien präzise zur weiteren Bearbeitung und nachhaltigen Analyse.

• Anzeige von volumenkorrigierten Ansichten. Die Ansichten können völlig anwendungsspezifisch oder nach Vorlage eingerichtet werden.

• Korrigiert falsch eingestellte Prüfparameter (falscher Abstrahlwinkel, Index-Offset usw.) beim Einlesen der unbearbeiteten Daten ohne die ursprünglichen Daten zu ändern.

• Kann mehrere OmniScan Prüfdaten-Dateien importieren und zusammenlegen. Legt mehrere Gruppen zu einer zusammen, um die Auswertung zu vereinfachen.

JustierhilfenTomoView bietet ausgereifte Justierhilfen zur Simulati-on, Prüfung und Konfiguration des OmniScan.

• 2D-Matrix• Sender-Empfänger• Fokussier-Tool

Analysehilfen• Der TOFD-Manager führt TOFD-Justierungen,

Glättung und Beseitigung von Lateralwellen und die rekonstruktive Ultraschallabbildung mit synthetischer Apertur (SAFT-Rekonstruktionsverfahren) aus.

• Zusammenfügen von C-Bildern: Fügt C-Bilder aufgrund des Amplitudenmaximums oder -minimums oder der Laufzeit zusammen.

• Signal/Rauschverhältnis: Diese Analysehilfe berechnet die Bereiche in denen das Signal/Rauschverhältnis unter oder über einer bestimmten Schwelle liegt und zeigt sie im C-Bild an.

BerichteMit der TomoView-Software wird ein Bericht mit wenigen Mausklicks erstellt. Der Fehlertabelle können Fehler hinzugefügt werden. Die Fehlertabelle kann mit zusätzlichen Messwerten erweitert und jeder Fehlerin-dikation kann eine Notiz hinzugefügt werden.

Berichterstellung und Analyse der OmniScan-Daten mit der TomoView Software

BerichterstellungDas OmniScan MX2 prüft, analysiert und bietet die Mög-lichkeit der Berichterstellung direkt im Gerät oder offline auf einem Computer.

• Die mit dem OmniScan erstellten Berichte enthalten eine Fehlertabelle, welche bei Bedarf mit weiteren für jede Fehlerindikation spezifischen Messwerten und Notizen erweitert werden kann.

• Eine hochaufgelöste Darstellung des aktiven Bildschirms kann dem Bericht bei Bedarf als Bild hinzugefügt werden.

• Der vom OmniScan MX2 erstellte Bericht enthält die einschlägigen Parameter für das Gerät, die Software, die Justierungen, Ultraschallparameter, Phased-Array-Parameter, Scanner-Einrichtung und den Fehlerbericht.

• Bis acht Messwerte der ursprünglichen Konfiguration können mit der einfachen Umschaltfunktion des Touchscreens angezeigt werden.

• Berichte können im Gerät gelesen und gespeichert sowie als HTML-Dokument auf einem Computer gespeichert werden.

• Die Berichte können anwendungs- und kundenspezifisch eingerichtet werden. Zusätzlich sind Standardvorlagen vorhanden.

2-D TRL Phased-Array-Sensor {(Mehrzeilen-Scan)

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Typische AnwendungsbereichePrüfung von RundschweißnähtenDas OmniScan MX2 PA ist das Kernstück der von Olympus speziell für die Erdöl- und Erdgasindustrie entwickelten Prüflösungen für manuelle und halbautomatische Schweißnahtprüfungen in Um-fangsrichtung. Dieses Phased-Array-System ist für die Prüfung gemäß den Normen ASME, API und weiteren Normen zertifiziert. Das Omni-Scan MX2 bietet eine hervorragende Prüfgeschwindig-keit sowie Fehlererkennung und erleichtert damit die Auswertung der Fehlerindikationen.

Prüfung von Schweißnähten an DruckkesselnWird das OmniScan MX2 PA in Verbindung mit einem Motor-Scanner, wie z. B. dem WeldROVER eingesetzt, kann das System in einem Durchgang Schweißnähte an Druckkesseln komplett prüfen. Durch die Kombination von TOFD und PA in einem einzigen Prüfdurchgang, wird im Vergleich zum konventionellen Raster-Scan oder der Durchstrahlung erheblich Prüfzeit eingespart. Das Prüfer-gebnis steht sofort zur Verfügung. Dadurch können Fehler an einer Schweißausrüstung sofort erkannt und behoben werden.

Schweißnahtprüfung an dünnen RohrenZusammen mit dem COBRA-Handscanner prüft das OmniScan Prüfgerät Standardrohre mit Außendurchmessern von 0,84 Zoll bis 4,5 Zoll. Aufgrund der sehr schmalen Bauform kann dieser Hand-Scanner Rohre in Bereichen mit eingeschränktem Zugang prüfen. Der Abstand zu bestehenden Barrieren, wie z. B. andere Rohre oder Stützen muss nur 12 mm betragen.

Manuelle und halbautomatisierte Korrosionsprüfung Das OmniScan mit dem HydroFORM-Scanner bietet dem Prü-fer eine der besten Lösungen bei der Prüfung von Schäden an Wanddicken durch Korrosion, Abrasion und Erosion. Das System erkennt ebenfalls Schäden in der Wandmitte, wie durch Wasserstoff verursachte Schädigungen oder herstellungsbedingte Lamellierung und kann diese Anomalien leicht von Schäden an der Wanddicke unterscheiden. In diesem Anwendungsbereich zeichnet sich die Phased-Array-Ultraschalltechnik durch eine höhere Prüfgeschwin-digkeit, größere Punktdichte und bessere Fehlererkennung aus.

Prüfung von VerbundwerkstoffenAus Verbundwerkstoffen hergestellte Teile sind durch ihre unter-schiedlichen Formen und Dicken immer eine Herausforderung für den Prüfer. Olymus stellt komplette Lösungen für die Prüfung von kohlenstofffaserverstärkten Polymerstrukturen bereit. Diese Lösun-gen basieren auf dem OmniScan Prüfgerät, dem GLIDER-Scanner und spezifischen Sensoren und Vorlaufkeilen für die Prüfung von CFK-Platten und die Radiusprüfung.

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Entspricht folgenden Prüfnormen:Das OmniScan MX2 entspricht den gängigen Industrie-Normen darunter:

ASME Abschnitt V, Paragraph 4 AWSAlle Fälle von ASME Phased-Array API 1104 und API RP2XASTM E2700-09 CEN EN 583-6ASTM 2591 BSI BS7706ASTM E2491-06 …und mehr

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OmniScan MX2 BasiseinheitAbmessungen (B x H x T)

325 mm x 235 mm x 130 mm

Gewicht 5 kg (mit Prüfmodul und einem Akku)

Prüfdatenspeicher

SpeichermedienSDHC-Speicherkarte, die meisten Stan-dard USB-Speichermedien oder Fast-Ethernet

Größe der Prüfda-tendateien

300 MB

Eingänge/Ausgänge (Anschlüsse)USB-Anschlüsse 3Lautsprecher-ausgang

ja

Videoausgang Video Out (SVGA)Ethernet 10/100 Mbps

Eingänge/Ausgänge (Leitungen)

ImpulsgeberLeitung für Impulsgeber mit zwei Achsen (Quadratur aufsteigend, absteigend oder Zeitsteuerung/Richtung)

Digitaleingänge 4 TTL-Digitaleingänge 5 VDigitalausgänge 4 TTL-Digitalausgänge 5 V, 15 mAEin-/Ausschalter Aktivierung für Fernschaltung, TTL 5 VStromausgang 5 V, 500 mA (kurzschlussgeschützt)Alarme 3 TTL, 5 V, 15 mAAnalogausgang 2 Analogausgänge (12 Bit) ±5 V bei 10 kΩGeschwindigkeits-eingang

5 V TTL

AnzeigebereichAbmessungen des Anzeigebereichs

10,4 Zoll (26,4 cm) diagonal

Auflösung 800 Pixel x 600 PixelHelligkeit 700 cd/m2

Anzahl Farben 16 Millionen

ArtFlüssigkristallanzeige mit Dünnschicht-transistor (TFT-LCD)

StromversorgungAkkus intelligente Lithium-Ionen Akkus

Anzahl Akkus1 oder 2 (Akkutausch ohne Ausschalten des Gerätes möglich)

Betriebsdauer der Akkus

Mindestens 6 Stunden mit zwei Akkus

Betriebsbedingungen

Betriebstemperatur0 °C bis 45 °C; 0 °C bis 35 ºC mit 32:128 PA

Lagertemperatur–20 °C bis 60 °C (mit Akkus)–20 °C bis 70 °C (ohne Akkus)

Relative Luft-feuchtigkeit

0 % bis 85 % nicht kondensierend, keine Außenluftansaugung; entspricht IP 66

StoßsicherheitSturz-/Fallgeprüft nach MIL-STD-810G 516.6

Phased-Array-Module (OMNI-M-PA16128*)

Abmessungen (B x H x T)

244 mm x 182 mm x 57 mm

Gewicht 1,2 kg

Anschlüsse1 OmniScan-Anschluss für PA-Sensoren,2 BNC-Anschlüsse für UT-Prüfköpfe

Anzahl Sendemodu-lierungen

256

Sensorerkennung automatische Erkennung

Impulsgenerator/EmpfängerApertur 16 ElementeAnzahl Elemente 128 Elemente

ImpulsgeneratorSpannung 40 V oder 80 V pro ElementImpulsbreite einstellbar von 30 ns bis 500 ns, Auflösung 2,5 nsImpulsform negativer RechteckimpulsImpedanz (Ausgang) unter 25 Ω

Empfänger

Verstärkung0 dB bis 74 dB, maximales Signal am Eingang 1,32 V Spitzenspannung

Impedanz (Eingang) 75 ΩBandbreite des Systems

0,75 MHz bis 18 MHz (–3 dB)

SchallbündelbildungArt des Scans Sektor- oder Linien-ScanAnzahl Gruppen bis 8Aktive Elemente 16*Elemente 128

PrüfdatenerfassungDigitalisierfrequenz 100 MHz (10 Bit)Maximale Impulsfrequenz

bis 10 kHz (C-Bild)

PrüfdatenverarbeitungPrüfdatenpunkte bis 8000Mitteln in Echtzeit 2, 4, 8, 16Gleichrichtung HF, Vollwelle, negative oder positive Halbwelle

FilterTiefpassfilter (an die Sensorfrequenz angepasst), Digitalfilter (Bandbreite, Frequenzbereich)

Videofilter Glättung (an die Prüfkopffrequenz angepasst)

Darstellung der PrüfdatenAnzeigegeschwin-digkeit des A-Bilds

60 Hz in Echtzeit

Synchronisationmit internem Taktgeber

1 Hz bis 10 kHz

mit Impulsgeber 1 oder 2 Achsen

Programmierbare zeitkorrigierte Verstärkungsregelung (TCG)

Anzahl Prüfpunkte16 (1 TCG-Kurve pro Kanal für Sendemodulierungen)

AlarmeAnzahl Alarme 3Alarmbedingungen alle logischen Kombinationen der BlendenAnalogausgänge 2* Ebenfalls erhältlich Modelle 16:16, 16:64, 16:64M, 32:32 und 32:128.

Technische Daten

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Stock Road, Southend-on-Sea, Essex SS2 5QH, Großbritannien Tel: (44) 1702 616333

Wendenstraße 14-18 20097 Hamburg, Tel.: (49) 40-23773-3202

OLYMPUS AUSTRIA GES.M.B.H.Shuttleworthstraße 25, 1210 Wien, Tel: (43) 1 29101-248

OmniScan_MX2_DE_A4_201107 • Printed in Germany • Copyright © 2011 Olympus NDT. Technische Änderungen vorbehalten. Alle Firmen- und Warennamen sind Warenzeichen oder eingetragene Warenzeichen des jeweiligen Eigentümers oder eines Dritten.

istfürISO9001und14001zertifiziert.

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[email protected]@olympus.at

Globale Präsenz, lokale UnterstützungOlympus hat ein ausgedehntes Netz von Niederlassungen und Handelsvertretungen in vielen industriellen Regionen der ganzen Welt. Antworten auf Ihre Fragen zu Produkten, Anwendungen, Ausbildung und Technologien sind nur einen Anruf oder eine E-Mail von unseren qualifizierten Mitarbeitern entfernt.

KundendienstOlympus ist entschlossen den besten technischen Support und Kundendienst zu bieten, um Ihre Probleme schnell und kompetent zu lösen. Unsere professionellen Service-Center konzentrieren sich darauf, den Anwender über die gesamte Lebensdauer (z. B. Servicefall, Repara-tur, Kalibierung) der Geräte zu begleiten und zu unterstützen.

Olympus NDT AusbildungszentrumDas Olympus NDT Ausbildungszentrum bietet ein komplettes Angebot von Kursen in der Phased-Array-Technik und den Anwen-dungen an. Die Kurse reichen von einer zweitägigen „Einführung in Phased-Array” bis zum 14-tägigen eingehenden Kurs „Level II Phased-Array”. In allen Kursen haben die Teilnehmer Gelegenheit, praktische Übungen mit dem tragbaren OmniScan Phased-Array System durchzufühern.

Die Kurse werden in den Ausbildungszentren unserer Partnerfirmen sowie auch vor Ort beim Kunden durchgeführt. Die Kurse (Inhalte und Ort der Schulung) können speziell an Kundenbedürfnisse angepasst werden.

Web-Tutorial Die von Olympus angebotenen Tutorials führen Sie in die Grund-kenntnisse der Prüftechniken ein, in denen die Olympus Geräte und Sys-teme hauptsächlich genutzt werden. Die Tutorials erklären ebenfalls die wichtigsten Anwendungsbereiche in den verschiedenen Branchen, in denen die Olympusgeräte eingesetzt werden.

Phased-Array ReferenzhandbuchOlympus hat für Kunden und für andere an der Phased-Array Technik Interessierte, ein neues Phased-Array Referenzhand-buch herausgegeben. Diese leicht zu verstehende Einführung in die Prüfung mit Ultraschall Phased-Array eignet sich für Neuanfänger und erfahrene Prüfer, die die Grundsätze der Phased-Array-Prüfung wieder auffrischen wollen. Der Inhalt des Buches führt über die Erklärung der Phased-Array-Prüfung und ihrer Vorteile, stellt Überlegungen über die Auswahl von Sensoren und Geräten an und schließt mit Referenzen sowie einem Phased-Array-Glossar.

Das kostenlose Referenzhandbuch erhal-ten Sie bei Ihrer Olympus-Vertretung.

Wie funktioniert Phased-Array? – PosterZur fachlichen Unterstützung der stetig wachsenden zfP-Gemein-schaft, hat Olympus das Poster „Wie funktioniert Phased-Array?” herausgegeben. Dieses Poster wurde von Spezialisten mit prak-tischer Erfahrung entworfen und stellt die Phased-Array-Prüftech-nik kurz und klar in illustrierter Form dar.

Dieses kostenlose Poster erhalten Sie auf Anfrage bei Ihrer Olym-pus-Vertretung oder über eine Bestellung auf unserer Website.

NDT Field Guides

Phased Array Testing

Basic Theory for

Industrial Applications

Copyright © 2006–2009 by Olympus NDT. All rights reserved.

920-172A_EN - Poster_PA_EN_200906

RA, PA, DA, and SA readings allow the user to accurately

position the defect in real time during an inspection.

RA: Reference point to the indication in gate A

PA: Probe front face to the indication in gate A

DA: Depth of the indication in gate A

SA: Sound-path length to the indication in gate A

For manual inspections, real-time readings are essential to quickly position the reflected signal source with

respect to the part geometry and/or probe location.

PA

SA

DA

RA

Top

Bottom

Top45°

T1

B0

Distance-amplitude curves (DAC) used to create

the time-corrected gain (TCG)

www.olympus-ims.com The leader in phased array technology for more than a decade

PA probeDelay (ns)

Angle steering

Incident wave front

t0t1t2t3tn

Acquisition time

EmissionReception

Pulse-echo

=PA probe

Delay (ns)

Transmitting

delays

Receiving delays

and sum

Probe elements

Pulses

Incident wave front

Reflected wave front

Trigger Flaw

Flaw

Echo signals

Emitting

Acquisition unit

Receiving

Phased array unit

e

g p

A

n = 8Wpassive

Scanning direction

Active group128

1

16

θ

Electronic linear scanning

With electronic scanning, a single focal law is multiplexed across

a group of active elements; scanning is performed at a constant

angle and along the phased array probe length (aperture). This

is equivalent to a conventional ultrasonic transducer performing

a raster scan for corrosion mapping or shear-wave inspection. If

an angled wedge is used, the focal laws compensate for different

time delays inside the wedge.

Sectorial scanningWith sectorial scanning (also called azimuthal or angular

scanning), the beam is moved through a sweep range for a

specific focal depth, using the same elements; other sweep

ranges with different focal depths may be added. The angular

sectors may have different values.

Dynamic depth focusing

Dynamic depth focusing (DDF) is a programmable, real-time array

response-on-reception accomplished by modifying the delay,

gain, and excitation of each element as a function of time. DDF

replaces multiple focal laws for the same focal range created by

the emitted beam with separate “focused beams” at the receiving

stage. In other words, DDF dynamically changes the focal distance

as the signal returns to the phased array probe. DDF significantly

increases the depth of field and signal-to-noise ratio.

Scanning Patterns

Phased Array ProbesLinear arrays are the most commonly used phased array probes for industrial applications. Thus, one of

the important features of linear arrays is the active probe aperture.

The active aperture (A) is the total active probe length. Aperture length is given by the following formula:

A = (n – 1) • p + ewhere n = Number of elements in the PA probe

p = Elementary pitch—distance between the centers of

two adjacent elements

e = Element width—width of a single piezocomposite

element (a practical value is e < λ/2)

g = Gap between adjacent elements

λ = v f

where λ = Wavelength

v = Material sound velocity

f = Frequency

understanding

Linear

Convex

Skewing

1.5-D array

Concave

Variable angle

2-D array

Annular

Dual linear

Internal focus

Dual 1.5-D

Phased array probes are made in a variety of shapes and sizes for

different applications. A few types are illustrated here:

Types of ProbesAngle Beam

Angle beam probes are used with a

removable or integrated wedge to transmit

a refracted shear or longitudinal wave into

a test piece. They are designed for a wide

range of applications and can be used to

vary the refracted beam angle or the skew

of the beam, depending on the wedge

orientation. The probe face is acoustically

matched to the wedge material.

Integrated Wedge

This variation of an angle beam probe

integrates the wedge into the probe

housing. The wedge configuration is fixed

but offers smaller overall dimensions.

Near Wall

The near wall probe is specifically designed

to minimize the dead zone at probe ends

by reducing the distance between the last

available element and the external edge of

the housing. This probe type is useful for

composite radius and corner inspections,

or any application requiring close contact

to a wall using a 0° wedge.

Immersion

Immersion probes are designed to

be used with a water wedge or in an

immersion tank when the test part is

partially or wholly immersed. The water

acts as a uniform couplant and delay line.

Immersion probes are longitudinal-wave

probes that can be set up for refracted

shear-wave inspection under water.

Immersion probes are mostly intended

for automated inspections.

2-D and 1.5-D ArraysTwo-dimensional arrays have multiple

strips of linear arrays to allow electronic

focusing and steering in both probe

axes. 2-D arrays have the same number

of elements in both dimensions,

whereas 1.5-D identifies probes with

any combination of uneven numbers of

elements. The probes can be used for

achieving optimal focusing capability or

to cover a defined area without probe

movement.

Dual ArraysTwo linear or two 1.5-D array probes can

be positioned on a roof-angled wedge

with a transmitting probe. The probe is

paired with a receiving equivalent for

optimal performance in noisy materials

such as austenitic steel. This configuration

is a phased-array equivalent to a dual-

element probe in conventional UT and

is widely used in the power-generation

industry.

Basic ConceptsThe distinguishing feature of phased array ultrasonic testing is the computer-controlled excitation (amplitude

and delay) of individual elements in a multielement probe. The excitation of multiple piezocomposite elements

can generate a focused ultrasonic beam with the possibility of dynamically modifying beam parameters such as

angle, focal distance, and focal spot size through software. To generate a beam in phase by means of constructive

interference, the various active transducer elements are pulsed at slightly different times. Similarly, the echo from

the desired focal point hits the various transducer elements with a computable time shift. The echoes received by

each element are time-shifted before being summed together. The resulting sum is an A-scan that emphasizes the

response from the desired focal point and attenuates echoes from other points in the test piece.

Examples of focal laws

Delay (ns)

Incident wave front

PA probe

Defect Positioning

Acquisition without DDF Acquisition with DDF

Illustration of beam focusingIllustration of beam steering

0

20

40

60

80

100

120

140

0 4 8 12 16 20 24 28 32

Element number

Tim

e d

elay

[ns]

FD = 15

FD = 30

FD = 60

FD = 15

FD = 30

FD = 60

Delay values (left) and depth scanning

principles (right) for a 32-element linear

array probe focusing at 15-mm, 30-mm,

and 60-mm longitudinal waves.

Electronic linear scanning

Sectorial scanning

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Phased array training is available from

professional companies.

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70°

60°

45°

70°

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70°

60°

45°

Time-Corrected Gain

In order to cover the whole volume of the part with

consistency, each focal law has to be calibrated for

attenuation and beam spread. This time-corrected-

gain (TCG) calibration can be performed with a

calibration block having several identical reflectors

(for example, side-drilled holes) at different depths.

Using a sectorial scan, the probe is moved back

and forth so that each beam hits each reflector. The

amplitude of each signal is recorded (DAC) and

used to construct one TCG curve per focal law.

Once the TCG calibration is completed, each focal law has one individual TCG curve. As

a consequence, a reflector will always yield the same signal amplitude, regardless of its

position inside the part and of the beam that detected it. A defect at 3 mm in depth detected

with an angle of 45 degrees will provide the same signal amplitude as if it were at 10 mm and

detected at 60 degrees.