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Jens Weingarten
L ABSiliz ium Labor Bonn
S I
System Tests und Rausch-Untersuchungen am
ATLAS Pixel Detektor
-LHC und ATLAS-Pixel Detektor-System Test-Rauschen
Promotionskolloquium 19.09.2007
Jens Weingarten2
Der Large Hadron Collider
Proton-Proton ColliderCM-Energie: 14 TeVKollisions-Frequenz: 40 MHzLuminosität: 1034 cm-2 s-1
Dipole, montiert im LHC-Tunnel, August 2007
Protonen pro „Bunch“: 1.15 x 1011
Strahlstrom: 0.582 AUmfang: 26.7 km
Promotionskolloquium 19.09.2007
Jens Weingarten3
ATLAS
Mehrzweck-Detektor Systemschalenförmiger Aufbau
•Tracking Detektor in 2T Solenoid-Feld•elm. Kalorimeter•hadron. Kalorimeter•Myon Spursystem in ~1T Toroid-Feld
44m lang 22m hoch7000t
Anforderungen:sehr gute elm. Kalorimetriepräzise Myon-Impuls Messungeffizientes Trackingsehr gute Hermetizität
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Jens Weingarten4
Der ATLAS Pixel Detektor
3 Zylinderlagen
2 x 3 Disk Lagenin Vorwärtsrichtung
•50x400 µm² Pixel•80 Mio. Auslesekanäle •Auflösung: 8.4 µm in R, 112 µm in z•innerste Lage bei R=5 cm•1744 Pixel Module•3 Spurpunkte für ||<2.5
•hohe Granularität erlaubt zuverlässige Auslese bei hoher Spurdichte (~23 Kollisionen/Bunch; ~1600 geladene Spuren pro 25ns)
•wirkliche 2d Ortsbestimmung keine Ambiguitäten bei hohen Teilchenflüssen
•exzellente Ortsauflösung nötig für genaue Spurrekonstruktion
•präzise Messung sekundärer Vertices b-tagging (wichtig in Higgs- und SUSY-Suchen) B-Physik (Unterdrückung kombinator. Untergründe)
Warum Pixel?
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Pixel Modul
FE-Chip FE-Chip
sensorMCC-Silizium Sensor (2 x 6 cm²)
-2 x 8 Auslese Chips (á 2880 Pixel)-Flex-Hybrid mit Pigtail oder Kabel-Module Control Chip (MCC)
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Analoge Pixel Zelle des Auslesechips
Feedback7-bit
TuneDAC(TDAC)
Ladungs-injektion
Diskriminator
Feinjustierung der
Schwelle pro Pixel
ladungs-empfindlich
erVerstärker
Schwelle
TOT ~ Ladung
Aluminium
p +
n +
Aluminium
geladenesTeilchen
+ -
+ -
+-
digitale Trefferverarbeitung,
-auslese
ermöglicht Kalibrierung
s-messungen
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Der ATLAS Pixel Detektor
Barrel: 13 Module pro Stave
Disks: 6 Module pro Sektor
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System Test
Der System Test
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System Test: Was ist das?
Man nehme so viele endgültige Komponenten des fertigen Systems und versuche, sie zusammen zu betreiben.
Auslese Spannung-Genauigkeit-Stabilität Störungen von außen? Erdungsschema?-Ein/Ausschalt- Prozedur
Überwachung-Genauigkeit (T,V,I)-Interlock Timing-ParameterDetektor- Sicherheit?
Kühlung-Ein/Ausschalt- Prozedur-Kühlleistung-StabilitätDetektor- Sicherheit?
Detektor: -Kalibrationsmessungen -Vergleich mit Produktion Änderung im Verhalten der Module?
-Rauschmessungen
Durchgeführt April 2006 – Januar 2007 am CERN; Aufbau entsprach ~10% des vollen Detektors
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System Test Setup
DetektorEndkappe A (um 90° rotiert)144 Module
SpannungÜberwachun
gAuslese
Kühlung
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Schwellenscan
Ladungsinjektion in den Vorverstärker #Treffer gegen Ladung ergibt Gaussche Fehlerfunktion Test der Funktionalität der analogen und digitalen Pixel- elektronik Information über die Diskriminator- schwelle und das elektronische Rauschen in jedem Pixel
DER wichtigste Test zur Charakterisierung der analogen Leistung eines Moduls
Kalibrierungsmessungen: Schwellenscan
50%
QSchwelle
70%
30%
Promotionskolloquium 19.09.2007
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System Test: Schwellenscan
SchwelleMittelwert: 4001 e
Sigma: 32 e
Rauschen: ~160 e
Schwellenverteilung Rauschverteilung
Werte für 46080 Kanäle auf einem Modul
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System Test: Schwellenscan4002 +/- 1,3 e-
33 +/- 1 e-
166 +/- 8,5 e-
Schwelle, Dispersion und Rauschen für 119 Module einige Module konnten nicht gescannt werden:Schwierigkeiten mit Spannungsversorgung und optischem Link
sehr gute Uniformität
Schwelle
Dispersion
Rauschen
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Rauschen
Rauschen soll klein sein, denn zu viele Rauschtreffer…
•senken die Ortsauflösung•verschlechtern die Rekonstruktion von Spuren und sekundären Vertices senkt B-Tagging Effizienz•erhöhen die Datenrate senkt Nachweiseffizienz für wirkliche Teilchen•erzeugen starke Aktivität der digitalen Elektronik Crosstalk, Rausch-Einkopplung in andere Module
Warum explizite Rauschuntersuchungen?1. Viele Module auf engem Raum (Kopplung über Trägerstrukturen? Übersprechen?)2. Viele externe Systeme (Einkopplung in lange Kabel? Übersprechen zwischen Systemen?)3. Kompliziertes Erdungsschema (Erdschleifen? Kopplung verschiedener Versorgungskanäle?)
Spezialisierte Messungen (Common Mode Rauschen, Minimale Schwelle)
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Common Mode Rauschen
Messung von Common Mode Rauschen im Pixel Detektor nicht-trivial:
- keine sicher CM-freie Referenzmessung möglich (Einkopplung kann nie ganz ausgeschlossen werden)- Rauschen aus Schwellenscan nicht sehr sensitiv (gesamt² = Ein-Kanal² + CMN²)- Rauschen ist sehr klein Messung der Rausch-Okkupanz langwierig
zwei Messmethoden wurden entwickelt-schnell, um Common Mode Rauschen zeitlich aufgelöst messen zu können-benötigen keine Referenz-Messungen
Analysen benutzen die Korrelation des Rauschens vieler Kanäle
Common Mode Rauschen: -korrelierte Störung auf vielen Kanälen (z.B. Einkopplung von aussen) verfälscht Ladungsinformation (TOT) reduziert Nachweiseffizienz
-kann bei binärer Auslese nicht vom Signal subtrahiert werden muss im Betrieb vernachlässigbar sein
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Common Mode Rauschen
Methode I: #Treffer pro Injektion Ne
- injiziere in n Pixel so, dass Trefferwahrscheinlichkeit = 50% (injizierte Ladung = Ladung an der Schwelle)
Verteilung der Treffer pro Injektion (Ne) um n/2
ohne CMN: Breite ≤ n/4 (Binomial-Verteilung) mit CMN: Breite > n/4 (aufgrund der Kohärenz)
Breite der Ne Verteilung ist ein Maß für das Common-Mode Rauschen
Details in NIM A 516, p. 153 & NIM A 487, p. 557
Simulation
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Common Mode Rauschen
Methode II: <ToT> pro Injektion-injiziere in n Pixel mit grosser Ladung (10.000 e-)-Information über Ladung: TOT -mittele TOT aller Pixel für eine Injektion:<TOT>=a*(<Q>+<Rauschenuncorr.>+<Rauschencorr.>)+<Offset>
Breite proportional zu <Rauschencorr.>
Breite der Verteilung der <ToT> ist ein Maß für das Common Mode Rauschen
Simulation
zufällige Einheiten
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0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
1 10 100 1000 10000
Frequenz [kHz]
Com
mon
Mod
e R
ausc
hen
[e]
threshold scanHITOCC scanTOTAVERAGE
Common Mode RauschenBeide Methoden getestet durch externe Injektion eines Störsignals von 1kHz bis 10MHzBerechneter Common Mode Anteil stimmt mit zusätzlichem Rauschen im Schwellenscan überein
Methode ISchwellenscan
Methode II
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Common Mode Rauschen
Messungen wurden im System Test durchgeführt:
#Treffer pro Injektion 22 +/- 5 e-
<TOT> pro Injektion 41 +/- 15 e-
Messwerte zeigen einen vernachlässigbar kleinen Anteil des Common Mode Rauschens bei normaler Schwelleneinstellung
kein Anzeichen für Rausch-Einkopplung von außen:Erdungsschema (Kabel, Geräte)Abschirmung von Kabeln
Promotionskolloquium 19.09.2007
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Pixel‘rauscht‘
Rausch-Okkupanz
-ATLAS: Rausch-Okkupanz < 10-5
-zufällige Trigger, feste Frequenzbenötigt volle Datennahme-Hard/Software-16.8*106 Trigger in etwa 20min
sensitiv auf Rausch-Okkupanzen > 6*10-8
Rausch-Okkupanz bei nomineller Schwelle
RauschOkkupanz: 6.7*10-7
‘rauschende‘ Pixel: 0.011% klein im Vergleich zu Ineffizienzen durch Bump-Bonding und defekte Elektronik
häufigstes TOT=5;Ausläufer zu hohen TOTs
keine Cluster bzw. grosse rauschende Regionenkeine kohärenten Effekte
Trefferkarte
Clustergröße
TOT Spektrum
Okkupanz pro Pixel
Diese Ergebnisse entsprechen sehr gut dem Verhalten,welches man aus den Produktionstests erwartet undsind konsistent mit den CMN Messungen vorher
Promotionskolloquium 19.09.2007
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Rausch-Okkupanz bei minimaler Schwelle
Rausch-Okkupanzen lassen sich in drei Gruppen einteilen:Okkupanz < 3*10-4 3*10-4 < Okkupanz < 7*10-4 7*10-4 < Okkupanz
große Cluster kohärentes Rauschen
Treff
er-K
arte
nCl
uste
rgrö
ßen
Promotionskolloquium 19.09.2007
Jens Weingarten22
Rausch-Okkupanz bei minimaler Schwelle
Module homogen über Disks verteilt -kein Azimuthwinkel bevorzugt
mögliche Ursache: Einkopplung vom Daten/Versorgungskabel
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Jens Weingarten23
Zusammenfassung
System Test• System Test war ein Erfolg!• viel praktische Erfahrung mit dem Detektor-System gesammelt• Komponenten verhalten sich wie sie sollen (Versorgungsspannungen, Kühlung,
usw.)• keine Änderung im Verhalten der Module beobachtet
System verhält sich größtenteils wie erwartetDetektor kann gefahrlos betrieben werden
Rausch-Untersuchungen• Kohärentes Rauschen bei nomineller Schwelle vernachlässigbar
-tritt auf für niedrige Schwellen < 2500e-schnelle Messmethoden stehen zur Verfügung
• Rausch-Okkupanz bei nomineller Schwelle: 6.7*10-7
-kein Einfluss auf Spurrekonstruktion, Treffereffizienz
Promotionskolloquium 19.09.2007
Jens Weingarten24
Danke für Ihre Aufmerksamkeit
Promotionskolloquium 19.09.2007
Jens Weingarten25
System Test: Rausch-Okkupanz vs Schwelle
Referenz:3973 +/- 36e
3371 +/- 15e2722 +/- 35e
2392 +/- 54e
keine großen Änderungen in Okkupanz, Clustergröße, o.ä.bis zur minimalen Schwelle
Promotionskolloquium 19.09.2007
Jens Weingarten26
Minimale Schwelle
Starke Korrelation zwischenTDAC-Verteilung an der min. Schwelle undgetunter TDAC-Verteilung
alle Pixel fangen beim selben Scanschritt N an, zu rauschen
kohärenter Effekt (Einkopplung des Takt-Signals in die Pixel durch den Bulk des FE-Chips)
Gibt es weitere kohärente Effekte,die bisher nicht beobachtet wurden?
Untersuchung des Common Mode Rauschens
Promotionskolloquium 19.09.2007
Jens Weingarten27
System Test: Cosmics
erster Hinweis auf
Cosmics:
Rauschtreffer sind
gleichmässig über die 16
LVL1 Trigger verteilt;
Verzögerung von Cosmic-Treffern ist
festdie folgenden Folienstammen von verschiedenen OfflineLeuten
Zeit in Einheiten von 25ns
Promotionskolloquium 19.09.2007
Jens Weingarten28
Der ATLAS Pixel Detektor
Layer2Schale B-Layer,
untereHalbschale
Endkappe C
Promotionskolloquium 19.09.2007
Jens Weingarten29
Silizium als Sensor-Material
E h+
e-
Promotionskolloquium 19.09.2007
Jens Weingarten30
System Test: OptoBoard Messungen
fehlerfreie Daten-
übertragung(EFR)
Standard-Werkzeug BOC scan:Schwelle der PiN-Diode
gegenDelay zw. Daten und Takt
maximiere Region mitfehlerfreier Übertragung (EFR)
EFR abhängig von:-Laser-Leistung-Temperatur-Bitsequenz-MCC Bandbreite
Promotionskolloquium 19.09.2007
Jens Weingarten31
Das Kühlsystem
Erste Erfahrungen:
-Zwei-Phasen Kühlsystem-Betrieb-Überwachung-Stabilität-Leckrate
-Detektor-Strukturen an diesem System-Modultemperaturen (< -7°C, Annealing)-Abkühlzeiten
Promotionskolloquium 19.09.2007
Jens Weingarten32
OptoLink Messungen: Resultate
Ein wenig Statistik:1. Bandbreite 40 MBit/s
insgesamt 10 Kanäle nicht betreibbar: 7%2. Bandbreite 80 MBit/s
zusätzliche 20 Kanäle nicht betreibbar: 21%
Die Probleme:- Variation der Ausgangsleistung über die Kanäle eines OptoBoards- starke Abhängigkeit der Ausgangsleistung von Temperatur
Entwicklung des Heater-Systems- Einstellung der Ausgangsleistung für alle Kanäle eines Boards- Margen kleiner für 80 MBit/s
Inbetriebnahme des optischen Links nicht trivial, aber:•Parameter stabil gegen Zeit•Temperatur regelbar
•OptoBoards im System Test waren ausgesucht schlecht
Promotionskolloquium 19.09.2007
Jens Weingarten33
Kühlsystem: ResultateD3A <T> vs. Power
-26,00
-24,00
-22,00
-20,00
-18,00
-16,00
-14,00
-12,00
-10,000,00 5,00 10,00 15,00 20,00 25,00 30,00 35,00 40,00
Power (W)
Tem
pera
ture
(C)
absolute Temperatur gegen Modulleistung
-24
-10
liquid weight [kg]
0
5
10
15
20
25
30
35
40
6.12.06 0:00 7.12.06 0:00 8.12.06 0:00 9.12.06 0:00 10.12.06 0:00 11.12.06 0:00 12.12.06 0:00 13.12.06 0:00 14.12.06 0:00
time
kg
2.1 kg per 24h 0.09 kg/h
Leckrate
Zeit [d]
Kühl
mitt
el im
Sys
tem
[kg]
erwartete worst-case Leistung
• Gute Stabilität im Betrieb (bei vorschriftsmässiger Wartung)
• Ein-/Ausschaltprozeduren und –vorgänge verstanden (Druckschwankungen, Interlock,…)
• Modultemperatur < -7°C ist erreichbar (auch bei Leistungsaufnahme wie am Ende der Lebensdauer erwartet)
• C3F8 Verlustrate etwa 0.1 kg/h (wird in der finalen Installation noch geringer
werden; Wert ist akzeptabel)
sicherer Betrieb des Detektors ist möglich !
Promotionskolloquium 19.09.2007
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Das Pixel Detektor System
Pixel Detektor
Nebenkaverne ‘USA15‘
thermischer Schild, Faraday Käfig ‚Pixel Package‘‘Service Panel‘
OptoBoards
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BOC
RX
TX
Der optische Link
OptoBoard
PiN
VCSEL
DORIC
VDC
Modul
TTC Daten
ROD
VME
On-DetectorOff-Detector
optische Datenübertragung vom Detektor zur Auslese-Elektronik
•rauscharm, keine Buffer nötig (etwa 90m Entfernung)•TX Kanal (Timing, Trigger, Configuration) problemlos•RX Kanal (Event-Daten) nicht-trivial:
•Schwelle der PiN-Diode•Delay zw. Daten und BOC Takt•Ausgangsleistung des VCSEL
Promotionskolloquium 19.09.2007
Jens Weingarten36
Spezielle Pixel
Ganged-Pixel:Mit Pixeln unter dem
FE verbunden Auslese
Long-Pixel:Pixelgröße 50x600 µm 4
32143
2
1