PROGRAMM

6. GMM/GI/ITG-Fachtagung

25. - 27. September 2012Bremen

www.ZuE2012.de

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Herren Krishnendu Chakrabarty, Andreas Gerndt, JensHartmann, Lars Hedrich, Mehdi Tahoori und FrauFonseca-Müller.

Weiterhin möchten wir der Universität Bremen, demDeutschen Forschungszentrum für Künstliche IntelligenzGmbH (DFKI) Bremen und dem DLR-Institut für Raum -fahrtsysteme Bremen für die Bereitstellung der Räumeund die Unterstützung bei der Organisation danken. DieFachtagung wird von den Firmen Robert Bosch GmbHund Concept Engineering GmbH finanziell unterstützt,wofür wir uns besonderes bedanken möchten.

Natürlich wäre die erfolgreiche Ausrichtung ohne dasstarke Engagement durch zahlreiche Mitarbeiterinnenund Mitarbeiter von DFKI, DLR und Universität Bremennicht möglich. Stellvertretend möchten wir uns bei LisaJungmann und Petra Tietjen bedanken. Wir wünschenIhnen allen eine schöne Zeit in Bremen mit zahlreicheninteressanten Gesprächen.

Rolf DrechslerDFKI und Universität BremenTagungsleitung

Görschwin FeyDLR und Universität BremenVorsitzender des Programmkomitees

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VorwortZuverlässigkeit und Entwurf 2012

Die Fachtagung „Zuverlässigkeit und Entwurf“ (ZuE) wird2012 in Bremen mit Unterstützung der Kooperationsge -meinschaft Rechnergestützter Schaltungs- und System -entwurf (RSS) der GI/GMM/ITG durchgeführt.

Eingebettete Systeme und Cyber Physical Systems, diedirekt mit der Umwelt interagieren, sind allgegenwärtig.Mikroelektronik definiert dabei die wesentliche Funktio-nalität. Deshalb muss die Zuverlässigkeit des Systemssichergestellt werden, wobei der Begriff Zuverlässigkeithier Korrektheit des Verhaltens, Robustheit gegenüberAusnahmesituationen und lange Lebensdauern umfasst.Dies setzt eine durchgehende Berücksichtigung allerSchritte vom Entwurf bis zum Ende des Betriebes vor-aus. Wirtschaftliche Aspekte wie Qualitätssicherung,Produkthaftung oder time-to-market sowie technischeAspekte wie Parametervariationen während der Produk-tion, komplexe System-on-Chip-Entwürfe oder analog/mixed-signal haben einen direkten Einfluss auf Entwurfs -entscheidungen. Deshalb besteht dringender Bedarf allediese Randbedingungen durch innovative Verfahren be -herrschbar zu machen.

Zu den Themenbereichen Entwurfsmethodik, Eingebet-tete Systeme, Analoge Schaltungen, Verifikation digita-ler Systeme, Beschreibungssprachen und Modellierung,Layoutentwurf, Testmethoden und Diagnose werdenwissenschaftliche Beiträge aus Theorie und industriellerPraxis vorgestellt. Alle präsentierten Beiträge wurdendurch das Programmkomitee nach Begutachtung aus-gewählt. Allen an diesem Prozess beteiligten Wissen-schaftlerinnen und Wissenschaftlern gilt unser Dank.

Auch in diesem Jahr werden zwei Tutorials auf dasThema einstimmen. Im Rahmen eingeladener Vorträgewerden Vertreter aus Industrie und Forschung ihre neu-esten Erfahrungen und aktuellen Fragen präsentieren.Darüber hinaus werden ein Panel zum Thema „Failuresin the Field: Design, Verification, or Test Problem?“ undein eingebettetes Tutorial zum Thema Testmethodikorganisiert. Daher gilt unser besonderer Dank den

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VeranstalterInformationen zur Tagung

VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM)

ITG (Informationstechnische Gesellschaft im VDE)

Stresemannallee 15, 60596 Frankfurt am Main& +49 (0)69-6308-227 +49 (0)69-6308-9828E-Mail: gmm@vde.com

Homepage der Veranstaltung: www.ZuE2012.de

Tagungsleitung

TagungsleiterRolf Drechsler, DFKI und Universität Bremen

Vorsitzender des ProgrammkomiteesGörschwin Fey, DLR und Universität Bremen

Organisationskomitee

Jürgen Alt Intel Mobile, MünchenBernd Becker Universität FreiburgOliver Bringmann FZI, KarlsruheManfred Dietrich FhG-IIS/EAS, DresdenKai Hahn Universität SiegenLars Hedrich Universität Frankfurt/MainAndreas Herkersdorf Technische Universität MünchenSebastian Sattler Universität Erlangen-NürnbergVolker Schanz VDE/ ITG, Frankfurt/MainUlf Schlichtmann Technische Universität MünchenJürgen Schlöffel Mentor Graphics Development

GmbH, HamburgRonald Schnabel VDE/VDI-GMM, Frankfurt/MainKlaus Schneider Universität KaiserslauternHans-JoachimWunderlich Universität Stuttgart

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Inhaltsverzeichnis

Veranstalter / Informationen zur Tagung . . . . . . . . . . . .5

Tagungsleitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .5

Organisationskomitee . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .5

Programmkomitee . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .6

Programm zur Fachtagung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .8

Tutorials . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .8

Eingeladene Vorträge . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .10

Tagungsort . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .13

Dienstag, 25.09.2012 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .14

Mittwoch, 26.09.2012 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .15

Donnerstag, 27.09.2012 . . . . . . . . . . . . . . . . . .18

Allgemeine Hinweise . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .19

Tagungsorganisation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .19

Anmeldung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .19

Teilnahmegebühren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .19

Bezahlung der Teilnahmegebühr . . . . . . . . . . .20

Stornierung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .20

Telefonische Erreichbarkeit . . . . . . . . . . . . . . . .20

Zimmerreservierungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . .20

Anreise . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .21

Abendveranstaltung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .23

Sponsoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .24

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C. Sebeke Robert Bosch GmbH, ReutlingenR. Sommer IMMS gGmbH, IlmenauA. Steininger Technische Universität WienJ. Teich Universität Erlangen-NürnbergR. Vahrmann Atmel Automotive GmbH, HeilbronnH. Vierhaus Brandenburgische Technische

Universität CottbusR. Wagner Robert Bosch GmbH, ReutlingenB. Wittig Volkswagen AG, Wolfsburg

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Programmkomitee

U. Abelein AUDI AG, IngolstadtW. Anheier Universität BremenM. Brandstetter Robert Bosch GmbH, StuttgartR. Brück Universität SiegenF. Dietz Telefunken Semiconductors GmbH

& Co KG, HeilbronnS. Eichenberger NXP Semiconductors B.V., Nijmegen,

NiederlandeP. Engelke Infineon Technologies AG, NeubibergR. Ernst Technische Universität BraunschweigM. Fischer Advantest Europe GmbH, BöblingenA. Garcia-Ortiz Universität BremenG. Georgakos Infineon Technologies AG, NeubibergH. Gräb Technische Universität MünchenC. Grimm Tu KaiserslauternTh. Harriehausen Ostfalia HochschuleB. Hoppe IBM DeutschlandJ. Kampe Fachhochschule JenaJ. Kelber Fachhochschule SchmalkaldenR. Krämer IHP GmbH, Frankfurt(Oder)W. Kunz Universität KaiserslauternJ. Lienig Technische Universität DresdenB. Michel Fraunhofer ENAS, ChemnitzK. Müller-Glaser Universität KarlsruheW. Nebel OFFIS e.V., OldenburgF. Oppenheimer OFFIS e.V., OldenburgS. Paul Universität BremenR. Pferdmenges Infineon Technologies AG, NeubibergF. Pöhl Intel Mobile Communications GmbH, I. Polian Universität PassauM. Porrmann Heinz-Nixdorf-Institut, PaderbornM. Radetzki Universität StuttgartM. Reuter Mentor Graphics Deutschland

GmbH, MünchenJ. Rivoir Advantest Europe GmbH, BöblingenF. Schenkel MunEDA GmbH, MünchenV. Schöber Gottfried Wilhelm Leibniz Universität

Hannover

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Tutorial BSitzungsleitung: L. Hedrich, Goethe Universität Frank-furt am Main

Bewertung und Optimierung der Robustheit mikro-elektronischer SystemeF. Salfelder, Goethe Universität Frankfurt,M. Olbrich, M. Kärgel, Leibniz Universität Hannover, M. Barke, Technische Universität München, M. Metzdorf, OFFIS - Institut für Informatik, Oldenburg,O. Bringmann, Eberhard-Karls Universität Tübingen

Alterungseffekt wie NBTI und HCI wurden für Transisto-ren, die in digitalen Schaltungen verwendete werden, ein -gehend untersucht. Die Auswirkungen auf die digitalenSyteme werden im 2. Teil des gesamten Tutorials einge-hend beleuchtet. Dieser Teil behandelt die Aus wirkungenauf analoge Schaltungsteile: Die physi kalischen Effektewerden kurz vorgestellt und dann so modelliert, dass sieauch bei analogen Eingangssignalen plausibles Schädi -gungsverhalten aufweisen. Zusätzlich wird eine Methodeangegeben, wie das Schädigungs verhalten effizient über10 Jahre vorausberechnet werden kann. Die Methodenwerden mit einigen analogen Beispielen unterfüttert.

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Programm zur Fachtagung

Tutorial ASitzungsleitung: R. Pferdemenges, Infineon Technolo-gies AG, Neubiberg

Demystifying Board-Level Test and Diagnosis:Towards Dependable Electronic SystemsK. Chakrabarty, Duke University, Durham, NC, USA

The gap between working silicon and a working board/system is becoming more significant and problematic astechnology scales and complexity grows. The result ofthis increasing gap is failures at board and system levelthat cannot be duplicated at the component level. Thesefailures are most often referred to as “NTF” (No TroubleFound). The result of these NTFs can range from highermanufacturing cost, and failure to get the product out ofthe door. The problem will only get worse as technologyscales and will be compounded as new packaging tech-niques (SiP, SoC, 3D) extend and expand Moore’s law.This is a problem that must be solved, yet, little effort hasbeen applied up to this point. This tutorial will describethe nature of this problem and provide DfT and test solu-tions at both the component and board/system level. Thespeaker will also describe recent advances in reasoningunder uncertainty using Dempster-Shafer theory andmachine-learning techniques to facilitate accurate andrapid board repair.

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flow paths for the biochip. The role of the digital microflu-idic platform as a “programmable and reconfigurable pro-cessor” for biochemical applications will be highlighted.Finally, the speaker will describe dynamic adaptation ofbioassays through cyberphysical system integration sen-sor-driven on-chip error recovery.

Collaborative Engineering: Lösungen und Heraus -forderungen in der Entwicklung von Raumfahrt -systemenA. Gerndt, Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt,Braunschweig

Die Planung von Raumfahrtmissionen und die Ent wick -lung von Raumfahrzeugen sind zeitaufwändige und feh-leranfällige Prozesse. Häufig kommen Standard-Office-Software wie Word und Excel oder domänenspezifischeProgramme wie Catia und Matlab/Simulink zum Einsatz,die nur eingeschränkt den Entwicklungszyklus abbildenund unterstützen können. Zudem sind sie nicht flexibelgenug um alle beteiligten Ingenieurdisziplinen in ange-messener Weise durch alle Phasen des Design pro -zesses zu führen. Genau hier setzt das am DeutschenZentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR) entwickelteSoftware-Rahmenwerk „Virtueller Satellit“ an und wartetmit optimierten Unterstützungsprozessen auf. Es wirdbereits erfolgreich in frühen Planungsphasen im soge-nannten Concurrent Engineering mit dem Ziel eingesetztein einheitliches Verständnis für das Gesamtsystem zwi-schen den verschiedenen beteiligten Ingenieur diszipli -nen zu vermitteln. Im Mittelpunkt steht dabei ein einheit-liches Datenmodell, das nicht nur für die Definition vonMissionsanforderungen herangezogen werden kann.Vielmehr lassen sich hier moderne Forschungs metho -den aus dem Bereich des Model-based SystemsEngineering (MBSE) ansetzen. DomänenspezifischeModelle werden hierbei nicht nur für die Erzeugung vonvollständig ausführbaren Prototypen verwendet, sondernliefern auch gleich noch die passende Testumgebung mitallen spezifizierten Testfällen mit. Noch wichtiger istjedoch die Tatsache, dass das Designdatenmodell unddas dynamische Systemverhalten mithilfe formalerMethoden gegen die Missionsanforderungen verifiziert

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Eingeladene Vorträge

Digital Microfluidic Biochips and CyberphysicalIntegration: A Vision for Functional Diversity andMore than MooreK. Chakrabarty, Duke University, Durham, NC, USA

Advances in droplet-based “digital” microfluidics haveled to the emergence of biochip devices for automatinglaboratory procedures in biochemistry and molecular biology. These devices enable the precise control ofnanoliter-volume droplets of biochemical samples andreagents. Therefore, integrated circuit (IC) technologycan be used to transport “chemical payload” in the formof micro/nanofluidic droplets. As a result, non-traditionalbiomedical applications and markets (e.g., high-throug-hout DNA sequencing, portable and point-of-care clinicaldiagnostics, protein crystallization for drug discovery),and fundamentally new uses are opening up for ICs andsystems.

However, continued growth depends on advances inchip integration and design-automation tools. Design-automation tools are needed to ensure that biochips areas versatile as the macro-labs that they are intended toreplace, and researchers can thereby envision an auto-mated design flow for biochips, in the same way asdesign automation revolutionized IC design in the 80sand 90s. Biochip users (e.g., chemists, nurses, doctorsand clinicians) and the biotech/pharmaceutical industrywill adapt more easily to new technology if appropriatedesign tools and in-system automation methods aremade available.

This lecture will first provide an overview of market dri-vers such as immunoassays, DNA sequencing, clinicalchemistry, etc., and electrowetting-based digital microflu-dic biochips. The audience will next learn about CAD,design-for-testability, and reconfiguration aspects of digi-tal microfluidic biochips. Synthesis tools will be describedto map assay protocols from the lab bench to a droplet-based microfluidic platform and generate an optimizedschedule of bioassay operations, the binding of assayoperations to functional units, and the layout and droplet-

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Tagungsort

Achtung:

Für die diesjährige Fachtagung gibt es zwei verschiede-ne Tagungsorte!

Tagungsort am 25.09.2012

Deutsches Zentrum für Luft- und RaumfahrtInstitut für RaumfahrtsystemeRobert-Hooke-Str. 728359 BremenTel.: 0421 24420-1101http://www.dlr.de/irs/

Tagungsort am 26. und 27.09.2012

Haus der Wissenschaft Sandstraße 4/528195 BremenTel.: 0421 218 695-0www.hausderwissenschaft.de

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werden können. In dem Vortrag werden die Heraus -forderungen in diesem Forschungsbereich stärker hin -ter leuchtet und vielversprechende Ansätze präsentiertum den Planungsprozess für zukünftige Raumfahrt -missionen noch weiter zu verbessern.

ATV Avioncs System TestingJ. Hartmann, Astrium Space Transportation, Bremen

The Automated Transfer Vehicle or ATV is an expenda-ble, unmanned resupply spacecraft developed by theEuropean Space Agency (ESA). ATVs are designed tosupply the International Space Station (ISS) with propel-lant, water, air, food, payloads and experiments. In addi-tion, ATVs can reboost the station into a higher orbit orstabilize current orbit.

An ATV approaches the ISS automated guided by an on-board navigation system based on fault tolerant avionicsarchitecture. Avionics system faults or restarts are pro-blematic especially during near range approaching anddocking to the ISS, because of the potential endangeringof the ISS crew. Thus, system qualification and systemtesting of the ATV flight configuration is a challenge star-ting at the equipment level.

System testing and in particular the flight model accep-tance requires a comprehensive test strategy. Dedicatedaccess points into the system are required on the onehand, on the other hand the absence of side effects ofthese additional accesses must be ensured. At the sametime the highest standards with respect to mechanicalintegration, temperature changes, and radiation tole -rance have to be fulfilled.

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Mittwoch, 26. September 2012

Haus der Wissenschaft, Bremen

09:00 Begrüßung

09:15 Eingeladener VortragSitzungsleitung: A. Herkersdorf, Technische UniversitätMünchen

Collaborative Engineering: Lösungen undHerausforderungen in der Entwicklung vonRaumfahrtsystemenA. Gerndt, Deutsches Zentrum für Luft- undRaumfahrt (DLR) Braunschweig

10:15 - 10:30 Kaffeepause

10:30 - 12:00 Session 1: Entwurf komplexer SystemeSitzungsleitung: C. Schlünder, Infineon TechnologiesAG, Neubiberg

Reliability Enhancement of Fault-prone Many-core Systems Combining Spatial andTemporal RedundancyA. Runge, Universität Würzburg

HLDSC+ – Eine Umgebung zum effizienten-High-Level-Debugging von SystemC/TLM-ModellenE. Fehlauer, S. Rülke, Fraunhofer IIS, Dresden

NEEDS – Nanotechnik-Entwurf für 3D-SystemeK. Hylla, M. Metzdorf, OFFIS, Oldenburg; A. Gründewald, K. Hahn, Universität Siegen; A. Heinig, U. Knöchel, Fraunhofer IIS, Dresden; T. Wild, F. Miller, Technische Universität Mün -chen; A. Quiring, M. Olbrich, Leibniz UniversitätHannover

12:00 - 13:00 Mittagessen: Friesenhof

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Dienstag, 25. September 2012

DLR, Institut für Raumfahrtsysteme, Bremen

13:00 - 17:00 Tutorials

Tutorial ASitzungsleitung: J. Alt, Intel Mobile, München

Demystifying Board-Level Test and Diagnosis:Towards Dependable Electronic SystemsK. Chakrabarty, Duke University, Durham, NC,USA

Tutorial BSitzungsleitung: L. Hedrich, Goethe Universität Frank-furt am Main

Bewertung und Optimierung der Robustheitmikroelektronischer SystemeF. Salfelder, Goethe Universität Frankfurt, M. Olbrich, M. Kärgel, Leibniz UniversitätHannover, M. Barke, Technische UniversitätMünchen, M. Metzdorf, OFFIS - Institut fürInformatik, Olden-burg, O. Bringmann, Eberhard-Karls Universität Tübingen

17:00 - 18:00Führung im DLR School Lab und den Laboren des DLRInstitutes für Raumfahrtsysteme

18:00 Empfang

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16:30 - 18:00 Session 2: Analoge SchaltungenSitzungsleitung: M. Redeker, Intel Mobile, Braun-schweig

Automatische Dimensionierung von Analog-schaltungen unter Berücksichtigung vonSchaltungssymetrienM. Eick, H. Gräb, Technische UniversitätMünchen

Robuste Power-On-Reset Schaltung mitKalibrierung im FertigungstestG. Hilber, D. Gruber, M. Sams, T. Ostermann,Johannes Kepler Universität Linz

Verifikation des Power-Down-Modus von ana-logen SchaltungenM. Zwerger, H. Gräb, Technische UniversitätMünchen

19:00 Abendveranstaltung in der Kaffeemühle(siehe Seite 23)

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13:30 Eingeladener VortragSitzungsleitung: G. Jerke, Robert Bosch GmbH, Reutlingen

Digital Microfluidic Biochips and Cyber -physical Integration: A Vision for FunctionalDiversity and More than MooreK. Chakrabarty, Duke University, Durham, NC, USA

14:30 - 15:30 PodiumsdiskussionOrganisator: M. Tahoori, Karlsruher Institut für Technologie

Failures in the Field: Design, Verification, orTest Problem?

15:30 - 15:45 Kurzvorstellung der PosterSitzungsleitung: K. Hahn, Universität Siegen

15:30 - 16:30 Poster & Kaffee

Accurate Computation of LongestSensitizable Paths using Answer SetProgrammingB. Andres, M. Gebser, T. Schaub, UniversitätPotsdam; M. Sauer, T. Schubert, B. Becker,Albert-Ludwigs-Universität Freiburg

Der Bond-Rechner – ein Werkzeug zur Dimen-sionierung von BonddrähtenA. Gerlach, D. Marolt, J. Scheible, Robert BoschZentrum für Leistungselektronik und HochschuleReutlingen

Ein hochverlässliches, selbst-adaptives, Mixed-Signal Mehrkern-SoCJ. von Rosen, B. Betting, U. Brinkschulte, L. Hedrich, Istitute for Computer Science, GoetheUniversität Frankfurt am Main

DNL-Method to reduction of the test time andits safety riskM. Rantisi, S. Sattler, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Eine strahlungsresistente 0.13 MikrometerCMOS Bibliothek U. Jagdhold, IHP, Frankfurt (Oder)

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Allgemeine Hinweise

Tagungsorganisation (Anmeldung)

Bei Fragen zur Anmeldung wenden Sie sich bitte an: VDE-Konferenz ServiceStresemannallee 1560596 Frankfurt am MainTelefon: 069 6308-275,-381 Telefax: 069 6308-144 E-Mail: vde-conferences@vde.comURL: www.vde.com

Anmeldung

Die Anmeldung zur Fachtagung „Zuverlässigkeit undEntwurf“ erfolgt über den VDE-Konferenz Service. Siekönnen sich entweder online anmelden oder per Tele-fax. Das Anmeldeformular finden Sie auf der Homepageder Veranstaltung unter www.ZuE2012.de

Die Reservierung erfolgt in der Reihenfolge der An -meldungen und erst nach vollständiger Bezahlung desTagungsbeitrags. Sie erhalten Ihren Tagungsausweisund Ihre Tagungsunterlagen im Tagungsbüro vor Ort vorBeginn der Veranstaltung.

TeilnahmegebührenAnmeldung Anmeldungbis nach dem24.08.2012 24.08.2012

Nichtmitglied € 430,00 € 490,00Persönliches Mitglied * € 390,00 € 450,00Hochschulangehöriger * € 390,00 € 450,00Vortragender € 390,00 € 450,00Student* (ohne Tagungsband) € 180,00 € 200,00* Ermäßigung nur bei Übersendung einer Kopie des VDE/VDI/GI-

Mitgliedsausweises bzw. des Studentenausweises!

Die Tagungsgebühr beinhaltet den Tagungsband inklu-sive CD-ROM, Pausengetränke und Mittagsimbiss

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Donnerstag, 27. September 2012

Haus der Wissenschaft, Bremen

09:00 Eingeladener VortragSitzungsleitung: M. Dietrich, Fraunhofer IIS EAS, Dres-den

ATV Avioncs System TestingJ. Hartmann, Astrium Space Transportation,Bremen

10:00 - 10:15 Best Paper Award 2011Moderator: J. Schöffel, Mentor Graphics DeutschlandGmbH, HamburgVerleihung des GMM-Preises 2012 an Michael Eick,Martin Strasser und Kun Lu

10:15 - 10:30 Kaffeepause

10:30 - 12:00 Session 3: FehlertoleranzSitzungsleitung: U. Abelein, Audi AG, Ingolstadt

Formal Safety Verification of Automotive MCComponentsH. Busch, Infineon Technologies, NeubibergLogic Self Repair Architecture with Self TestCapabilitiesT. Koal, M. Ulbricht, H.T. Vierhaus, Branden -burgische Technische Universität Cottbus; P. Engelke, Infineon Technologies AG, NeubibergHardware-Software-Co-Synthese zur Verbes-serung der FehlertoleranzS. Frehse, H. Riener, Universität Bremen; G. Fey,DLR und Universität Bremen

12:00 - 13:00 Embedded TutorialSitzungsleitung: R. Kraemer, IHP MicroelectronicsGmbH, Frankfurt (Oder)

Mixed-Signal-TestA.P. Fonseca-Müller, Robert Bosch GmbH, Reut-lingen

13:00 Schlusswort

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duellen Stornierungsbedingungen des jeweilig gebuch-ten Hotels.

Bitte beachten Sie die zusätzlichen Hinweise zur Citytax.Wenn Sie Fragen zu Ihrer Zimmerbuchung haben, istdas BTZ gerne für Sie da!

BTZ – Bremer Touristik-ZentraleKongressbüroFrau Lieske FieblingerTelefon: 0421 30800 18Telefax: 0421 30800 89E-Mail: fieblinger@bremen-tourism.de

Anreise

Tagungsort am 25.09.2012

Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR) BremenRobert-Hooke-Str.728359 Bremen http://www.dlr.de/irs/

Anreise mit dem Auto Autobahn A 27, Abfahrt Nr. 19 Bremen-Horn/Lehe, Rich -tung Universität. Vom Autobahn-Zubringer an der Ampelrechts einbiegen in den Hochschulring. Rechts in dieStraße „Am Fallturm“ fahren. Nach circa 150 Meternrechts abbiegen in die Robert-Hooke-Str.

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Bezahlung der Teilnahmegebühr

Bitte überweisen Sie die Teilnahmegebühr erst nachErhalt der Anmeldebestätigung auf das angegebeneKonto. Bei der Überweisung sind unbedingt der Namedes Teilnehmers und die Rechnungs-Nr. anzugeben.

Teilnehmer, die sich erst vor Ort anmelden, müssen da -mit rechnen, dass kein Tagungsband ausgehändigt wer-den kann.

Hinweis: Die verbindliche Reservierung für die Tagungerfolgt erst nach Eingang Ihrer Zahlung.

Stornierung

Bei Stornierung bis zum 24.08.2012 wird die Teilnah-megebühr abzüglich € 80,- für Bearbeitungskosten zu-rückerstattet; bei Stornierung nach diesem Zeitpunktkann eine Rückerstattung der Teilnahmegebühr nichtmehr vorgenommen werden. Der Tagungsband wirddann nach der Veranstaltung zugesandt. Es ist jedochmöglich, einen Ersatzteilnehmer zu benennen.

Telefonische Erreichbarkeit während der Tagung

Ab 25.09.2012 befindet sich das Tagungsbüro im Hausder Wissenschaft in Bremen, bzw. im Deutschen Zent-rum für Luft- und Raumfahrt (DLR) Bremen. Das Ta-gungsbüro erreichen Sie unter:

Telefon: 0176 493 204 23 (Görschwin Fey)

Zimmerreservierungen

Das Kongressbüro der BTZ – Bremer Touristik-Zentralehält für die Teilnehmer der ZuE 2012 Zimmerkontingen-te in verschiedenen Preiskategorien bereit.

Buchen Sie rechtzeitig online oder nutzen Sie das Ho-telbuchungsformular, das Sie auf der Homepage derVeranstaltung unter www.ZuE2012.de finden.

Die Bezahlung der Zimmer erfolgt erst vor Ort im ge -buchten Hotel. Eine garantiert kostenfreie Stornierung:bis 24 Stunden vor Anreise. Danach gelten die indivi-

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Anreise mit der Bahn

Vom Hauptbahnhof aus erreichen Sie das Haus derWissenschaft mit den Linien 4, 5, 6, 8, 24 und 25 (Hal-testelle Schüsselkorb).

Vom Flughafen

Vom Flughafen aus erreichen Sie das Haus der Wissen -schaft innerhalb 15 Minuten mit der Straßenbahnlinie,Linie 6 (Haltestelle Domsheide). Von dort sind es 5Minuten zu Fuß bis zum Veranstaltungsort.

Anreise mit dem Auto

Das Haus der Wissenschaft befindet sich in der BremerInnenstadt. Von der A1 kommend, Abfahrt Hemelingen,Richtung Innenstadt. Von der A27 kommend, am Bre-mer Kreuz Richtung Osnabrück, Abfahrt Hemelingen,Richtung Innenstadt. Direkt neben dem Haus der Wis-senschaft finden Sie ein Parkhaus.

Abendveranstaltung

Am 26. September 2012 findet ab 19:00 Uhr die Abend-veranstaltung in der Kaffee Mühle statt:

Kaffee MühleAm Wall 21228195 BremenTelefon: 0421 144 66E-Mail: info@muehle-bremen.dewww.muehle-bremen.de

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Anreise mit Bahn oder Flugzeug

Straßenbahn Linie 6 Richtung Universität, vom Flugha-fen in 31 Minuten, vom Hauptbahnhof in 14 MinutenFahrzeit. Die Bahnen fahren tagsüber alle fünf bis zehnMinuten. Sie steigen an der Endhaltestelle „KlagenfurterStr.“ aus, gehen in Richtung des Fallturms, hinter demFallturm in die Straße „Am Fallturm“ links einbiegen undcirca 150 Meter der Straße folgen, rechts in die Robert-Hooke-Str. gehen. Das Gebäude befindet sich auf derlinken Seite. Fußweg von der Straßenbahn aus ca. 5Minuten.

Tagungsort am 26. und 27.09.2012

Haus der WissenschaftSandstraße 4/528195 BremenTelefon: 0421 218 695-00Telefax: 0421 218 695-05 E-Mail: info@hausderwissenschaft.dewww.hausderwissenschaft.de

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Wir danken nachstehenden Unternehmen undInstitutionen für die Unterstützung unserer

Veranstaltung

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