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Rasterkraftmikroskopie
Rasterkraft- und Rastersondenmikroskopie als
Werkzeug für nanostrukturierte Festkörper
Manfred Smolik, Inst.f. Materialphysik, Univ. Wien
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Überblick
• Historischer Abriß
• Rastersondenmikroskopie (SPM)
• Rasterkraftmikroskop (AFM)
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Vorreiter
• 1956
• John A. O‘Keefe (*1916,†2000,USA)
• schlägt die Abbildung im Nahfeld der WW vor
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Topografiner
• 1972• Russel D. Young
(USA)• Positionierung im
nm-Bereich durch Piezotranslatoren
Russell D. Young http://physics.nist.gov/GenInt/STM/young.html
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Entwicklung des RTM (STM)
• 1982• Gerd Karl Binning
(*1947, D) Heinrich Rohrer (*1933, CH)
• IBM Zürich
Heinrich Rohrer, Gerd Karl Binning http://www.deutsches-museum.de/ausstell/meister/rtm.htm
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Entwicklung des RTM (STM)
• 1986 Nobelpreis
• "for their design of the scanning tunneling microscope"
RTM von Binning und Rohrerhttp://de.geocities.com/rastertunnelmikroskop2002/Mikrokosmos-d
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Entwicklung des RKM (AFM)
• 1986• Gerd Karl Binning
Christoph GerberCalvin Quate
• IBM ZürichStanford University
Das erste RKM verwendet ein RTM um die Verbiegung des Cantilevers zu messen.
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Allgemeine Funktionsweise
MonitorRegelkreisDetektor
Schwingungsdämpfung
grobeAnnäherung & Positionierung
Probe
Sonde
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Allgemeine Eigenschaften
• Auflösung wird durch die größe des WW-Bereichs festgelegt
• Art der WW zwischen Probe und Spitze legt die gemessene Probeneigenschaft fest
• Somit sind verschiedene Messungen mit einem SPM-Aufbau möglichz.B.: AFM/STM
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Rastertunnelmikroskop
• Leitende Spitze, leitende Probe
• Spannung zwischen Spitze und Probe bewirkt Tunnelstrom
• In erster Näherung (kleine Tunnel-spannung, freie Elektronen) gilt für den Tunnelstrom:
dd 0κ2tt eU)(I eV)(052,1κ0
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Rastertunnelmikroskop
Mögliche Messungen• Topographie• Zustandsdichte• effektive Austritts-
arbeit
DOS, 48 Eisenatome auf Cu (111), r = 71,3Åhttp://www.almaden.ibm.com/vis/stm/images/stm.gif
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Magnetic Field Microscope
• Spitze mit dünnem ferromagnetischem Film überzogen
• Non-Contact-Mode• Messung der
– magnetischen Eigenschaften
– TopographieMFM Prinziphttp://www.geocities.com/spezzin_grazer/cap-4/cap4.htm
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Magnetic Field Microscope
MFM-Bild der Bits auf einer Festplatte, der Bildausschnitt entspricht einer Kantenlänge von ungefähr 30µm
MFM-Bild einer Festplatte http://www.tmmicro.com/spmguide/1-3-0.htm
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Optische Rasternahfeldmikroskopie
• Near-field Scanning Optical Microscopy NSOM
• Sonde:Aluminium beschichtete Glasfaser Öffnungsdurchmesser einige 10nm
• Auflösungsvermögen bis 20λ
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Rasterkraftmikroskop (RKM, AFM)
• Allgemeines
• Betriebsmodi (Contact, Non-Contact)
• Scanner
• Detektoren
• Spitzen
• Auflösungsvermögen
• Beispiele mit Bildern
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Allgemeines
• Die Sonde ist eine Spitze auf einem Cantilever
• Die Verbiegung des Cantilevers ist ein Maß für die Wechselwirkung
• Die gemessenen Verbiegungen sind sehr klein (nm)
• empfindliche Detektionsmethoden notwendig
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Allgemeines
Probe
Scanner
Cantilever
Laserdiode
Spiegel4-Zonen-Diode
Spitze
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Contact-Mode
• Contact-Modestatische RKM
• konstante Kraft• Auflagekräfte:
~ 106 – 109 N
x = const.
Probe
Spitze
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Contact-Mode
Phänomenologisches Modell der repulsiven WW: Lennard-Jones-Potential
612
BA)V(
ddd
d
)V(d
6
B
d
12
A
d
Repulsive WW
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Contact-Mode
• van der Waals• elektrostatische• Kapillarkräfte
Es gibt allerdings verschiedenste Einflüsse
• Reibungskräfte• Kontaktverhalten
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Contact-Mode
Vorteil:
auch bei Proben in Flüssigkeiten können hohe Auflösungen erzielt werden (Ch, B)
Nachteile:• Abnutzung der Spitze• Beschädigung bzw. Zerstörung der Probe
Abbildung bei Oberflächenstörung http://www.tmmicro.com/spmguide/1-2-2.htm
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Non-Contact-Mode
• Non-Contact-Modedynamische RKM
• konstanter Kraftgradient
• Kräfte:~ 109 – 1012 N
• d im Bereich:2 – 20nm
k1
k2d
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Non-Contact-Mode
• Spitze wird mit Eigenfrequenz des Cantilevers zum schwingen gebracht
• Die WW zwischen Spitze und Probe wirkt wie eine zusätzliche kleine Feder
• Für die effektive Federkonstante gilt:d
Fk2
21eff kkk
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Non-Contact-Mode
• Durch die Änderung der effektiven Federkonstante kommt es zu einer Änderung der Resonanzfrequenz und der Amplitude der Schwingung
• Die Änderung der Amplitude wird gemessen
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Non-Contact-Mode
Vorteile:• keine Abnutzung der
Spitze• keine Beschädigung
der Probe• schnelle Übersichts-
aufnahmen möglich (vR > 100µms1)
Nachteil:
geringere laterale Auflösung verglichen mit dem Contact-Mode
Abbildung bei Oberflächenstörung http://www.tmmicro.com/spmguide/1-2-2.htm
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Scanner
• Scanner „rastert“ die Probe ab
• atomare Auflösung Schrittweiten ~ nm
• höchste Präzision notwendig
„Abrastern“ der Probenoberfläche http://www2.polito.it/research/thin-film/Strumenti/SPM.html
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Scanner• Aufbau
Tripod- und Tube-Scanner
• Alterung, intrinsische Nichtlinearität
• AbbildungsfehlerHystereseKriech-EffektCross Coupling
• Korrektur der Abbildungsfehleropen und closed loop
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Aufbau
Tripod-Scanner Tube-Scanner
Tube-Scanner schematisch http://www.topometrix.com/spmguide/2-1-0.htm
Tube-Scanner http://www.nanomotor.de/p_stm.htm
Tripod-Scanner schematisch http://www.ieap.uni-kiel.de/surface/ag-berndt/mikro/stm-mikro-3.html
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Alterung und NichtlinearitätIntrinsische Nichtlinearität
Intrinsische Nichtlinearität http://www.tmmicro.com/spmguide/2-2-1.htm
Alterung
Alterungsprozeß http://www.tmmicro.com/spmguide/2-2-1.htm
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Abbildungsfehler
Hysterese
Hysteresehttp://www.physikinstrumente.com/tutorial/4_20.html
Abbildungsfehler durch Hysteresehttp://www.tmmicro.com/spmguide/2-2-2.htm
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Abbildungsfehler
Kriech-Effekt
Kriech-Effekt http://www.tmmicro.com/spmguide/2-2-3.htm
Abbildungsfehler durch Kriech-Effekt
http://www.tmmicro.com/spmguide/2-2-3.htm
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Abbildungsfehler
Cross Coupling
Hauptsächlich durch die Geometrie des Scanners bestimmt
Cross Coupling http://www.tmmicro.com/spmguide/2-2-5.htm
Abbildungsfehler durch Cross Coupling http://www.tmmicro.com/spmguide/2-2-5.htm
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Abbildungsfehler
Summe der durch den Scanner verursachten Abbildungsfehler
Summe der Abbildungsfehler http://www.tmmicro.com/spmguide/2-2-5.htm
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Korrektur der Abbildungsfehler
• Software (open loop)
• Rückkopplung (closed loop)
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Software
Vorteil:
billige Methode
Nachteil:
für gute Ergebnisse müssen fast identische Verhältnisse wie bei der Kalibrierung herrschen
Kalibrierungsstruktur 40µm 40µm http://www.tmmicro.com/spmguide/2-4-0.htm
Software Korrektur http://www.tmmicro.com/spmguide/2-3-0.htm
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Rückkopplung
Methoden• kapazitive• optische• Dehnungsstreifen
Vorteil:
geringe Nichtlinearität
< 1%
Nachteil:
teure Methode
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Detektoren
• Tunnelkontakt-Detektor
• Kapazitiver Detektor
• Piezoelektrischer Detektor
• Optische Detektoren
– Interferometrie
– positionssensitive Methode
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Tunnelkontakt-Detektor
• Nur von historischer Bedeutung 1. AFM
• wenig geeignet da die STM Spitze Kräfte auf den Cantilever ausübt
Tunnelkontakt-Detektion schematisch M. Nonnenmacher, „Rastermikroskopie mit Mikrospitzen“,Dissertation,S 13, 1990
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Positionssensitives Verfahren
• 4-Quadranten-Photo-Detektor
• einfacher optischer und elektronischer Aufbau
4-Zonen-Diode http://www.anfatec.de/pd.htm
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Positionssensitives Verfahren
A B
DC
+
+
+
+ (A+B)
(C+D)
(A+C)
(B+D)
Topographie
LFM
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Sonden
• Cantilever
• Herstellung
• Spitzen
• Abbildungsfehler und Auflösung
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Cantilever
Es gibt zwei Formen des Cantilevers
• Balkenform (NC)
• Dreiecksform auchV-Form Cantileverformen
http://www.tmmicro.com/products/tips.htm
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Balkenform
Balkenform http://www.thermomicro.com/products/probepdf/dlever.pdf
Datenblatt Balkenform http://www.tmmicro.com/products/probepdf/noncontactsiliconcantilevers.pdf
Spitzenradius ~ 10nm
Spitzenlänge ~ 5–7 µm
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Dreiecksform
Dreiecksform http://www.thermomicro.com/products/probepdf/ultra.pdf
Spitzenradius ~ 10nm
Spitzenlänge ~ 5–7µm
Länge ~ 80–300 µmBreite ~ 15–25 µmDicke ~ 6 µm
Abmessungen http://www.tmmicro.com/spmguide/3-0-0.htm
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Herstellung
Herstellung einer Pyramidenspitze http://www.tmmicro.com/spmguide/3-3-0.htm
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Spitzen
• Pyramidenspitzen
• Konische Spitzen
• Nanotube Spitzen
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Pyramidenspitzen
Spitzenradius• normalr < 50nm
• sharpenedr < 20nm
Pyramidenspitze http://www.thermomicro.com/products/probepdf/micro.pdf
Unterschied normal und sharpened http://www.thermomicro.com/products/probepdf/micro.pdf
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Konische Spitzen
Spitzenradiusr 10nm
Konische Spitze http://www.thermomicro.com/products/probepdf/ultra.pdf
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Nanotube Spitzen
(a) Pyramidenspitze
(b) Nanotube Spitze
AFM-Aufnahme von Titankörnern mit Pyramidenspitze (c) Nanotube Spitze (d)
Pyramidenspitze und Nanotube Spitze http://www.llnl.gov/str/December01/Orme.html
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Abbildungsfehler und Auflösung
Durch die Geometrie der Spitze
• entstehen Abbildungsfehler
• wird das Auflösungsvermögen beeinflußt
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Abbildungsfehler und Auflösung
Einfluß durch den Öffnungswinkel
Spitze mit kleinem Öffnungswinkelhttp://www.chembio.uoguelph.ca/educmat/chm729/afm/resolution.htm
Spitze mit größerem Öffnungswinkelhttp://www.chembio.uoguelph.ca/educmat/chm729/afm/resolution.htm
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Abbildungsfehler und Auflösung
Einfluß durch die Spitzenform
Unterschied zwischen konischer Spitze und Pyramidenspitzehttp://www.tmmicro.com/spmguide/4-1-0.htm
Unförmige Spitzehttp://www.siliconmdt.com/freeware/deconvo.htm
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Abbildungsfehler und AuflösungEinfluß durch die Spitzenform
Einfluß der an der WW beteiligten Spitzenatomehttp://www.tmmicro.com/spmguide/3-3-0.htm
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Auflösungsvermögen
Berechnetes Auflösungsvermögen
Annahme:
nur van der Waals WW
Berechnetes Auflösungsvermögen M. Nonnenmacher, „Rastermikroskopie mit Mikrospitzen“,Dissertation,S 61, 1990