Verzeichnis von Normen und Richtlinien - link.springer.com978-3-322-96810-4/1.pdf · DIN 2239...

Verzeichnis von DIN EN ISO - Normen und VDI-Richtlinien 249

Verzeichnis von Normen und Richtlinien

Nummer-Thil Datum Titel Seite

DIN 102 Okt.56 Bezugstemperatur der Meßzeuge und Werkstücke 45,205

DIN 229-1,-2 Aug.82 Morsekegellehren 65

DIN 230-1, -2 Aug.82 Morsekegellehren 65

DIN 234-1,-2 Aug.82 Metrische Kegellehren 65

DIN 235-1, -2 Aug.82 Metrische Kegellehren 65

DIN ISO 286-1,-2 Nov.90 ISO-System für Grenzmaße und Passungen 153, 154

DIN862 Dez.88 Meßschieber 66

DIN 863-1 Apr.99 Meßschrauben, Bügel- 67

DIN 863-2 Apr.99 Meßschrauben, Ilinbau- 67

DIN 863-4 Apr.99 Meßschrauben, Innen- 88

DIN865 Mrz.83 Strichmaßstäbe, Prüfmaßstäbe 25

DIN 866 Mrz.83 Strichmaßstäbe, Arbeitsmaßstäbe 25

DIN 874-1 Aug.73 Lineale, Flachlineale 42

DIN 874-2 Aug.73 Lineale, Haarlineale 42

DIN875 Mrz.81 Stahlwinkel 90° 40

DIN 876-1 Aug.84 Prüfplatten, aus Naturhartstein 42

DIN 876-2 Aug.84 Prüfplatten, aus Gußeisen 42

DIN877 Jun.86 Neigungsmeßgeräte (Richtwaagen) 38,66

DIN878 Okt.83 Meßuhren 69, 70, 73

DIN 879-1 Jun.99 Feinzeiger 70, 73

DIN 879-3 Jun.99 Feinzeiger mit elektrischen Grenzkontakten 71

DINISO 1101 Aug.95 Technische Zeichnungen; Form-, Lagetoler. 153, 154, 155, 156, 162, 167

DIN EN ISO 1302 Dez.93 Technische Zeichnungen; Oberflächenbeschaffenheit 170, 177

DIN 1315 Aug.82 Winkel 19

DIN 1319-1 Jan.95 Grundlagen der Meßtechnik, Grundbegriffe 8,25,46,67

EDIN 1319-2 Feb.96 Grundlagen der Meßtechnik 14

DIN 1319-3 Mai 96 Grundlagen der Meßtechnik, Meßunsicherheit 46

DIN 1319-4 Feb.99 Grundbegriffe der Meßtechnik, Behandlung von Meßunsicherheiten 46

DIN 1946-1 Okt.88 Raumlufttechnik, Terminologie 209

250 Verzeichnis von DIN EN ISO - Normen und VDI-Richtlinien

Nummer-Teil Datum Titel Seite

DIN 1946-2 Jan.94 Raumlufttechnik, Gesundheitliche Anforderungen 209

DIN 1946-7 Jan.92 Raumlufttechnik in Laboratorien 208

VDI2081 Mrz.83 Geräuscherzeugung und Lärmminderung in raumlufttechn. An!. 208

VDI2083-1 Apr.95 Reinraumtechnik, Reinraumklassen 209

VDINDE 2083-5 Feb.96 Reinraumtechnik, Thermische Behaglichkeit 207

DIN 2231 Jan.82 Grenzrachenlehren 65

DIN 2232 Jan.82 Gutrachenlehren 65

DIN2233 Jan.82 Ausschußrachenlehren 65

DIN 2239 Jan.95 Lehren der Längenprüftechnik 63

DIN 2245-1 Nov.89 Grenzlehrdorne 64

DIN 2245-2 Nov.89 Grenzlehrdorne 64

DIN2246 Nov.89 Gutlehrdorne 64

DIN2247 Nov.89 Ausschußlehrdorne 64

DIN2250 Nov.89 Gutlehrringe und Einstellringe 43

DIN 2250-1 Nov.89 Gutlehrringe und Einstellringe 37, 65

DIN 2250-2 Nov.89 Gutlehrringe und Einstellringe 37, 65

DIN 2257-1 Nov.82 Begriffe der Längenprüftechnik, Tätigkeiten 67

DIN2257-2 Aug.74 Begriffe der Längenprüftechnik, Fehler, Unsicherheiten 46

DIN2261 Okt.55 Kerbzahn-Grenzlehrdorne 65

DIN 2267 Okt.55 Kerbzahn-Einstellehren 65

DIN 2268 Okt.75 Längenmaße mit Teilung 27

DIN2269 Nov.98 Prüfstifte 37,63

DIN2270 Apr.85 Fühlhebelmeßgeräte 71

DIN2271-1 Sep.76 Pneumatische Längenmessung, Grundlagen 84, 85

DIN2271-2 Apr.76 Pneumatische Längenmessung, Hochdruck-Meßgeräte 84, 85

DIN2271-3 Feb.OO Pneumatische Längenmessung, Anforderungen, Prüfung 84, 85

DIN 2271-4 Nov.77 Pneumatische Längenmessung, Anwendung, Beispiel 84,85

E DIN 2272-1 Aug85 Anforderungen an Prüfmittel der Längenprüftechnik, Fehlergrenzen 31

DIN2273 Mai 79 Sinuslineale 41

DIN2274 Okt. 81 Prüfprismen, Ausführungen, Anforderungen 162

DIN2275 Sep.77 Fühlerlehren 63, 162

DIN2276-1 Jun.86 Neigungsmeßeinrichtungen 66, 160

DIN 2279 Dez.01 Geom.Produktspezifikat.(GPS) Lehren für Metrisches ISO-Gewinde 65

VDINDE 2600-1....6 Nov.73 Metrologie (Meßtechnik) 8, 14

VDINDE2603 Sep.90 Oberflächen-Meßverfahren; Messen des Flächentraganteils 175

VDINDE2604 Jun.71 Oberflächen-Meßverfahren; Interferenzmikroskopie 178

Verzeichnis von DIN EN ISO - Normen und VDI-Richtlinien 251

Nummer-Thil Datum Titel Seite

VDINDE2605 Jan.73 Kreisteilungsmessungen und ebene Winkel; Grundbegriffe 19,41

VDINDE 2617-1...-7Jan.93

VDI/VDE/DGQ 2618 Jan.Ol

- E Blatt 1.1 Dez.01

- E Blatt 1.2 Dez.99

VDI/VDE/DGQ 2619 Jun.85

VDI/VDE 2620-1 Jan.73

VDI/VDE 2620-2 Ju1.74

VDINDE 2627-1, -2 Apr.02

VDI/VDE 2628-1 Feb.85

VDI/VDE E 2631-4 Ju1.93

DIN ISO 2859-1...-3 Apr.93

DIN EN ISO 3274 Apr.98

VDINDE 3441 Mrz.77

E DIN ISO 3650 Aug.95

DIN ISO 3951 Aug.92

DIN EN ISO 4287-1,-20kt.98

DIN EN ISO 4288 Apr.98

DINISO 4291 Sep.87

E DIN ISO 4292 Jun.84

DIN 4760 Jun.82

DIN 4765 Mrz.74

DIN 4768 Mai 90

DIN 4769-1 ... -4 Ju1.74

DIN4772 Nov.79

DIN4774 Jun.81

DIN 4776 Mai 90

DIN EN ISO 5436-1,-2 Nov.OO

DINIS05459 Jan.82

DIN 6403 Feb.76

DIN7162 Dez.65

DIN7167 Jan.87

Genauigkeit von Koordinatenmeßgeräten 138,146,148

Prüfanweisungen zur Prüfmittelüberwachung, 51, 222-224

Anweisungen zur Überwachung - Grundlagen 222

Anweisungen zur Überwachung - Meßunsicherheit 222

Prüfplanung 217,221

Fortpflanzung von Fehlergrenzen bei Messungen, Grundlagen 51

Fortpflanzung von Fehlergrenzen bei Messungen, Beispiele 51

Meßräume, Klassifizierung und Kenngrößen, Planung, Erstellung 205-209

Automatisierte Sichtprüfung; Beschreibung der Prüfaufgabe 187

Formmeßgeräte, Abnahme und Überwachung, Kenngrößen 169

Annahmestichprobenprüfung (Attributprüfung) 215, 220, 221

GPS, Oberflächenbeschaffenheit, Tastschnittverfahren 170, 183

Statistische Prüfung der Arbeits- und Positions genauigkeit

Längenmeßgeräte Parallelendmaße

Stichprobenprüfung (Variablenprüfung)

Oberflächenbeschaffenheit, Tastschnittverfahren

Oberflächenbeschaffenheit, Tastschnittverfahren

Verfahren Ermittlung v. Rundheitsabweichungen

Verfahren zum Messen von Rundheitsabweichungen

Gestaltabweichungen, Ordnungssystem

Bestimmung des Flächenanteils von Oberflächen

Ermittlung der Rauheitsmeßgrößen Ra,Rz, Rmax

Oberflächenvergleichsmuster

Elektrische Tastschnittgeräte

Messung der Wellentiefe mit elektrischen Tastschnittgeräten

Kenngrößen Rk, Rpk, Rvk, Mrlo Mr2

Oberflächenbeschaffenheit, Tastschnittverfahren, Normale

Technische Zeichnungen; Form- und Lagetolerierung; Bezüge

Meßbänder aus Stahl

Arbeits- und Prüflehren für Längenmaße; Herstelltoleranzen

108, 109

34

215,221

170, 182

170

156, 164, 165

156

152, 181

175

182, 183, 185

178

180

175

176, 183

170

157

25

65

Zusammenhang zwischen Maß-, Form- und Parallelitätstoleranzen 154

DIN ISO 8015 Dez.85 Technische Zeichnungen, Tolerierungsgrundsatz 154

DIN EN ISO 9000:2000 Dez.OO Qualititätsmanagementsysteme, Grundlagen, Begriffe 2,3,5,7,217,226,233

DIN ISO 10012-1 Aug.92 Forderungen an die Qualitätssicherung für Prüfmittel 8, 223

DIN EN ISO 10360-1...-6Mrz.Ol GPS Abnahme- und Bestätigungsprüfung für KMG 129,133,137,146

252 Verzeichnis von DIN EN ISO - Normen und VDI-Richtlinien

Nummer-Teil Datum Titel

DIN EN ISO 10360-2 Sep.93 Koordinatenmeßtechnik, Leistungsfähigkeit von KMG

DIN EN ISO 11562 Apr.98 Oberflächenbeschaffenheit, Tastschnittverfahren, Normal

DIN EN ISO 12085 Mrz.94 Oberflächenrauheit und Welligkeit, MOTIF-Methode

DIN EN ISO 12179 Nov.99 GPS Oberflächenbeschaffenheit, Tastschnittverfahren, Kalibrieren

DIN EN V 13005 Jan.99 Leitfaden zur Angabe der Meßunsicherheit beim Messen

DIN EN ISO 13565-1...-3 Apr.OO Oberflächenbeschaffenheit, Tastschnittverfahren

DIN EN ISO 14253-1 Mrz.99 Geometrische Produktspezifikation (GPS), Entscheidungsregeln

-Beiblatt Mai 00 -, Schätzung der Unsicherheit beim Kalibrieren von Meßgeräten

DIN32876-1 Apr.86 Elektrische Längenmessung, Anforderungen

DIN32876-2 Sep.88 Elektrische Längenmessung, Anwendungsbeispiele

DIN 32877 Feb.92 Optoelektrische Längenmessung

E DIN 32880-1 Dez.86 Koordinatenmeßtechnik

V DIN 32936-1 Mrz.95 Optoelektronik, Triangulation

DIN 32937-1...-4 Apr.OO Prüfmittelüberwachung

DIN32950 Apr.97 Geometrische Produktspezifikation (GPS), Übersicht

EN 45001 Mai 90 Allgemeine Kriterien zum Betreiben von Prüflaboratorien

EN 45002 Mai 90 Allgemeine Kriterien zum Begutachten von Prüflaboratorien

DIN 55350 Bbl. Apr.89 Begriffe der Qualitätssicherung und Statistik

DIN 55350-11 Aug.95 Begriffe des Qualitätsmanagements

DIN 55350-12 März89 Begriffe zu Qualitätsmanagement, Merkmalsbezogene Begriffe

DIN 55350-13 Jul.87 -, Begriffe zur Genauigkeit und Ermittlungsverfahren

E DIN 55350-33 Sep.93 -, Begriffe zu SPC

DIN 66348-1 Sep.86 Schnittstellen und Steuerungsverfahren, seriell

DIN 66349 Okt.83 Schnittstellen, parallel, BCD

Seite

137,138

170,183

170

170

47,49

170

16,17

16

71

71

79

129

80

222

16

226

226

217

31

31

46

214

213

213

Stichwortverzeichnis

A Abbe-Längenmesser, 119

Abbescher Grundsatz, 55, 119 amKMG,136

Abbott-Kurve, 176 Kernrauheitstiefe, 177 Materialanteil, 177 reduzierte Riefengröße, 177 reduzierte Spitzenhöhe, 177

Abplattung, 53

Abschaltkreis, 97, 98, 99

Absolutmeßverfahren,13

Abweichungsspanne, 35, 51

AKF,39,40, 158, 160, 161

Akkomodation, 189

Allgemeintoleranz, 153

Anschieben, 32

Ansprechschwelle, 13

Ansprengen, 32

Anwendungsbereich, 15,66

Anzeige, 13, 67

Anzeigebereich, 66, 68

AQL (Acceptable Quality Level), 222

Atomuhr,22

Attributprüfung, 215, 220

Audimess, 143

Audit, Zertifizierungsaudit, 5

Aufbauorganisation, 7, 8

Auflicht bei Sichtprüfungen, 190 diffus, 191 gerichtet, 191

Auflichtbeleuchtung, 191

Auflösung, 13 Auge, unbewaffnet, 192 CCD-Kamera, 127, 194, 195, 196 digitaler Meßtaster, 35 Diodenzeile, 79, 194 elektrische Längenmeßgeräte, 71, 95 Gittermaßstab, 27 Interferenzmikroskop, 178 Laserinterferometer, 77 Meßgerätefähigkeit, 235 Meßprozeßfähigkeit, 235, 237 Meßsystem, 51 Meßsysteme am KMG, 137 Moire-Verfahren, 200 Nanomeßtechnik, 246 Streifenprojektion, 198, 200 Triangulationsverfahren, 81 Winkelmessung, 20, 31

Aufnehmer, 14

Auge, 189 Adaptation, 190 Grenzen der Auflösung, 192

Ausdehnungskoeffizient, 51, 58-60

Ausgabe, 13

Ausgleichsrechnung, 145

Ausreißer, Oberflächenmessung, 172, 173, 177

Autofokusverfahren, 83

Autokollimationsfernrohr (AKF), 39, 158, 160 Meßunsicherheit, 160

254

B Basiseinheit, 18

Bauelemente, 92

Beleuchtung, 190, 210 bei automatisierter Sichtprüfung, 193, 246 Blitzlicht, 193 DunkeHeld, 191 Durchlicht, 190 Hellfeld, 191 strukturiert, 191

Besselsche Punkte, 53

Bezugselement, bei Lageprüfung, 157

Bezugsnormal, 15

Bezugstemperatur, 58

Bildverarbeitung, 187 Auflösung, 194 Bildverarbeitungssystem, 193 CCD-Kamera, 194 Checkliste, 203 Echtzeit, 83 Erkennungssicherheit, 203 Fenster, 197 Markt, 201 Muster, 203 neuronales Netz, 201 Streifenprojektion, 198 Szene, 196

Binärbild, 195

Blickfeld, 189

Bohr'sches Atommodell, 102

Bohrungsmeßgeräte, 88 Innenschnelltaster, 89 Innenmeßgerät mit Feinzeiger, 89 Innenmeßgerät mit Meßuhr, 89 Innenmeßschraube, 89 Pneumatischer Düsenmeßdorn, 89

Bohrungsmessung, 85, 88 Bohrungsmeßmikroskop, 125 Umkehrpunktssuche, 88

Bügelmeßschraube, 67

c CAQ (Computer Aided Quality Assurance),

Modul Prüfplanung, 221


CCD-Kamera, 123, 194, 195 CCD-Matrix-Kamera, 195 CCD-Zeilen-Kamera, 195 CMOS-Kamera, 246

cg Fähigkeitsindex, 235, 237

Cgk Fähigkeitsindex, 235, 237

Codierter Strichmaßstab, 30

Cosinus-Fehler, 56

CS-Atomuhr,23

D Deutscher Kalibrierdienst (DKD), 4, 225

Differenzdruck-Meßverfahren,85

Differenzmessung,74

Digitaler Meßtaster, 75 mit Halbleiter-Laserinterferometer, 76

DKD (Deutscher Kalibrierdienst), 4, 225

DKD-Kalibrierlaboratorien, 4

DMIS (Dimensional Measuring Interface Spe-cification), 143

Drehtisch, 40, 164

Drei - Draht-Verfahren, 67, 120

Drei-Punkt-Messung, 163

Dreiecksverteilung, 50

Druckmeßverfahren, 84, 85

Dual-Code, 26

DunkeHeldbeleuchtung, 191

Durchbiegung, 54

Durchflußmeßverfahren, 84, 85

Durchlichtbeleuchtung, 191

Durchschlupf, bei Sichtprüfung, 188

Düsendorn, 85

E EAL (European Cooperation for Accredita

tion of Laboratories), 228

Ebenheit, 168 Messen mit Laserinterferometer, 111

Edlen - Formel, 106


Eichen, 10, 222

Einflußgrößen, 52

Eingangsprüfung, 2 von Prüfmitteln, 223

Einheitensystem, 17

Einstellen, 10

Einstellring, 37, 43, 147 in der Kalibrierkette, 224, 234

Elektrische Längenmeßgeräte, Eigenschaften, 71

Empfindlichkeit, 68

Endmaß,32 anschieben, 33 Normal-,34 Prüf-,34

Endmaß-Satz, 32

Endmaßkalibrierung, fundamental- interferen-tiell, 122

Endmaßmeßgerät, Meßunsicherheit, 35

Endmaßprüfgerät, 34

Endprüfung, 2, 3

Ersatzelement, 129, 132

erweiterte Meßunsicherheit, 50

F Fähigkeitindex für Meßprozesse, 235, 237

Fehlergrenze, 78 beim Kalibrieren, 224 Definition, 9 digitaler Meßtaster, 75, 76 Eichen, 10 Komparatoren, 121, 122 Laserinterferometer, 78, 106, 107 Laserscanner, 80 Meßbereich, 15 Meßsystem, 30 Meßzeuge, 66 Sensoren für Laserinterferometer, 114

Feinzeiger, 71 elektrisch, 71, 161 induktiv, 72 kapazitiv, 74

Fenster, 127

Fertigungsmeßtechnik, 1

Fertigungsprüfung, 2, 3

Filterung, 166 Formprüfung, 166 Gauß-Filter, 183 Oberflächenmessung, 182 phasenkorrekt, 183

Flächenkreisteilung, 39

Flankendurchmesser, 67

Flicknormal, 169

Fluchtfernrohr, 159 Meßunsicherheit, 159

255

FMEA (Failure Modes and Effects Analysis), 5,219,244

Form, 152

Form- und Lagetoleranzen, 153 Richtwerte für, 158 Symbole für, 154

Formabweichung, 152 Gleichdick, 163

Formelement, 153

Formlehre,63

Formprüfgerät, 158 Kalibrierung, 168

Formprüfung, 181 2-Punkt-Messung, 163 3-Punkt-Messung, 163 durch Scannen auf Koordinatenmeßgerät

(KMG),141 Gitterprojektion, 198 Kontur, 159 Mehrlagenverfahren, 169 Streifenprojektion, 198 Umkehrverfahren, 168

Formtoleranz, 153

Fraktale Fabrik, 8

Freiformflächen, 153

Freiheitsgrad, 49

Fühler, 14

Fühlhebelmeßgerät, 71

Füllkreis, 156

Funktion, 1

Fuß,20

G G-Filter (Gauß-Filter), 183

256

Gauß, Ausgleichsrechnung nach, 132, 155, 156

Gauß-Verteilung, 47

Geometrische Produktspezifikation (GPS), 15

Geradheit, 168 Messen nach Neigungsmethode, 110, 160

Geradheits- Interferometer, 111

Gesichtsfeld, 189

Gestalt, 152

Gewindemessung, Drei - Draht - Verfahren, 67, 120

Gittermaßstab, 75 Abtastgitter, 26

Glaskeramik,42

Gleichdick, 162, 163

Goldene Regel, 17

GPS (Geometrische Produktspezifikation), 15 Entscheidungsregeln, 17

Gray-Code, 26, 199

Grenzlehre, 14,62,63 Abnutzungszugabe, 65 Ausschußlehre, 63 Gutlehre, 63

Grenzwellenlänge, 182

Grenzwerte für Meßabweichungen, 11

GUM (Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement), 47, 51

H Haarlineal, 158

Halbkugel, 43

Halbleiter-Laserinterferometer, 76

Halbleiterlaser, Eigenschaften, 104

Hartgestein, 42

Hellfeldbeleuchtung, 191

Hilfsmittel, 62, 89

HochpaßfiIter, 182

Höhenmeßgerät, 66

Hüllbedingung, 132

Hüllprinzip, 154


Hundert-Prozent-Prüfung, 220

Hysterese, 14

Identifikation, 223, 231, 233

Identnummer,224,231,233

inch-System, 18

Induktive Meßwertaufnehmer, 73

Induktives inkrementales Meßsystem, 29

Induktivtaster, 72

Innenmessung, 119

Inprozeß- Messung, 99

Inspektion, 7

Interferenzen am Keil, 162

Interferenzkomparator, 36, 122, 123

Interferenzrnikroskop, 162

Interferometer, 25

Internationales Einheitensystem (SI), 17

Istmaß, 2, 16, 65

Istwert, 46

J Justieren, 10

K Kalibrierdienst, 226

Kalibrieren, 10, 222, 233 Ringvergleich, 234

Kalibrieren des KMG, 146

Kalibrierintervalle, 224

Kalibrierkette, 10, 223, 224, 227 für Innenmeßgeräte, 89 für Lehren und Meßschieber, 225

Kalibrierlaboratorium, Betriebliches, 226


Kalibrierschein, 10, 230 DKD-,226 Werks-,226

Kalibrierzeichen, 229

Kapazitiv-Taster, 74

Kapazitives Meßsystem, 29

Kegellehre, 41

Kernrauhtiefe, 171

Kimme und Kegel, 120

Kimmenendmaß, 120

Klassieren, 12

Klima, Behaglichkeit, 208

Klimaanlage, 210

Koaxialität, 168

Kombinierte Standard unsicherheit, 46, 50, 51

Komparator, 119

Komparatorprinzip, 55, 119

Konformität, 17

Konformitätsaussage, 231

Kontaktdorn, 85

Kontrolle, 7

Konturmeßgerät, 247

Konzentrizität, 168

Koordinatenrneßgerät (KMG) Ablauf der Messung, 143 Antaststrategie, 143 Antastunsicherheit, 138 Anwendung, 129 Aufbau, 134 Auslegerbauart, 134, 136 Bauarten, 135 Brückenbauart, 134, 135 CNC-Programmierung, 133 CNC-Steuerung,142 mit Laserinterferometer, 247 Kalibrieren

Blockverfahren, 146 Kreisformtest, 147 mit Laserinterferometer, 146 mit Prüfkörper, 147, 148 Schablonen-Verfahren, 146

Komponenten, 134 Komponenten - Abweichungen, 146 Konturmeßgerät, 247

Koordinatensysteme, 133 Koordinatentransforrnation, 132 Laser Tracker, 150 messendes Tastsystem, 139 Meßprinzip, 129 Meßprogramrne, 145

Besteinpassung, 145 Gewindemessung, 145 Paarungsrnaß, 145 Scanning, 145 Zahnradmessung, 145

Meßsysteme, 26 Meßunsicherheit, 148

Virtuelles KMG, 137, 148,246 Mindestzahl der Antastpunkte, 130 mobiles KMG, 150 optoelektronische Antastverfahren, 134 Portalbauart, 134, 135 Programmiersprachen

MAHRMESS, 143 MFT-Prog, 143 QUINDOS, 143

Programmierung, 142 gerätefern, 143 maschinelle, 143 teach-in-Verfahren, 142

Scanning, 141 schaltendes Tastsystem, 139 Schnittstellen

DMIS, 143 DXF, 143 ESPRIT, 143 IGES, 143 NCMES, 143 SET, 143 VDAFS, 143

Ständerbauart, 135 Steuerung, 142 Taststiftkalibrierung, 132 Tastsystem, 138

Antastpunkt, 131 Berührpunkt, 131 messend, 139, 140 Meßpunktaufbereitung, 131 schaltend, 139 Tastelement,140 Tasterradiuskorrektur, 131 Taststift, 140

Temperaturkompensation, 138 Triangulationsverfahren, 141 Virtuelles KMG, 137,246

Koordinatentisch, 42

Koordinatentransformation, 144

257

258

Korrektion, 9, 47

Kreis, 43

Kreisformabweichung, 43

Kreisführung, 43, 163

Kreisteilung Einzelteilungsabweichung, 31 Summenteilungsabweichung, 31

Kreuzgitter, 31

Kreuztisch, 42

Kugel, 43, 44, 147

Kugelstange, 147

Kunde, 17

L Lage, 152, 156

Lagelehre, 63

Lagetoleranz, 156

Länge, 18

Längenänderung, temperaturbedingt, 60

Längenausdehnungskoeffizient, 51, 58-60

Längenaufnehmer, 67 berührend (taktil), 67 elektrisch, 71 für Längenregelungen, 100 induktiv, 72 kapazitiv, 74 mit Gittermaßstab, 75 mit Laserinterferometer, 77 nicht berührend, 78

Pneumatische Längenmeßgeräte, 84 optoelektronisch, 79

Autofokusverfahren, 83 Fokussierverfahren, 79 Laufzeitverfahren, 79, 80 Schattenbild, 79 Triangulation, 79, 81

Längeneinheit, 21 Geschichte, 20 Laufzeitdefinition, 22 Strichmaßdefinition, 22 Urmeter, 21 Wellenlängendefinition, 22

Längenrneßgerät horiwntal, 119 vertikal, 66

Längenrneßtechnik, 1

Längenregelung Abschaltkreis, 98, 99


Anwendungsbeispiel, 98 Meßwertaufnehmer, 100 Regelkreis, 97 Regelung nach statistischen Werten, 100

Laser, 25 Definition, 103 Eigenschaften, 104

Laser-Radar, 201

Laserinterferometer, 25, 102, 121, 137,247 Anwendung, 107 Bauteile, 104 Doppelreflektor, 110 Doppler-Effekt, 105 Edlen-Formel,113 Geradheitsmessung, 110, 111 Halbleiterlaser, 76, 77, 103, 104 He-Ne-Laser, 78,103 in der Kalibrierkette, 224 Meßunsicherheit, 106, 107 Prüfen einer Werkzeugmaschine, 108 Sicherheit, 111 Strahlleistung, 112

Laserscanner, 80

Laser Tracker, 150

Laufzeitverfahren, 79

Lean Management, 8

Lehre, 14,63 Abnahmelehre, 65 Arbeitslehre, 63 Ausschußlehre, 64 Flachlehre, 64 Formlehre,63 Grenzlehre, 63, 65 Gutlehre, 64 Kugelendmaß, 64 Lehrdorn, 64 Maßlehre, 63 Nichtübereinstimmungslehre, 65 Prüflehre, 63 Rachenlehre, 65 Revisionslehre, 63, 65

Lehren, 14

Lernprogrammierung, 133, 142


Licht, 102 Wellenlänge, 25

Lichtschnittverfahren, 198 codiert, 199

Lieferant, 17

Lineal, 42, 158

Linear-Verfahren, 110

Lochplatte, 147

LSC (Least Square Circle), 165

M manuelle Programmierung, 142

maschinelle Programmierung, 142

Maßstab,25 codierter (absoluter), 26, 27 Dual-Code, 26 Gray-Code, 26 magnetischer, 29 zweidimensional, 31

Maßverkörperung, 23,25,62 aus Quarz, Invar, Glaskeramik, 60 für geometrische Größen, 24

Materialanteil, 171

MCC (Minimum Circumscribed Circle), 165

Mehrstellenmeßgerät, 92

Mehrwellennormal, 169

Merkmal, 8, 11 qualitativ, 8 quantitativ, 8

Meßablaufplan, 143

Meßabweichung, 9, 45, 46 1. Ordnung, 52, 55 2. Ordnung, 52, 56 systematisch,47 Ursachen, 51 zufällig, 47

Meßautomat, 93 Linear-Anordnung, 94 Meßgerätefähigkeit, 95 Rundtisch - Anordnung, 94

Meßbedingungen, 16,23 Einflußgröße, 9 Vergieichsbedingungen, 13

Wiederholbedingungen, 13

Meßbereich, 10, 15, 66

Meßbeständigkeit, 11

Meßdraht, 37, 43

Meßeimichtung,14

Meßeinsätze, 70, 71

Messen, 8

Meßergebnis, 45 vollständiges, 49

Meßfähigkeit, 237

Meßgenauigkeit, 9

Meßgerät, 14 anzeigend, 62

Meßgerätedrift, 11

Meßgerätefähigkeit, 234

Meßgröße, 8

Meßgrößenaufnehmer, 14

Meßhütchen, 57

259

Meßkammer, Kamera für Photogrammetrie, 149

Meßkette, 10, 14

Meßkraft, 53, 69, 70

Meßkraftumkehrspanne, 70

Meßkreis, 52

Meßmethode, 12 analoge Meßmethode, 12 Ausschiagmeßmethode, 12 digitale Meßmethode, 12 direkte, 12 indirekte, 12 Nullabgleich - Meßmethode, 12 Unterschieds-Meßmethode, 12

Meßmikroskop, 124 Anwendung, 124 Aufbau, 125 Doppelbildokulare, 125 Meßunsicherheit, 125 Objektiv, 125 Okular, 125 photoelektrisch, 126 Vergrößerung, 125

Meßmittel, 8, 14

Meßobjekt, 1, 8

Meßokular, 125

260

Meßplatte, 42

Meßprinzip, 12

Meßprozeßeignung, 234

Meßpunktaufbereitung,131

Meßraum, 205 Beleuchtung, 210 Kennwerte, 206 Lage, 209 Lärm, 209 Luftführung, 208 Planung, 209 Reinraum, 209 relative Luftfeuchte, 207 Schwingungen, 207,208 Standort, 209 Wärmeabgabe des Menschen, 206

Meßschieber, 54, 66 digital,66

Meßschlitten, 42, 158, 161

Meßschneiden - Einrichtung, 125

Meßschraube, 67

Meßsignal, 13

Meßspanne, 15,66,68

Meßspitze, 57

Meßständer,56

Meßstation, 95

Meßsteuerung, 97

Meßsystem, 26 Fehlergrenze, 30 inkremental, 26, 137 Interpolation, 27

Meßtaster, digital, 75

Meßtisch, 42

Meßuhr,69

Messung, 8

Meßunsicherheit, 9, 47 durch Umgebung bedingt, 58 Ermittlungsverfahren A, 47, 49 Ermittlungsverfahren B, 49 Erweiterte, 49, 50 Erweiterungsfaktor, 49 Kalibrierkette, 227 Kombinierte, 50, 51

Stich wortverzeichnis

Meßunsicherheitsbudget, 50 Temperatureinfluß, 60 Vertrauensniveau, 49 vom Menschen verursacht, 58

Meßunsicherheitsbudget, 46, 47

Meßverfahren, 12 Absolut -, 13 analog, 12 digital, 12 inkremental, 12 Unterschieds-,13 Vergleichs-,13

Meßvorrichtung, 91 Bauelemente, 91, 92 Eigenschaften, 91 für wellenförmige Teile, 93 Handhabungsgerät, 95 Industrieroboter, 96

Meßwegumkehrspanne, 70

Meßwert, 9, 46

Meßwertaufnehmer, 57

Meßwertumkehrspanne, 69

Meßwesen, 7

Meßzeug,66 kennzeichnende Größen, 66

Meßzirkel, 52

Meterdefinition, 22 Laufzeit-, (heute gültig), 22 Strichmaß- (alt), 22 Wellenlängen- (alt), 22

MIC (Maximum Inscribed Circle), 165

Michelson- Interferometer, 104

Middle Third, 215

Mikro-Meter, 18

Mikrosystemtechnik, 247

Minimum - Bedingung, 155

Mittlere Profilsteigung, 172

Mittlere Rillenbreite, 171, 177, 182

MPE (Maximum Permissible Error), 137

MSA (Measurement Systems Analysis), 234

Mutter-Spindel-Winkelgeber, 137

MZC (Minimum Zone Circ1e), 165


N Nanomeßtechnik, 247

Auflösung, 247

Nano-Meter, 18

Nanometerbereich, 77

Neigungsmeßgerät, 38 induktiv, 160

Neuronales Netz, 202

Nonius, 66

Normal, 9, 23, 224, 225 Bezugs-, 10, 224 Gebrauchs-,lO Internationales, 9 Nationales, 9, 225 Primär-,9 Sekundär-,9

Normalverteilung, 47

Nurnmerungssystem, 231

o Oberfläche, 170

aperiodisch, 182 Beschädigungen, 170 Bezugsprofil, 173 Grundprofil, 173 Hüllprofil, 180 Istoberfläche, 170 Istprofil, 170, 171, 173, 180 Längsprofil, 171 Mittleres Profil, 173 Oberflächenmaße, 170 periodisch, 182 Querprofil, 171 Rauheitsprofil, 171 Rundkämmiges Profil, 174 Spitzkämmiges Profil, 174 Welligkeitsprofil, 171 wirkliche, 170

Oberflächendiagrarnm, Überhöhung, 172, 183, 184

Oberflächenmaße, 170 Arithmetischer Mittenrauhwert, 174 Bezugsdreiecke, 177 Bezugshaken, 177 Gemittelte Rauhtiefe, 173 Glättungstiefe, 173

Materialanteil, 175, 176, 177 Maximale Rauhtiefe, 173 Profiltiefe, 175 Umrechnungsfaktor, 175 Wellentiefe, 175

Oberflächenmeßgerät, 178 Filter, phasenkorrekt, 183 optisch, 178 Tastschnittverfahren, 179, 181,247

Oberflächenmessung, 170-179 Filterung, 172 Meßbedingungen, 172 PTB-Rauhnormal,185

261

Oberflächenprüfung, durch Sichtprüfung, 170

offline-Programmierung, 133

Okularstrichplatte, 159

Optische Achse, 158

Optoelektronischer Längenaufnehmer, 78 Laserscanner, 80 Laufzeitverfahren, 80 Lichtschnittverfahren, 199 Schattenbildverfahren, 79 Triangulationsverfahren, 82

Organisation, 5

OSIS (Optical Sensor Interface Standard), 246

p Parallaxe, 58

Parallelendmaß, 32 aus Hartmetall, 36 aus Keramik, 36 aus Stahl, 36 Genauigkeitsgrad, 34 in der Kalibrierkette, 224 Kalibriergrad, 35 Maßbildungsreihe, 33 Mittenmaß, 34 zulässige Abweichungen, 34

Parallelität, 168

Pendeltastsystem, 180

Pentagonprisma, 40

Pferchbedingung, 132

Pferchkreis, 156

Phasenlaufzeitmessung, 200

Phasenshift-Verfahren, 199

262

Photogrammetrie, 148

Physikalisch - Technische Bundesanstalt (PTB), 4,22-24,35-37,89,107,122,148,169,185, 186,217,224,225 Kalibriermöglichkeiten, 228

Pilgerschritt - Verfahren, 110

Planglasplatte, 33, 162

Planlauf, 168

Planparallele Glasplatte, 159

Planparalleles Glasprüfmaß, 162

Planspiegel, 160

Pneumatische Längenmessung, 84 Bohrungsmessung, 85 Düsendom, 85, 86 Düsenmeßbügel, 85 Düsenmeßring, 85 Eigenschaften, 87 Kontaktdorn, 85, 86 Pneumatischer Taster, 86 Prinzip, 84 Säulengerät, 86 Zeigergerät, 86

Polygonspiegel, 39

Positionsabweichung, 108

Positionsstreubreite, 108, 109

Positionsunsicherheit, 108

Postprozeß - Messung, 99

ppm (parts per million), 3

Profilprojektor, 124 Anwendung, 124 Messen im/am Bild, 124 Meßunsicherheit, 125 photoelektrisch, 126 Vergrößerung, 124

Profiltiefe, 171

Prozeß,213 beherrscht, 214 fähig, 214

Prozeßfähigkeit, 213, 214

Prozeßfähigkeitsindex, 214

Prozeßkette, 244

Prozeßsicherheit, 213

Prozeßüberwachung,3

Prüfautomat, 93 Checkliste, 95


Prüfdatenverarbeitung, 6

Prüfen, 11 maßlich, 11 nicht maßlich, 11

Prüfhäufigkeit, 220

Prüfmaß, für Flankendurchmesser, 120

Prüfmerkmal, geometrisch, 219

Prüfmittel, 14, 62

Prüfmittelplanung, 6

Prüfmittelüberwachung, 3 Checkliste zur, 223 DKD- Kalibrierschein, 230 Kalibriermöglichkeiten der PTB, 228 Meßunsicherheit, 228 Prüfmittelüberwachungskarte, 229 Vorgehensweise, 231

Prüfplanung, 5, 6 Neuplanungsprinzip, 221 Prüfmittelplanung, 220 Prüfplan, 218, 221 rechnerunterstützt, 221 Standardprüfplan, 221 Tätigkeiten, 217, 218 Variantenprinzip, 221

Prüfprozeßeignung, 234

Prüfschärfe, 220

Prüfscheibe, 43

Prüfstift, 37, 43

Prüfumfang, 220

Prüfung, 2-4,11 objektiv, 11 Selbst-,6 subjektiv, 11

Prüfvorrichtung, Handhabungseinrichtung, 96

Prüfwesen,7

Prüfzylinder, 40, 43

PTB (Physikalisch-Technische Bundesanstalt), 4,22-24,35-37,89,107,122,148,169,185, 186,217,224,225 Kalibriermöglichkeiten, 228

PTB-Rauhnormal,185

Pyramidalabweichung, 39


Q

QFD (Quality Function Deployment), 5, 243

QM (Qualitätsmanagementsystem), 2, 7

Qualitätsdaten, 211

Qualitätsplanung, 4, 6

Qualitätsregelkarte, 211, 212, 215 Eigenschaften, 212

Qualitätsregelung, 4

Qualitätssicherung, 7

Qualitätswesen, 7

Quality Function Deployment (QFD), 219

Quasi - Pilgerschritt - Verfahren, 110

R Radiant, 19

Rasterektronenmikroskop (REM), 246

Rasterkraftmikroskop, 247

Rauheit, 152, 170, 171

Rauheitsmessung, Ringversuch, 185

Rauhtiefe, 171-185 gemittelte, 171 Glättungstiefe, 171 maximale, 171 Mittenrauhwert, 171 Quadratischer Mittenrauhwert, 171

Rechteckverteilung, 50

Rechter Winkel, 40

Rechtwinkligkeitsmessung, mit AKF und Pen-taprisma, 161

Reduzierte Riefentiefe, 171

Reduzierte Spitzenhöhe, 171

Referenzbedingung, 10, 45

Referenzmarke, 30

Refraktometer, 106

Regelgeometrische Körper, 153

Regelkreis, 2, 4, 7 großer Qualitäts-, 4 kleiner Qualitäts-, 4

Reibung, 57

RGB (rot, gelb, blau), 246

Richtiger Wert, 9

Richtwaage, 161

Rillennormal, 184, 185

Ringvergleich, 13, 233, 234

Ringversuch, 13

RS 232C (Serielle Schnittstelle), 66

Rückführbarkeit, 4, 10, 223

Rückverfolgbarkeit, 4, 10

Run, 215

Rundheitsabweichung, 43

Rundheitsmeßgerät, 164, 168, 169 Aufbau, 164 Drehtisch, 164 Filterung, 165 Flicknormal, 169 Mehrwellennormal, 169

Rundheitsmessung, 163 Prisma, 163 Referenzkreis, 156, 164, 165

Rundlaufprüfung, 163

s Scanning, 141, 145

Schattenbildverfahren, 79 Meßmikroskop, 124 Profilprojektor, 124

Scheimpflug-Bedingung, 81

Schichtdicke, 246

Schweizer Kalibrierdienst (SCS), 4

Schwingungen, 138

SCS (Schweizer Kalibrierdienst), 4

Selbstprüfung, 6

Sensor, 14

Serielle Schnittstelle RS 232C, 66

SI (System International), 17, 18

Sicherheitsteil, 219

Sichtprüfer, Arbeitsplatz, 189

Sichtprüfung, 187, 188, 191-197, 203 Beleuchtung, 190 Beleuchtungsart, 190

263

264

Beleuchtungsstärke, 190 durch den Menschen, 187 Einflußgrößen, 203 Gedächtnis, 187 Gesichtssinn, 188 Kontrast, 190 Kontur, 196 kürzeste Sehentfernung, 189 Monotonie, 192 Muster, 187 Schattenbildverfahren, 191 Tiefensehen, 189

Sichtprüfung automatisch, Anwendung, 201

Sinuslineal, 41

Skalenanzeige, 68

Skalenteil (SkT), 68

Skalenteilungswert (Skw), 68

Sonderverteilungen, 50

Spanndraht, 158

SPC (Statistical Process Control), 212

Spiegelpolygon, 39

Spiel, 57, 69

Spitzenzahl, 172, 177

Standardunsicherheit, 47, 48, 50 Kombinierte, 46, 50, 51

Ständerbauart, 134

Stichprobenprüfung, 220

Störgrößen, 52

Streifenbruchteil, 122

Streulicht - Verfahren, 178

Strichkreisteilung, 38 codiert ( absolut), 38 inkremental, 38

Strichmarke, 25 Gabeleinfang, 25 Koinzidenz, 25 Überdeckung, 25

Strichmaß, Interpolieren, 20

Strichmaßstab, 25, 137 absoluter, 26 Abtasten im Auflicht, 27 Abtasten im Durchlicht, 27 Abtasten nach Moire- Verfahren, 28 inkrementaler, 26

Stroboskop, 193

Stufenendmaß, 37

Summenrnessung, 74

T Tangenslineal, 41

Tastelement, 139

Tasterkalibrierung, 143

Tastschnittgerät, 179


Bezugsflächentastsystem, 179 Freitastsystem, 179 Halbstarres Tastsystem, 180 Tastgeschwindigkeit, 181 Tastnadel, 181 Taststrecke, 181

Tastspitze, 57

Taststift, 139

Taylorscher Grundsatz, 64

teach-in-Verfahren, 142

Teilscheibe, 39

Teiltisch, 40

Teilungsperiode, 27

Temperatur, 59 Bezugstemperatur, 205

Theodolit, 149 zur Koordinatenrnessung, 149, 150

Thermischer Längenausdehnungskoeffizient, 51,58-60

Tiefennormal, 184

Tiefpaßfilter, 182

Toleranz, 16 Werkstück-, 214

Toleranzrahrnen, Form und Lage, 156

Toleranzzone, 154

TQM (Total Quality Management), 7

Trend, 11, 215

Triangulationsverfahren, 81

Tripelspiegel, 106

Tschebyscheff, 155 Ausgleichsrechnung nach, 132

u U-förmige Verteilung, 50


Überhöhung, 183

Überwachungsprüfung, von Prüfmitteln, 223

Umgebungsbedingungen, 205

Unrukehrspanne, 14,52,70,108,109

Umschlagmessung, 148, 168

Unabhängigkeitsprinzip, 153

Universalwinkelmesser, 38

Unterschiedsmessung, 34

Unterstützungspunkte, 54

Urmeter, 21

v Variablenprüfung, 215, 220

Verbiegung, 53

Verformung, durch Meßkraft, 56

Vergleichsbedingungen, 13

Vergleichsmeßverfahren, 13

Verstellbereich, 15

Vertrauensniveau, 49

Virtuelles KMG, 137, 148, 245

Virtuelle Lehrung, 66

Virtuelle Meßgeräte, 245, 246

Vollprüfung, 220

Volumendurchfluß, 84

w Wahrer Wert, 9, 46

Wareneingangsprüfung, 2

Wasserwaage, 161

WECC (Western European Calibration Coo-peration), 226, 228

Wellentiefe, 171

Welligkeit, 152, 170, 171

Werkstatt, Temperatur, 206

Werkstücklage, 132, 144

Wiederholbarkeit siehe Wiederholpräzision, 14, 52, 70

Wiederholbedingung, 13, 47

Wiederholgrenze, 14,70

Wiederholpräzision, 14,52,70

Winkel, 19, 23 Einzelteilung, 38 Raumwinkel, 20 Summenteilung, 38 Winkeleinheit

Altgrad,19 artileristischer Strich, 20 Gon, 20 Grad, 19 nautischer Strich, 20 Neugrad,20 Radiant, 19 Steradiant, 20 Vollwinkel, 19

Winkelcodierer,31

Winkelendmaß, 41

Winkellibelle, 38

Winkelmaß, 38, 41

Winkelmessung, Drehtisch, 40

Winkelnormal, 147 Spiegelpolygon, 39 Winkelendmaß, 39, 41

Winkelplatte, 40

Winkelspiegel, 40 Geradheitsinterferometer, 111

Winkelstrichrnaß, 38

265

Wollastonprisma, Geradheitsinterferometer , 111

Würfel, 44, 147

z Zählen, 12

Zahnstange - Ritzel-Winkelgeber , 137

Zeichnungsangaben, 170

Zerodur, 42

Zielmarke, 159

Ziffernanzeige, 68

Ziffernschritt (Zst), 68

Ziffernschrittwert (Zw), 68

Zwei - Kugel-Verfahren, 120

266

Zwei-Punkt-Messung, 163

Zweikufen - Tastsystem, 180

Zylinderform, 155

Zylinderformprüfgerät, Anwendung, 168

Zylinderformprüfung, 167


Grundlagen des Ingenieurstudiums

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Hrsg. vom DIN Deutsches Institut für Normung e.V. Bearbeitet von Hans W. Geschke, Michael Heimetag, Wolfgang Wehr 23., neubearb. u. erw. Auf!. 1998. 340 S., mit 1803 Abb., tol Tab., 99 Beisp. u. 359 Übungsaufg. Geb. € 23,00 ISBN 3-519-36725-4

Hrsg. vom DIN Deutsches Institut für Normung e.v. Bearbeitet von P. Kiehl, I. Wende, D. Machert, H.P. Grode, W. Goethe, A. Wehrstedt, F. Zentner, E. Liess, N. Breutmann 13., vollst. überarb u. erw. Auf!. 2001. 1208 S., mit 2279 Abb., 793 Tab. u. 391 Beisp. Geb. € 69,00 ISBN 3-519-26301-7

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