Inverse Mikroskope für die Metallurgie

Inverse Mikroskope der ECLIPSE MA200/MA100 Serie für die Metallurgie

2

Merkmale

Die einzigartige kompakte Bauweise verleiht dem MA200 hohe Stabilität, Langlebigkeit und eine kleinere Grundfläche. Alle wichtigen Elemente sind leicht zugänglich: Tischtrieb, Objektivrevolver, HF/DF Wechsler und Blenden befinden sich an der Vorderseite des Geräts.

Nikon bietet metallurgische Umkehrmikroskope in 3 Modellvarianten. Das MA200 ist für alle mikroskopischen Beobachtungsverfahren konzipiert (Hellfeld, Dunkelfeld, einfache Polarisation, Differential-Interferenz-Kontrast (DIC) und Fluoreszenz). Die Modellreihe MA100/MA100L eignet sich für Hellfeldmikroskopie und einfache Polarisation.

*DIA Beleuchtungsoption für die Durchlichtmikroskopie erhältlich.

EinfachePolarisationDunkelfeldHellfeld DIC

LV-LH50PC 12V50W HalogenlampeC-HGFI HG Vorzentriertes Faserlicht (*Option)

Vergrößerungsmodul 1x/1.5x/2x

Kreuztisch MA2-SR (Verfahrweg: 50 x 50 mm)

Beobachtungsverfahren

Kreuztisch

Kompatible Beleuchtung

Fluoreszenz

3

Die Mikroskope der Reihe MA100/MA100L sind kompakte, inverse Mikroskope, die für Hellfeld und einfache Polarisation, entwickelt wurden. Die kleine Grundfläche, stabile Konstruktion des Objekttisches, die Bedienerfreundlichkeit und Hochleistungs-Optik von Nikon machen diese Modellreihe zum idealen System für die tägliche Qualitätskontrolle von Metallen, Kunststoffen, dünnen Beschichtungen, Schadstoffen, Chemikalien, verformungs- und schädigungsgetesteten Werkstoffen, Glas etc. Das MA100 ist mit Halogen- oder LED-Lichtquelle erhältlich.

Nikon bietet metallurgische Umkehrmikroskope in 3 Modellvarianten. Das MA200 ist für alle mikroskopischen Beobachtungsverfahren konzipiert (Hellfeld, Dunkelfeld, einfache Polarisation, Differential-Interferenz-Kontrast (DIC) und Fluoreszenz). Die Modellreihe MA100/MA100L eignet sich für Hellfeldmikroskopie und einfache Polarisation.

6V30W Halogen-Lichtquelle(interne Stromversorgung)

1W LED-Licht(interne Stromversorgung)

Kreuztisch MA-SR (Verfahrweg: 50 x 50 mm)MA-SP TischplatteTI-SM ansetzbarer Kreuztisch CH (Verfahrweg: 126 x 80 mm)*In Verbindung mit MA-SP zu verwenden.

EinfachePolarisationDunkelfeldHellfeld FluoreszenzDIC

Neu

4

12

3 4

5

6

78

9

10

Ein deutlich verbessertes Leistungsvermögen ermöglicht eine klarere Bildbetrachtung.

Eine optimierte, gleichmäßige Ausleuchtung sorgtinsbesondere bei der digitalen Bildgebung für scharfe Bilder.

Kombinieren Sie bis zu acht Bilder mit der Largeimage-Funktion und erzielen Sie naturgetreue, zusammengesetzte, gleichmäßig ausgeleuchtete Bilder – ohne Trennlinien.

TME300 (Herkömmliches Modell)

600

597

341

315

Kleinere Grundfläche als herkömmliche ModelleDreifache Raumeinsparung! Besonders robust dank einzigartiger Kompakt-Bauweise.

Ein kompaktes Mikroskop, das nicht nur sowohl in der Breite, als auch in der Tiefe verkürzt ist: Die Grundfläche ist 2/3 kleiner als bei einem herkömmlichen Modell

Reduzierte Vibration bei hohen Vergrößerungen.Extrem hohe Stabilität.

Das Okular mit dem extraweiten Sichtfeld in Verbindung mit dem neu entwickelten 1-fach Objektivermöglicht die Betrachtung einer Probe mit einem Objektivfeld von 25 mm Durchmesser auf einem Blick.

Die neue Lösung von Nikon:Ein ideales, neues Mikroskop

Kompakte Struktur mit 315 mm Tiefe

Extraweites Sichtfeld

Hohe Stabilität/Langlebigkeit

Gleichmäßige Ausleuchtung

Alle Bedienelemente befinden sich an der Vorderseite des Geräts. Bedienerfreundlich dank einfachem Zugang zu allen wichtigen Bedienelementen.

Automatische Erkennung der im Einsatz befindlichen Objektive und Anzeige der Information auf der Vorderseite des Geräts..

Schnelle Statusprüfung

Das Betrachungsobjektiv bzw. die Vergrößerung kann einfach an der Vorderseite des Mikroskops überprüft werden.

78910

23

6Anschluss für das Polarisator-/Analysator- und FluoreszenzmodulAnzeigeHell-/Dunkelfeld SchieberStrichplatten-EinschubFlexibler Tischtrieb

45

Hebel für StrahlentubusObjektivrevolverAperturblendeneinstellungFeldblendeneinstellungHelligkeitssteuerung

1T Plan EPI 1x

Halb-ApochromatWeites Sichtfeld

ø25mm

ø13.3mm

FOV eines herkömmlichen Modells

Sichtfeld des MA200

Kombinieren Sie bis zu acht Bilder mit der Largeimage-Funktion

Ergonomische Bedienung

Kompakte Bauweise

Hervorragende optische Leistung

5

PolarisationPolarisationsverfahren eignen sich besonders für doppelbrechende Proben. Die MA2-PA Einheit wurde speziell für Aluminiumprüfungen entwickelt.

Aluminiumprüfling

21

3

Mit nur einem Handgriffwerden der Analysator/Polarisator zu- bzw. ausge-schaltet.

DICJe nach Probe können Sieein DIC-Prisma mit Standard- oder hohem Kontrast wählen.DIC eignet sich besonders für die Betrachtung kleiner Höhenabstufungen.

2

1

3

Korngrößenanalyse Die MA2-GR Grain Size Strichplatte kommt bei der Korngrößenanalyse gemäß JISG0551 bzw. ASTM E 112 Norm zum Einsatz. Die MA2-GR Strichplatte wird bei Vermessungen mit allen Objektiven eingesetzt.

MA2-GR Grain Size StrichplatteJIS G0551/10-fach Objektive(100-fache Vergrößerung)ASTM E112/10-fach Objektive(100-fache Vergrößerung)MA2-MR Messstrichplatte

21

2

1

Objektivrevolver & VergrößerungsmodulErmöglicht den Austausch von Informationen zur Position der Objektive zur Vergrößerung und zum Zwischenvergrößerungsmodul mit der DS-L3 Steuerung und der Bildverarbeitungssoftware NIS-Elements.

21

EinlegeplattenWir bieten ein komplettes Sortiment an Einlegeplatten für unterschied-lichste Präparate und Probenformen.

Das MA200 ermöglicht die Erfassung von Informationen und Steuerung der Objektive über die Kontrolleinheit der Digitalkamera – alle für die Bilderfassung wichtigen Voraussetzungen können so optimiert werden.

Digitalkameras der Digital Sight (DS) Serie für die Mikroskopie

KreuztischDie Einlegeplatte wird mit einer Klemme zum Fixieren und Drehen der Probe auf dem Objekttisch geliefert. Der flexible Tischtrieb bietet die für schwere Prüfobjekte erforderliche Stabilität.

1

Detektion der mit den Objektiven erfassten Informationen Automatische Kalibrierung

Objektiv-Steuerung*1

*1: Die Steuerung des Objektivrevolvers ist von der Steuereinheit der Digitalkamera aus in Verbindung mit dem motorisierten Objektivrevolver und der LV-NCNT-2 Steuereinheit der Revolver möglich.

Stand-AloneSteuereinheit DS-L3

SteuereinheitDS-U3 (+NIS-Elements)

DS-Kameraköpfe

MA-2 SR Kreuztisch1

MA2-PA Einheit L-DIHC DIC Prisma (Hoher Kontrast)L-DIC DIC Prisma

13

2

MA2-MC VergrößerungsmodulMA2-NUI5 UniversellerIntelligenter 5-fachObjektivrevolver

12

MA2-PA EinheitMA2-UPA Einheit*MA2- P Platte

123

*Geeignet für die Untersuchung von Aluminiumprüflingen

Hellfeld Polarisation

Zubehör

Kombination mit Digitalkamera

6

Die Auflichtbeleuchtung wird serienmäßig mit einer variablen Aperturblendezur Einstellung von Bildkontrast undTiefenschärfe geliefert.

Einfache Polarisation mit bedienerfreundlichem Polarisator-/Analysatormechnismus

Das MA2-PA Modul umfasst einen Polarisator und Analysator für die Polarisationsmikroskopie. Der Polarisator und Analysator können einfach in den Strahlengang ein- oder ausgeschwenkt werden. Der Polarisator kann außerdem um 360° gedreht werden, um die geeignetste Polari-sationsrichtung für die zu betrachtende Probe einzustellen.

Gleichmäßige Kontrolle sogar bei schweren Prüfobjekten. Ein neu entwickelter Kreuztisch, der besonders robust ist

Nikon hat den neuen Kreuztisch MA-SR für das MA100 entwickelt. Der neue Tisch zeichnet sich durch Stabilität und hohe Lebensdauer aus und ermöglicht die Beobachtung schwerer Proben, einschließlich eingebetteter Proben, die noch im Halter angebracht sind.

Das ECLIPSE MA100 ist ein kompaktes, inverses Mikroskop, das speziell für die Anforderungen der Auflichtlichtmikroskopie für Hellfeld- oder einfache Polarisationsverfahren, konzipiert wurde. Seine kleine Grundfläche, die langlebige Konstruktion, Bedienerfreundlichkeit und überragende Nikon Optik machen dieses Mikroskop zum idealen Tischsystem für metallurgische Prüfteile, Elektronikbauteile, Fehleranalysen, die Materialwissenschaft und Anwendungen der Qualitätskontrolle/-sicherung.

MA100L mit LED-Lichtquelle

Die Modelle MA100 sind nun wahlweise mit LED-Lichtquelle erhältlich. Die helle LED-Lichtquelle zeichnet sich durch einen geringen Stromverbrauch und eine lange Betriebsdauer aus. Folglich sinken die Betriebskosten. Eine Veränderung der LED-Lichtintensität beeinflusst die Farbtemperatur weniger als eine Halogenlichtquelle.

Scharfe, klare Bilder mit der CFI60-2 Optik

Das legendäre Optiksystem CFI60 von Nikon, das in einmaliger Weise hohes Auflösungsvermögen mit großen Arbeitsabständen kombiniert, liefert eine hervorragende Bildqualität

Das herkömmlicheMA100 mit 6V30WHalogenleuchte istweiterhin für Anwender erhältlich, die das Spektrum einer Halogenleuchte wünschen.

Halogenbeleuchtung

LED-Beleuchtung (MA100L)

Premiere eines bedienerfreundlichen, langlebigen inversen Mikroskopsmit unübertroffener Bildqualität, kleiner Grundfläche und einem beeindruckenden Preis-/Leistungsverhältnis.

Polarisator/Analysator

Aperturblende

KreuztischBeleuchtung

7

MA-SP ObjekttischTräger für Acrylobjekte (Standardzubehör/Öffnung 30 mm ø)

MA-SH3 Objektträger 3MA-SRSH1 UniversellerObjektträger 4 Träger für Acrylobjekte(Standardzubehör/ sichelförmige Öffnung)

Einfache PolarisationEin wichtiges Zubehör für die einfachePolarisationsmikroskopie.

MA-P/A Einfacher Polarisator11

Kreuztische + Träger CDie Dreiplatten-Konstruktion des Objekttischs ermöglicht die Betrachtung schwerer Prüfobjekte.

Fester Objekttisch MA-SRObjektträger (Standard-zubehör/ ø20mm Öffnung)

MA-SH3 Objektträger 3MA-SRSH1 Universeller Objektträger5 Objektträger (Standard-zubehör/ ø40mm Öffnung)

12

34

4

5

3 1

Objekttische + Träger B Objekttisch mit zwei Plattformen.

TI-SM Kreuztisch CHC-HU Universeller ObjektträgerMA-SH1 Objektträger 1MA-SH2 Objektträger 2

1234

43

1

2

Tischplatte + Träger A Objekttisch mit einfacher Befestigung.

1234

45

3

5

1

2

Strichplatte für die KorngrößenbestimmungDie Korngrößenverteilung in einer Probe kann einfach während derBildbetrachtung ermittelt werden.

MA100-EPRGS Grain Size Strichplatte1

1

Das ECLIPSE MA100 ist ein kompaktes, inverses Mikroskop, das speziell für die Anforderungen der Auflichtlichtmikroskopie für Hellfeld- oder einfache Polarisationsverfahren, konzipiert wurde. Seine kleine Grundfläche, die langlebige Konstruktion, Bedienerfreundlichkeit und überragende Nikon Optik machen dieses Mikroskop zum idealen Tischsystem für metallurgische Prüfteile, Elektronikbauteile, Fehleranalysen, die Materialwissenschaft und Anwendungen der Qualitätskontrolle/-sicherung.

*Bitte in Verbindung mit dem MA-SP Objekttisch verwenden.

Zubehöre

8

Durch die Verwendung von Phasen-Fresnel-Linsen bieten diese Objektive größere Arbeitsabstände und gleichzeitig eine bessere Korrektur der chromatischenAberration als herkömmlicheObjektive. Die Berechnung von Proben mit Höhenabstu-fungen wird dadurch deut-lich vereinfacht.

Diese universellen Standard-Objektive sind verwendbar für verschiedene Be-obachtungsverfahren wie Hellfeld, Dunkelfeld, einfache Polarisation,Feinpolarisation, Differential-Interferenz und Auflicht-Fluoreszenz.

Zubehör

Modell Vergrößerung NA Arbeitsabstand (mm)

TU Plan BD ELWD 20× 0.4 19.0(Hellfeldvariante) 50× 0.6 11.0 100× 0.8 4.5TU Plan BD ELWD 20× 0.4 19.0(Hellfeld-/Dunkelfeldvariante) 50× 0.6 11.0 100× 0.8 4.5

Das legendäre Optiksystem CFI60 von Nikon, das in einmaliger Weise hohes Auflösungsvermögen mit langen Arbeitsabständen kombiniert, wurde weiterentwickelt, um unter allen Bedingungen exzellente Ergebnisse zu liefern.

Modell Vergrößerung NA Arbeitsabstand (mm)

TU Plan Apo EPI 50× 0.8 2.0(Hellfeldvariante) 100× 0.9 2.0 150× 0.9 1.5TU Plan Fluor BD 50× 0.8 2.0(Hellfeld-/Dunkelfeldvariante) 100× 0.9 2.0 150× 0.9 1.5

Modell Vergrößerung NA Arbeitsabstand (mm)

T Plan EPI 1× 0.03 3.8(Hellfeldvariante) 2.5× 0.075 6.5

* Die Abbildung zeigt Objektive für die Hellfeldmikroskopie (EPI).

* Die Abbildung zeigt Objektive für die Hellfeldmikroskopie (EPI)

* Die Abbildung zeigt Objektive für die Hellfeldmikroskopie (EPI) Weitere Objektive

CFI L Plan EPI 40xHellfeld-Objektive

Das 40-fach Objektiv eignet sich Bestens für die Metallanalyse.

NA: 0.65 Arbeitsabstand: 1.0mm

Langer WD

Semi-apo

LichtMasse

Fly-eyeLinsen

TU Plan Fluor SerieSerienmäßige Objektive

EPI/BD 5x/10x/20x/50x/100x

Modell Vergrößerung NA Arbeitsabstand (mm)

TU Plan Fluor EPI 5× 0.15 23.5(Hellfeldvariante) 10× 0.30 17.5 20× 0.45 4.5 50× 0.80 1.0 100× 0.90 1.0TU Plan Fluor BD 5× 0.15 18.0(Hellfeld-/Dunkelfeldvariante) 10× 0.30 15.0 20× 0.45 4.5 50× 0.80 1.0 100× 0.90 1.0

TU Plan Apo SerieApochromatische Objektive

Durch Verwendung von Phasen-Fresnel-Linsen ermöglichen diese Objektive weitaus längere Arbeitsabstände und erzielen gleichzeitig die über-ragenden Ergebnisse apochro-matischer Linsen durch der chromatische Aberrationskor-rektur. Eine 50x Linse ist neu im Sortiment erhältlich.

50x/100x/150x

Semi-apo

WeitesSicht- feld

Diese für niedrige Vergrößerungen konzipierten Objektive ermöglichen klare Beobachtungen unter Verwendung eines herkömmlichen Analysators/Polarisators sowie funktionsorientierte Beobachtungen ohne Zuhilfenahme eines Analysators/Polarisators.

T Plan EPIObjektive für niedrige Vergrößerungen

EPI 1x/2.5x

Apo LichtGewicht

Langer WD

EPI/BD

LichtGewicht

Semi-apo

Langer WDTU Plan ELWD Series

Objektive mit langen Arbeitsabständen (WD)

20x/50x/100xEPI/BD

9

Mit der DS-L3 können Sie einfache Messungen an Bildern durchführen und diese schriftlich kommentieren.Ihre Kommentare können Sie direkt auf das Bild schreiben und damit abspei-chen, sowie Messdaten ausgeben lassen.

* Weitere Informationen zu den Funktionen des Digital Sight (DS) Kamerasystems finden Sie im Prospekt „Digital Camera Digital Sight Series for Microscopes“.

Stand-Alone Steuerung

Die bedienerfreundliche DS-L3, die mit einer komfortablen TouchPanel-Anzeige und vielfältigen Funktionen ausgestattet ist, ermöglicht eine schnelle Bildaufnahme, selbst ohne PC oder Computerbildschirm.

Messung (2-Punktabstand)

Die Bildgebungssoftware NIS-Elements bietet zahlreiche Funktionen – von der einfachen Bildverarbeitung bis hin zur Steuerung von Mikroskopen und Peripheriegeräten, sowie Vermessung, Analyse und Archivierung der aufge-nommenen Bilder.

Messfunktion

ZeichenfunktionenFunktionen für Positions- und Größenvergleiche

Hochauflösender TouchPanel-MonitorEingebauter 8,4" Monitor (1024 x 768 Pixel) Mit dem gestochen scharfen und bedienerfreundlichen großen TouchPanel-Monitor können Sie den Kamerakopf ganz einfach per Fingerdruck oder Stift steuern und einstellen.

Verschiedene ModiFür jeden Probentyp und jede Betrachtungs-methode lassen sich einfach über Icons optimale Bildgebungsparameter eingeben.

Große Funktionsvielfalt

ComputerbasierteSteuerung

Von der Anzeige über die Aufnahme von Live-Bildern bis hin zur fortgeschrittenen Bildverarbeitung und -analyse – die DS-U3 Kamerasteuerung ermöglicht die Kontrolle aller Funktionen direkt vom PC aus und kann flexibel eingesetzt werden.

Geeignet für zahlreiche AnwendungenMit der Bildgebungssoftware NIS-Elements können Sie Bilder erfassen, verarbeiten und analysieren.

Fügt Bilder aus mehreren Ansichten während des Aufnahme-vorgangs zusammen, um ein Bild in Weitwinkelperspektive zu erstellen. Bereits erfasste Bilder können ebenfalls zusammenge-führt werden.

KorngrößenanalyseErmittelt und vermisst Korngrößen in ein- und zweiphasigen Proben gemäß JIS G0551 bzw. ASTM E112-96/E1382-97 Norm.

Metallguss-AnalyseIdentifiziert, vermisst und klassifiziert Graphit- undFerritrückstände in graphitbereinigten Proben gemäß JIS G5502 bzw. ASTM A247-06 Norm.

Large Image

Wafer/IC

Metall, Keramik/Kunststoff

Leiterplatte

Flachbildschirm-Anzeige

NIS-ElementsUmfassende Software für die BildverarbeitungNIS-ElementsUmfassende Software für die Bildverarbeitung

Manuelle Messung und AutomationenSie können Längen und Bereiche einfach interaktiver vermessen. Die Ergebnisse können mit dem Bild verknüpft und im Textformat in eine Excel-Tabelle exportiert werden.

C-MountAdapter0.55xLV-TV

TV Adapter

V-T Photo Adapter

TV ZoomLinsen

C-MountZoomAdapter C-Mount

Adapter

RelaisLinsen1x

C-MountAdapter0.35x0.45x0.6x0.7x

C-MountAdapterVM2.5x

C-MountAdapterVM4x

C-MountTV Adapter A

C-MountAdapter0.7x

C-Mount CCD Kamera

TU Plan Fluor BDObjektive

TU Plan Apo BDObjektive

TU Plan BD ELWDObjektive

C-ERAugenhöhenverstellung

MA2-MCVergrößerungsmodul

MA2-MR Längenmaß

MA2-GR Korngröße

LV-HGFA HG Faserl-Adapter

C-HGFIFHG Lichttaster (1.5m/3m)

C-HGFIFaserlichtquelle(Manuell)

C-HGFIEFaserlichtquelle(Motorbetrieb)

C-LHGFIHG Lampe

LV-LH50PC 12V50WLampenhaus

LV-HL50W 12V-50W-LL Leuchte

MA2-SRKreuztisch

E

E

CFI UW10x

CFI UW10xM

F

F

EF

C

D

CD

Standard Träger 22(serienmäßig)

MA-SRSH25-40 Objektträger

MA-SRSH1Objektträger

MA-SRSH 10Objektträger

MA-SRSH 40Objektträger

B

TI-C Kondensor

TE-C ELWD-SKondensor

MC TMD2ELWD Linsen

TI-C-LWDLinsen

MA2-DP 100W Säule

DS-L3

MA2-MP2Monitorstativ

TI-PS 100WPS100-240

D-LH/LC Beleuchtungskopf W/LC

Filter 45mm

Filter 45mm ND16 AFilter 45mm ND2 A

Filter 45mm NCB11

Filter 45mm GFI

T-P2DIC Polarisator

MA2-TI3TrinokularTI3 Tubus

C-TBBinokulartubus

MA-TT2Trinokularer Ergotubus*1

MA2- P Platte

MA2-PA Einheit(Polarisator + Analysator)

MA2-FL Unit(G,B,BV,V Erregung)

A

B

D-NID6Intelligenter6-fachDIC Objektivrevolver

D-NI7Intelligenter7-fachObjektivrevolver

LV-NCNT2ObjektivrevolverSteuereinheit

SUV

A

MA2-NUI5Universellerintelligenter5-fachObjektivrevolver

LU ObjektivrevolverAdapterM32-25

LV-DIC SchieberPosition A&B

LV-DIHC Schieber(Hoher Kontrast)Position A&B

A nalysa to r

D-DADIC Analysator

D-LP Platte

S

U

V

LV-NU5AUniversellermotorisierter5-fachObjektivrevolver L-DIC

DIC Prisma

WWW

L-DIHCDIC Prisma(Hoher Kontrast)

12V100WLeuchte

MA2-UPA Einheit(Polarisator + Analysator + 1/4 Platte)

F

C-CTZentrier-Teleskop

CFI15x

CFI12.5x

CFI10xCM

CFI10xM

CFI10x

Mess-okular10xN

Adapter

LV-10xESD

TU Plan Fluor EPI Objektive

TU Plan Apo EPI Objektive

TU Plan EPI ELWDObjektive

T Plan EPI SLWDObjektive

T Plan EPI Objektive*2

Objektivwechsler

MA2-SRSH Specimen Holder Set (with clip)

MA2-SRSH Objektträger-Set (mit Klemme, mm)

ø23 (ø26)für 1”

ø25für 25mm

ø30für 30mm

ø40für 40mm

ø30 (ø33)für 1 1/4”

ø36 (ø39)für 1 1/2”

Systemdiagramm (MA200)

10

*1: Lieferbar.*2: T Plan EPI 1x/2,5x ermöglichen klare Beobachtungen unter Verwendung eines herkömmlichen Analysators/Polarisators sowie funktionsorientierte Beobachtungen ohne Zuhilfenahme eines Analysators/Polarisators.

100V/120V 230V

A

B

B

A

DS KameraSteuereinheitDS-L3

DS Kamera Interfacekabel 20-26

A

DS AC Adapter 2B

6V30WHalogenlampe

MA-P/AEinfache Einrichtung

C-W15x

C-W10xA MA100-EPRGSStrichplatte für Korngrößenbestimmung

C-MountTV Adapter A

C-MountAdapter 0.7x

C

C

DS SerieKamera-kopf

C

MA2-SRSH Objektträger-Set (mit Klemme)

MA2-SRSH Objektträger-Set (mit Klemme, mm)

ø23 (ø26)für 1”

ø25für 25mm

ø30für 30mm

ø40für 40mm

ø30 (ø33)für 1 1/4”

ø36 (ø39)für 1 1/2”

MA-SH1Objektträger 1

TI-SMKreuztisch CH

MA-SRSH1 Universal Objektträger

MA-SH3Objektträger 3

MA-SH2Objektträger 2

C-HUUniverseller Objektträger

T Plan EPIObjektive*1

TU Plan Fluor EPIObjektive

TU Plan Apo EPIObjektive

TU Plan BD ELWDObjektive

T Plan EPI SLWDObjektive

MA-SP Tischplatte(einschließlich 2 Träger für Proben aus Acryl)

MA-SRKreuztisch(einschließlich 2 Objektträger)

Abmessungen

308

521

120

309

15.534157

493

315 124

210

118

170

228

50

124

118

231110

318

45

205

400

123

210

118

228

664

226

90

174230

167

188

231110

205

75

ø57

614

50

3-M5

230

202

107

174

318 40

011

8

210

228

170

124

228

226

9090

118

118

210

167

Systemdiagramm (MA100/MA100L)

11

*1: T Plan EPI 1x/2,5x ermöglichen klare Beobachtungen unter Verwendung eines herkömmlichen Analysators/Polarisators sowie funktionsorientierte Beobachtungen ohne Zuhilfenahme eines Analysators/Polarisators.

Alle Angaben ohne Gewähr. Dezember 2012 ©2006/2007/2008/2009/2011/2012 NIKON CORPORATIONHinweis: Der Export der in dieser Broschüre genannten Produkte* unterliegt der Kontrolle gemäß dem japanischen Devisen- und Außenhandelsgesetz. Das entsprechende Exportverfahren ist bei einem Export aus Japan einzuhalten.*Produkte: Hardware und die entsprechenden technischen Informationen (einschließlich Software)

Spezifikationen (MA100/MA100L)

Optiken CFI60/CFI60-2 SystemBeobachtungsbild Negativ-/ PositivdarstellungObservation method Hellfeld und Polarisation (mit einfachem MA P/A Polarisator-/Analysatorsatz)Fokussierung Fokussierbarer Objektivrevolver (fester Objekttisch), Justierung über koaxialen Grob-/Feintrieb mit 8,5-mm Verfahrweg (Grobeinstellung von 37,7 mm pro Umdrehung, Feineinstellung von 0,2 mm pro Umdrehung)Objektivrevolver Hellfeld 5-fach ObjektivrevolverObjekttisch MA-SR fester 3-Plattentisch 50 x 50 mm Verfahrweg (einschließlich zwei Tischeinsätzen (Öffnung von ø20mm und 40mm) und koaxialem Tischtrieb auf rechter Seite) Die 3-Plattenkonstruktion ermöglicht die Verschiebung der gesamten obere Platte. Optionale Tischeinsätze: MA-SRSH1 Objektträger 1 mit ø15 mm Öffnung oder MA-SH3 Objektträger 3 mit verstellbarer Öffnung von 2 mm bis 32 mm MA-SP Objekttisch 170 x 230mm - Einschließlich zwei Tischeinsätzen (1) klarer Acryl-Tischeinsatz mit Öffnung von ø30 mm, (2) klarer Acryl-Tischeinsatz mit sichelförmiger Öffnung (Breite 30 mm), mit Sicherheitsabstand für die Drehung von stark vergrößernden Objektiven Optionale Tischeinsätze: MA-SRSH1 Objektträger 1 mit 15 mm Öffnung oder MA-SH3 Objektträger 3 mit verstellbarer Öffnung von 2 mm bis 32 mm Geeignet für ansteckbaren Kreuztisch TI-SM Ansteckbarer Kreuztisch TI-SM CH 126mm x 80mm Verfahrweg, Tischtrieb kann rechts oder links am festen Objekttisch angebracht werden Optionale Objektträger für ansteckbaren Kreuztisch: MA-SH1 Objektträger 1 (Öffnung ø15 mm) MA-SH2 Objektträger 2 ( Öffnung ø30mm), oder C-HU Universeller Objektträger (einstellbare Öffnung von 30 mm bis 65 mm)Beleuchtung Interne Stromversorgung 6V30W Halogenleuchte (Long-life) Interne Stromversorgung 1W weiße LED-Lichtquelle Eingebauter Kondensor (Hebelschalter) Eingebauter Kondensor (Hebelschalter) ø25mm Filter (einschließlich NCB11 und ND4) kann eingesetzt werdenBinokulartubus Integrierter Siedentopf-Binokulartubus, mit 45° Neigungswinkel und einstellbarem Augenabstand von 50 bis 75 mmStromverbrauch (max.) 42 W (Nennwert) 3 W (Nennwert)Außenabmessungen 230 x 664 x 381 mm (W x D x H) 230 x 614 x 381 mm (W x D x H)Gewicht 8.4kg 7.2 kg

Spezifikation (MA200)

Haupteinheit Fokussierung Fokussierbarer Objektivrevolver (fester Tisch), koaxiale Grob-/Feintrieb-Friktion einstellbar Grobeinstellung von 4,0 mm pro Umdrehung, Feineinstellung von 0,2 mm pro Umdrehung Beleuchtung Mit Überstrahlungsschutz, eingebauter UV-Filter Feldblende: stufenlos variable Einstellung (zentrierbar), Aperturblende: stufenlos variable Einstellung (zentrierbar) Filter: ND16, ND4/GIF, NCB, weitere Optionen erhältlich, Polarisationsfilter (wahlweise mit oder ohne 1/4 Platte) Fluoreszenzfilter: B/G/V/BV, Eingebaute 12V50W Halogen, C-HGFI HG Faserlicht Lichtteilung Tubus/Rückseitiger Anschluss: 100/0, 55/45Optiken CFI60/CFI60-2 SystemBeobachtungsbild Aufrechtes BildBeobachtungsverfahren Hell-/Dunkelfeld/Einfach Polarisation/DIC/Auflicht-FluoreszenzDrehbare MA2-NUI5: Hellfeld-/Dunkelfeld / DIC 5-Positionen Objektivrevolver, LV-NU5A: Motorisierter Hellfeld-/Dunkelfeld / DIC 5-Positionen ObjektivrevolverObjektivrevolver D-NID6: Hell-/Dunkelfeld 6-Positionen (intelligenter) Objektivrevolver, D-NI7: Hellfeld 7-Positionen (intelligenter) ObjektivrevolverObjekttisch MA2-SR Kreuztisch (flexibler X/Y Tischtrieb) Abmessungen: 295 x 215 mm, Verfahrweg 50 mm x 50 mm (mit Teilung), Standardzubehör: ø22 universeller Objektträger (mit Probenklemme)Trinokular-Okular Siedentopf 50-75mmSpannungsversorgung 100-240V, 50-60HzStromverbrauch 1.2A 75WGewicht Ca. 26 kg (abhängig von Konfiguration)Option Revolver für Zwischenvergrößerungen (1x, 1,5x, 2x), Statuserkennung (Ausgabe von Vergrößerungswerten an die Haupteinheit) Maßverkörperungen MA2-GR Grain Reticle (ASTM E112-63 Korngrößen von 1 bis 8), Messgitter (20 Zeilen, 0,5 mm) MA2-MR Maßstabsgitter (kompatibel mit 5-100x, Anzeige in µm, Dialing System)

Nik

on_M

A10

0/20

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