einladung
Technologie- und Anwenderkongress
dozenTen- und AusbilderTAg
22. – 24. oktober 2014 | Fürstenfeldbruck bei München
was sie auf dem ViP 2014 erwartet
Mittwoch 22. Oktober 20149:30 – 10:30 Begrüßung: Michael Dams, director sales central and eastern europe, national instruments
Keynote: Owen Golden, Vice President global energy segment, national instruments Jean-Christoph Heyne, Vice President Asset Management solutions, siemens Ag, sektor energy
11:00 – 17:00 labView Power Programming
test & Measurement
Verification & Validation
embedded control & Monitoring
daten management Meet the experts workshops seminare
ab 17:00 get-together mit anschließender Party
donnerstag 23. Oktober 20149:00 – 10:30 Keynote: Rahman Jamal, Technical & Marketing director europe, national instruments
Daniel Riedelbauch, Marketing Manager central europe, national instruments
11:00 – 17:00 labView Power Programming
test & Measurement
Verification & Validation
embedded control & Monitoring
Business trends Meet the experts workshops seminare
ab 18:00 hochschulstammtisch
Freitag 24. Oktober 20149:00 – 10:30 Keynote: Dave Wilson, Academic Marketing director, national instruments
Nikolai Rösch, Academic Program Manager central europe, national instruments
11:00 – 17:00 hF-technologien ausbildung und lehre workshops seminare
17:00 ende des dozenten- und ausbildertags
NEu – MEEt tHE ExpERtswir bieten ihnen ein neues Format, um in entspannter Atmosphäre direkt mit Experten in Kontakt zu treten. dabei variieren
die Formate von der Präsentation mit Podiumsdiskussion bis hin zur Aufteilung der Experten in themenspezifische Gruppen. Nutzen
Sie diese Gelegenheit, um sich auszutauschen, individuelle Anregungen einzubringen und wertvolle Tipps und Tricks mitzunehmen.
2 | Inhalt
Inhalt
10 worKshoPs | seMinare
12 – 13 acadeMic
04 Keynotes
05 – 09 Vortragsreihen
14 sPecials
11 ausstellung
15 anMeldung | serVices
Vorwort | 3
05 – 09 Vortragsreihen
Platform-based design
Industrie 4.0, Internet der Dinge,
Cyber-physical systems – wer
kennt diese trends nicht? diese
begriffe sind seit einiger zeit in aller
Munde und waren auch bereits beim
letztjährigen ViP eines der hauptthe-
men. Heute, kaum ein Jahr später,
sind diese Trends omnipräsenter denn
je und geben die richtung vor, in die
sich Forschung, lehre und industrie
künftig entwickeln. Intelligenz und
interaktionsfähigkeit von systemen
werden immer weiter optimiert, doch
dabei steigt auch die komplexität ins
schier Unermessliche. Deshalb bleibt
jedoch nach wie vor die Frage: wie
lassen sich die herausforderungen
bei der entwicklung dieser systeme
heute und in zukunft bewältigen?
eine bewährte Methodik ist die, die
unsere Kunden bereits seit Jahren
einsetzen: der plattformbasierte An-
satz. Auch im kommerziellen Umfeld
ist der Plattformgedanke keineswegs
neu, sondern vielerorts allgegen-
wärtig. Oft nehmen wir allerdings
die uns um gebenden Plattformen
und ihre Vorteile nicht immer in ihrer
gesamtheit wahr und wertschätzen
sie daher nicht. Man denke nur einmal
an das Beispiel der Betriebssysteme.
ob wir nun einen laptop oder ein
mobiles endgerät nutzen, es ist das
betriebssystem, das als intelligente
schnittstelle hardware und Anwen-
dungssoftware verbindet und uns
das tägliche Miteinander zwischen
Mensch und Maschine erleichtert.
niemand würde heute ein Tablet oder
ein smartphone kaufen und erst ein-
mal ein eigenes betriebssystem dafür
entwickeln. Vielmehr wird das ge-
eignete gerät ausgewählt und durch
Anwendungssoftware, die Apps, an
unsere Bedürfnisse angepasst.
die gleiche Philosophie lässt sich
auch auf den entwicklungsbereich
übertragen. Auf Basis der Plattform
für das graphical system design ni
labView werden hardwareressour-
cen abstrahiert und systemlösungen
für die unterschiedlichsten Anwen-
dungsgebiete wie Verification &
Validation, embedded control &
Monitoring sowie Test & Measurement
realisiert. Wiederkehrende Abläufe
und benötigte werkzeuge werden
damit innerhalb der Plattform zur
Verfügung gestellt, sodass lediglich
spezifische Anforderungen durch
individuelle Anwendungsentwicklung
erfüllt werden müssen. Der Nutzen
des „platform-based design“ mit
labView liegt auf der hand: zeit-
und kostenersparnis, die unweigerlich
zu Wettbewerbsvorteilen führen.
deshalb freuen wir uns schon heute
darauf, wieder gemeinsam mit un-
seren Anwendern und Partnern vom
22. bis zum 24. Oktober in Fürstenfeld-
bruck bei München technologische
entwicklungen, Trends und lösungen
rund um das graphical system design
zu präsentieren. Lassen sie sich
diese Gelegenheit nicht entgehen
dabei zu sein, wenn ein Fachpublikum
von mehr als 700 teilnehmern aus
Forschung, Lehre und Industrie
für drei tage zu einem intensiven
Austausch zusammentrifft! Abge-
rundet wird das Programm wie jedes
Jahr durch unseren Dozenten- und
Ausbildertag am 24. Oktober.
sEE yOu At VIp 2014!
Michael Dams Rahman Jamal
director sales central and eastern europe Technical & Marketing director europe
national instruments national instruments
4 | Keynote
keynotes
BEGRüssuNG: MICHAEL DAMs
director sales central and eastern europe, national instruments
tRENDs
Owen Golden
Vice President global
energy segment,
national instruments
Jean-Christoph Heyne
Vice President Asset
Management solutions,
siemens Ag, sektor energy
Am ersten Tag des ViP-kongresses stehen zukünftige
Trends und herausforderungen der energiebranche im Mit-
telpunkt. Die Teilbereiche Erzeugung, Übertragung und
Verteilung werden immer komplexer und sind zunehmend
dem Risiko von Cyberangriffen ausgesetzt. Zahlreiche
unternehmen, sowohl kleine wie auch große, haben viel-
versprechende ideen für die entwicklung eines intelligente-
ren Strom netzes. Damit sich diese Ideen umsetzen lassen,
benötigen ingenieure und wissenschaftler werkzeuge, mit
denen sie innovativ arbeiten können. Erfahren Sie in der
keynote von owen golden, wie national instruments diese
werkzeuge in enger zusammenarbeit mit führenden unter-
nehmen in der Industrie entwickelt.
Jean-Christoph Heyne erläutert aus seinem Blickwinkel,
wel che Maßnahmen ineinandergreifen müssen, damit die
Energie wende gelingen kann. Denn moderne, komplexe
energiesysteme müssen dafür sorgen, dass energie nicht
nur nachhaltig sondern auch zuverlässig und effizient
erzeugt, verlustarm transportiert, intelligent verteilt, ge-
speichert sowie effizient genutzt wird. Die Dynamik im
zukünftigen energiesystem stellt hohe Anforderungen
an Assets und betreiber, die nur auf basis genauer infor-
mationen beherrscht werden können.
tECHNOLOGIEs & AppLICAtIONs
Rahman Jamal
Technical & Marketing
director europe,
national instruments
Daniel Riedelbauch
Marketing Manager
central europe,
national instruments
Am zweiten kongresstag stehen die drei begriffe Produkt-
entwicklungen, Technologien und Trends im Mittelpunkt
der Keynote. Live-Demonstrationen gespickt mit den neu-
esten inhalten aus der entwicklungsabteilung von national
instruments bilden gepaart mit realen Anwendungsbeispie-
len aus Forschung, Lehre und Industrie dabei den Kern.
das spek trum des gezeigten umfasst die bereiche der klas-
sischen Mess- und Prüftechnik, automatisierte Testsysteme
sowie embedded-lösungen für steuer- und regelungstech-
nische Aufgaben. Nutzen Sie die Gelegenheit und erfahren
sie, wie das „platform-based design“ mit ni labView und
seinem gesamten Ökosystem die brennenden Fragen rund um
Industrie 4.0 und Cyber-Physical Systems schon heute
imstande ist zu lösen!
Mittwoch 9:30 – 10:30 Uhr donnerstag 9:00 – 10:30 Uhr
Vortragsreihen | 5
labView Power Programming
Die Vortragsreihe LabVIEW power programming steht
dieses Jahr ganz unter dem Motto Big Applications.
erfahrene Anwender und experten von ni stellen in diesem
rahmen verschiedene herangehensweisen, werkzeuge,
Anwendungen und Lösungen vor.
Anwendungen in labView wachsen mit den Anforde-
rungen. Da der Trend zu immer komplexeren und stärker
integrierten Produkten geht, müssen auch die Testsysteme,
Prototypen und Messtechnik, die diese Produkte möglich
machen, diesem Trend folgen. Dabei steigt nicht nur
die Komplexität der Hardware, sondern auch der Software.
Aus einer kleinen datenerfassung wird so schnell eine
sogenannte „Big APP“ (große Applikation).
Bei der Entwicklung, Wartung und Pflege unterscheiden
sich größere von kleinen Anwendungen beträchtlich. Zum
einen lohnt hier das anfängliche investieren von zeit in
entsprechende Architekturen und herangehensweisen wie
beispielsweise ooP oder dem Akteur-Framework, zum
anderen können zahlreiche werkzeuge dem Programmierer
dabei helfen, der großen Anzahl von VIs, Requirements usw.
Herr zu werden.
die Vortragsreihe ermöglicht einsteigern einen zugang
zu Techniken, werkzeugen und herangehensweisen im
umgang mit big APPs, soll aber auch dem erfahrenen
labView-entwickler Anregungen geben und eine Plattform
zur Diskussion bieten.
Mittwoch 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 12:00 einführung in labView ooP l
stefan kissel, national instruments germany gmbh
12:00 – 12:30 actor Framework – explainedoliver wachno, bürkert werke gmbh
12:30 – 14:00 Mittagspause/Besuch der ausstellung
14:00 – 14:30 actor Framework – in actionoliver wachno, bürkert werke gmbh
14:30 – 15:30 ui design – ideen, Konzepte, anregungenwolfgang zwick, national instruments germany gmbh
15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung
16:00 – 16:30 labView web services – technologie und anwendung lSimon Hogg, National Instruments Corp.
16:30 – 17:00 Gestaltung von Benutzeroberflächen in labView am Beispiel von Forschungsanlagen der chemischen Verfahrenstechnikdominic zuleger, christian Moritz, zumolab
Mittwoch Meet the Experts12:00 – 13:00 Meet the labView experts
national instruments and Friends
donnerstag 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 strukturierte softwareentwicklung mithilfe
des scruM-Modells lJulien de Freitas, National Instruments Switzerland gmbh
11:30 – 12:00 refactoring von großen ProjektenMartin Weiss, Carl Zeiss Jena GmbH
12:00 – 12:30 Bug und Feature tracking in labView durch die anbindung von redmineoliver Frank, oliver buhrz, helmholtz-zentrum geesthacht, zentrum für Material- und küstenforschung gmbh
12:30 – 13:00 Qualitätssicherung durch Code Reviewnorbert brand, national instruments germany gmbh
13:00 – 14:30 Mittagspause/Besuch der ausstellung
14:30 – 15:00 entwickeln von Funktionen für die automatisierte erstellung komplexer anwendungen mit X-controls und Vi-scriptingulf-hendrik hansen, die Messfabrik gmbh
15:00 – 15:30 Modularisierung von labView-applikationen mit Packet libraries lMarco brauner, national instruments germany gmbh
15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung
16:00 – 17:00 datenverwaltung in großen anwendungen – Performanceüberlegungen lnorbert brand, Moritz Mayer, national instruments germany gmbh l
Fü
r Fo
rtg
esch
ritt
ene
6 | Vortragsreihen
Test & Measurement
in einer welt, in der eine Technologie bereits von der nächs-
ten überholt wird, bevor die erste überhaupt den Markt
erschöpft hat, müssen Prüfstände und Tests bereits in der
entwicklungsphase und vor erstellung der ersten Proto -
typen eingesetzt werden, um den gesamten Prozess zu
optimieren. So sollen Systeme flexibel und skalierbar und
doch hochpräzise und leistungsfähig sein, um auf die Anfor-
derungen der Kunden reagieren zu können. So ist der Ein-
satz einer modularen hard- und softwareplattform und einer
offenen Architektur die beste Voraussetzung, um schneller,
kostensparender und erfolgreich ans Ziel zu gelangen.
diese Vortragsreihe zeigt durch praxisbezogene Anwender-
und technologievorträge aus Forschung und Industrie,
wie einfach sich Mess- und Automatisierungs- sowie rF-
Systeme den wechselnden Anforderungen anpassen lassen.
Mittwoch 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 are Modular instruments right for Me?
Bill Driver, National Instruments Corp.
11:30 – 12:00 Messung des Bremsverhaltens eines 2 km langen Güterzuges im stationären PrüfstandLaurent Chatard, Konrad GmbH, Jörg Koch, knorr bremse Ag
12:00 – 12:30 Kraft, druck und Beschleunigung messen mit piezoelektrischen sensoren und labViewMartin stierli, kistler instrumente Ag
12:30 – 13:00 datenerfassungssystem des Vierquadranten-stromrichters für die Plasma-lageregelung von asdeX upgradeAlexander sigalov, claus-Peter käsemann, horst eixenberger, Max-Planck-institut für Plasmaphysik
13:00 – 14:30 Mittagspause/Besuch der ausstellung
14:30 – 15:00 einführung in ni VirtualBenchstefan Albert, national instruments germany gmbh
15:00 – 15:30 Fast and high-Quality Validation of Microcontrollers with ni PXiDr. Hans-Georg Häck, Texas Instruments Deutschland gmbh
15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung
16:00 – 16:30 ni-Vst-basierter utP 9010 rF-Funktionstester für netzwerknoten und Module bei der Qundis gmbh Manuel bogedein, noffz computerTechnik gmbh
16:30 – 17:00 test nonstop – entwicklung und test parallel von tag 1 anMichael riemer, imbus Ag
donnerstag 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 12:00 5 Red Flags to Consider Before Configuring Your
next Measurement systemJim Schwartz, National Instruments Corp.
12:00 – 12:30 smart machine control for the manufacturing of next-generation silicon photonics microchipsignazio Piacentini, Pi micos gmbh
12:30 – 14:00 Mittagspause/Besuch der ausstellung
14:00 – 14:30 Programmierung eines MeMs-Mikrofonssebastian walser, hochschule München
14:30 – 15:00 Flexibler Prüfstand für die modellbasierte entwicklung hydraulischer Komponenten lJulius Hudec, Rausch & Pausch GmbH
15:00 – 15:30 race to the Finish: Build an automated test system in under an hourBill Driver, National Instruments Corp.
15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung
16:00 – 16:30 skriptbasierte automatisierungslösung mit ni compactrio und ni diademholger Müller, a-solution gmbh, Andreas gessler, Aventics gmbh
16:30 – 17:00 hochdynamische Messung des innenwiderstands von BatteriezellenMartin brand, Markus hofmann, Tu München
Mittwoch Meet the Experts11:00 – 12:00 Model-Based engineering for rF applications
with the ni Platformbenjamin Michel, Thomas Frank, national instruments germany gmbh, olivier Pelhatre, Awr germany
l A
uto
mot
ive-
bez
ug
Vortragsreihen | 7
Verification & Validation
die zunehmende komplexität und leistung von systemen
stellt wachsende Anforderungen an die Spezifikation,
Anwendungsentwicklung und den Test. Deshalb verzögern
sich viele Projekte oder scheitern sogar.
in dieser Vortragsreihe erleben die Teilnehmer verschie -
dene Praxisvorträge rund um das Thema Validierung &
Verifizierung von Systemen – von der Anforderungs-
definition über Hardware-in-the-Loop-Tests bis hin zum
konfigurierten, automatisierten Test. Dabei werden sowohl
werkzeuge und Vorgehensweisen zur bewältigung der
gestiegenen Anforderungen, als auch konkrete lösungen
von Kunden und Partnern vorgestellt.
Mittwoch 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 wo sind die requirements hin?
Jürgen Dodek, MTU Friedrichshafen GmbH
11:30 – 12:00 Validation & Verification von A bis ZAndreas stark, national instruments germany gmbh
12:00 – 12:30 Processor-in-the-loop (Pil) für leistungselektronische systemeJens Bielefeldt, KOSTAL Industrie Elektrik GmbH
12:30 – 14:00 Mittagspause/Besuch der ausstellung
14:00 – 14:30 automatisierung von hardware design Verification and Validation Tests lAxel rau, continental Automotive gmbh
14:30 – 15:00 record und Playback von inertialsignalen mittels integrierter ni-basierter in-the-loop-testlaborumgebung für location-Based servicesina Partzsch, Fraunhofer-institut für Verkehrs- und infrastruktursysteme iVi
15:00 – 15:30 teststrategien für elektrische tests nach lV 124 – Vorstellung einer Lösung zur Qualifikation von Steuergeräten nach LV 124 Norm lronald kaempf, ralf zimmermann, wks informatik gmbh
15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung
16:00 – 16:30 integrationstests für schienenfahrzeuge auf Basis von labViewrainer Arnold, Andreas rzezacz, VoiTh engineering services gmbh road & rail
16:30 – 17:00 improving embedded software Quality by testing early and oftenNicholas Keel, National Instruments Corp.
Mittwoch Meet the Experts14:30 – 15:30 Power electronics testing round table
controversy – (Poetry)-slam offene diskussionAndreas stark, national instruments germany gmbh
donnerstag 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 software-in-the-loop-simulation mit ni
Veristand und Visual studio unter Verwendung der ni Veristand execution aPisimon drüke, Fraunhofer-institut für Produktionstechnologie iPT, christian scheering, Miele & Cie. KG
11:30 – 12:00 Performing highly dynamic linear and nonlinear Feedback control of component test Benches with automated controller design lDr. Jörg Paschedag, Marc Scherer, ITK Engineering AG
12:00 – 12:30 Plug&Play Betriebsstrategieintegration in hardware-in-the-loop-PrüfstandssystemeJörg Küfen, Forschungsgesellschaft Kraftfahrwesen Aachen mbh
12:30 – 13:00 das combined energy lab – hardware-in-the-loop-testumgebung für µKwK-anlagenJens Werner, TU Dresden
13:00 – 14:30 Mittagspause/Besuch der ausstellung
14:30 – 15:00 closed-loop control and real-time simulation with ni VeristandNicholas Keel, National Instruments Corp.
15:00 – 15:30 developing elektra, the eol (end-of-line) test system for automotive inverter legidio Vitelli, loccioni deutschland gmbh
15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung
16:00 – 16:30 Grafische Definition von NI-VeriStand-echtzeitsequenzenMarkus Riedesser, CISWORKS GmbH & Co. KG
16:30 – 17:00 testautomatisierung scheinwerfersysteme lcarlos urquizar, Aed engineering gmbh
l A
uto
mot
ive-
bez
ug
l A
uto
mot
ive-
bez
ug
8 | Vortragsreihen
data Management & business Trends
DAtA MANAGEMENt
Auch in diesem Jahr wollen wir Ihnen wieder Anregungen
geben, wie sie die Auswertung ihrer Messdaten richtig
konzipieren. Die Vorträge dieser Reihe zeigen aktuelle
Anwendungen, bewährte Muster zur lösung von Aufgaben
und konzepte, die wir als relevant innerhalb der nächsten
drei bis fünf Jahre einschätzen.
BusINEss tRENDs
Technologische Aspekte und Details stehen jedes Jahr auf
dem VIP-Kongress im Fokus. Doch neben den neuesten
Technologien, die zur Steigerung der Effizienz und Leistung
in Forschung, entwicklung und Produktion erheblich beitra-
gen, darf der ganzheitliche Ansatz des geschäftsszenarios
nicht außer Acht gelassen werden. Abseits der techni-
schen Feinheiten beleuchtet die Vortragsreihe „Business
Trends“ häufig vernachlässigte, organisatorische und
wirtschaftliche Bestandteile eines projekts. hier werden
die technologischen elemente mit prozeduralen, personellen
und kaufmännischen komponenten kombiniert und anhand
praktischer beispiele Ansätze zur optimierung von strate-
gien aufgezeigt. Das Forum bildet die ideale Plattform zum
wissensaustausch für Führungskräfte in leitender Position,
sowie für unternehmer bis hin zur Managementebene!
Mittwoch 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 rettet die datensilos!
Andreas haub, national instruments engineering GmbH & Co. KG
11:30 – 12:00 Big analog dataAndreas haub, national instruments engineering GmbH & Co. KG
12:00 – 12:30 isaaK-X unternehmensweite datenhaltung und PrüfstandsauswertungMartin Winkler, measX GmbH & Co. KG
12:30 – 14:00 Mittagspause/Besuch der ausstellung
14:00 – 15:00 highlights in diadem 2014walter rick, national instruments engineering gmbh & Co. KG
15:00 – 15:30 echtzeit unter windows mit diadem dac und ethercatholger Müller, a-solution gmbh
15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung
16:00 – 16:30 asaM ods: expertensysteme für jedermann mit diadem und dataFinder lstefan romainczyk, national instruments engineering GmbH & Co. KG
16:30 – 17:00 diadem 64 bit – sneak Preview lAndrea Perin, national instruments germany gmbh
donnerstag Meet the Experts12:00 – 13:00 Best Practices bei der datenverwaltung
Anreas haub, walter rick, stefan romainczyk, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG
donnerstag 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 continuous improvement using Knowledge
creation as the FoundationAndrew krupp, Vice President, Quality and continuous Improvement, National Instruments Corp.
11:30 – 12:00 Business Modelling für techies – hilfestellungen für einen erfolgreichen Businessplangünter Pröpster, geschäftsführer, gulf one gmbh
12:00 – 12:30 innovationen und trends im Bereich automotive testingJürgen Wölfle, Manager Testing Technology, conti Temic microelectronic gmbh
12:30 – 13:00 ni startup Program empowers the First highspeed grain-by-grain sorting devicedavid liechti, head of engineering, Qualysense Ag
13:00 – 14:30 Mittagspause/Besuch der ausstellung
14:30 – 15:00 Product development Process – driving Efficiency Improvements at NIAndrew krupp, Vice President, Quality and continuous Improvement, National Instruments Corp.
15:00 – 15:30 Build vs. Buy – chancen der plattformbasierten entwicklung und herausforderungen bei der integrationDr. Wolfram Koerver, Geschäftsführer, S.E.A. Datentechnik GmbH
15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung
16:00 – 16:30 schlüsselelemente einer erfolgreichen standardisierung von PrüfmittelnThomas rönpage, Area sales Manager, national instruments germany gmbh
16:30 – 17:00 Mitarbeiter motiviert durch Zeiten des Wandels führen – herausforderung für jedes unternehmenAndré saller, Area sales Manager, national instruments germany gmbh
l F
ür
Fort
ges
chri
tten
e l
Au
tom
otiv
e-b
ezu
g
Vortragsreihen | 9
embedded control & Monitoring
der rasche Fortschritt und der zunehmende druck, mit
weniger budget immer mehr zu erreichen, lassen neue
Technologien heute schneller als jemals zuvor aus dem
Boden schießen. Darüber hinaus haben auch Kosten
und risiken bei der erstellung qualitativ hochwertiger em-
bedded-systeme zugenommen und viele unternehmen
gelangen an den Rand ihrer Kapazitäten.
in der Vortragsreihe „embedded control & Monitoring“
wird anhand von Anwendervorträgen und anschaulichen
Beispielen aus der Industrie erläutert, wie sie in Ihrem
unternehmen diese Herausforderungen meistern.
Mittwoch 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 a Better approach to embedded systems design
Nicholas Butler, National Instruments Corp.
11:30 – 12:00 aktives energiemanagement eines holzwerkes mithilfe von labView und ni single-Board rios als cyber-Physical systemsPeter Adelhardt, dATA AheAd gmbh, Arthur Naumann, Holzwerke Bullinger GmbH & Co.KG
12:00 – 12:30 hMi solutions for embedded systemsMelanie eisfeld, national instruments germany gmbh
12:30 – 13:00 Modular software and hardware design for systems microscopyDr. Lars Hufnagel, EMBL
13:00 – 14:30 Mittagspause/Besuch der ausstellung
14:30 – 15:00 intelligente eingebettete Mehrkomponenten-Kraftmessplatte für hochdynamische Überwachungs- und regelungsapplikationenoliver Adams, sascha kamps, rwTh Aachen
15:00 – 15:30 smaller size, increased Flexibility: introducing ni‘s newest Board-level embedded targetEric Myers, National Instruments Corp.
15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung
16:00 – 16:30 auf ni single-Board rio basierendes modulares sensor-aktor-testsystemherbert Pichlik, sYsTec gmbh, bert walch, robert bosch gmbh
16:30 – 17:00 labView auf eigener, vernetzter embedded-hardwareMarco schmid, schmid elektronik Ag
donnerstag Meet the Experts11:00 – 12:00 embedded system design – Best Practices and
lessons learnednational instruments and Partners
donnerstag 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 unlocking advanced Features in embedded
control and Monitoring applicationsAurélie uturald, national instruments germany gmbh
11:30 – 12:00 einsatz von labView und compactrio bei der entwicklung eines seegangskompensierenden hebewerkesMark lautermann, Aker solutions
12:00 – 12:30 integration eines compactrio-gesteuerten anti-icing-systems in ein leitsystem der windenergie mittels oPc uaingmar kühl, nordex energy gmbh, klaudius Pinkawa, A.M.S. Software GmbH
12:30 – 14:00 Mittagspause/Besuch der ausstellung
14:00 – 14:30 Infinitus – Entwicklung einer 12 Meter breiten druckmaschineudo schwadke, Tu berlin, stephan cepek, big image systems
14:30 – 15:00 luVo – schwingungsüberwachung an großlagern in KraftwerkenDr. Joachim Hilsmann, measX GmbH & Co. KG, Dr. Bruno van den Heuvel, Udo Denzer, RWE Power AG
15:00 – 15:30 schwingungsmessungen in der Material-qualifizierung für High-End Hybrid-WälzlagerAndreas hergesell, MetadAQ, robert bachmann, cerobeAr gmbh
15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung
16:00 – 16:30 Prozessregelung und leitsystem mit labView und dezentralen ni compactrioJochen Weber, ProNES Automation GmbH, Dr. Gilbert Anderer, AVA Biochem BSL AG
16:30 – 17:00 automatisierung einer hydraulischen richtpresse mit ni compactrionorbert schmotz, universität rostock/FVTr-rostock gmbh
l F
ür
Fort
ges
chri
tten
e l
Au
tom
otiv
e-b
ezu
g
10 | Workshops und seminare
wissen erwerben und praktisch umsetzen
WORKsHOps
erfahrene ni-Mitarbeiter vermitteln in workshops erste
schritte im umgang mit ni-Produkten und unterstützen
Sie dabei, kleine Beispielanwendungen selbst umzusetzen.
sie erhalten eine kompetente einführung in die Funktions-
weise und Anwendungsgebiete der hard- und software
und können Gelerntes anhand praxisorientierter Übungen
gleich selber nachvollziehen. Bitte beachten sie, dass
für eine teilnahme am Workshop eine Anmeldung er-
forderlich ist.
sEMINARE
Neben den Workshops bieten wir Ihnen auch dieses Jahr
wieder seminare an, in denen sie den einstieg in ver-
schiedene ni-Technologien von versierten ni-ingenieuren
vermittelt bekommen. Fachliche Ausführungen werden in
dieser speziellen Vortragsform durch live-demonstrati-
onen verdeutlicht. Die entspannte Atmosphäre in kleiner
Runde erlaubt einen intensiven Austausch zwischen
Zuhörern und NI-Experten.
Mittwoch 11:00–17:00 Uhr11:00–12:30 industrielle Bildverarbeitung mit dem Vision
Builder for automated inspection (VBai) heinz gebel, national instruments germany gmbh
14:00–15:30 einführung in die objektorientierte Programmierung mit labView lDr. Holger Brand, Brand New Technologies
16:00–17:00 interaktives datenmanagement und Berichterstellung mit ni diadem lJonas Leiter, National Instruments Germany GmbH
donnerstag 11:00–17:00 Uhr11:00–12:30 textbasierte Programmierung mit
labwindows/cViFabian raschka, national instruments germany gmbh
14:00–15:30 Software-Defined Radio mit NI USRP lFabian raschka, national instruments germany gmbh
16:00–17:00 interaktives datenmanagement und Berichterstellung mit ni diadem lJonas Leiter, National Instruments Germany GmbH
Mittwoch 11:00–17:00 Uhr11:00–12:30 triggern, takten und synchronisieren mit ni
labViewJonas Leiter, National Instruments Germany GmbH
14:00–15:30 erste schritte mit ni rio – FPga- und echtzeitprogrammierung lAurélie uturald, national instruments germany gmbh
16:00–17:00 einführung in ni Motion lheinz gebel, national instruments germany gmbh
donnerstag 11:00–17:00 Uhr11:00–12:30 softwarevalidierung für embedded-systeme –
implementierung von echtzeit-testapplikationen mit ni Veristand loleg scherling, national instruments germany gmbh
14:00–15:30 neuerungen in ni labView llorenz casper, national instruments germany gmbh
16:00–17:00 testmanagement mit ni teststandAurélie uturald, national instruments germany gmbh l
Fü
r Fo
rtg
esch
ritt
ene
Ausstellung | 11
Ausstellung – knüpfen sie wichtige kontakte
im rahmen des ViP 2014 präsentieren rund 40 Alliance
partner, produktpartner und systemintegratoren
ihre aktuellsten Anwendungen, Lösungen und Produkte.
informieren sie sich auf der großzügigen Ausstellungs-
fläche über die neuesten Entwicklungen und tauschen Sie
sich mit den Ausstellern über deren serviceangebote und
Lösungsstrategien aus.
Von der erstellung eines einzelnen Produkts über ganze
systeme und deren integration bis hin zu beratung und
Training – ViP-Aussteller verfügen über die optimale kom-
bination von technischer Ausstattung und know-how, um
auch anspruchsvolle ingenieurtechnische herausforderun-
gen zu lösen. Unter anderem zeigen wir Ihnen Lösungen
und Anwendungsbeispiele aus den bereichen hardware-
in-the-loop sowie Maschinenzustandsüberwachung und
-steuerung. Da unsere RIO-Architektur 10-jähriges
Jubiläum feiert, widmen wir ihr in diesem Jahr zudem
einen eigenen Ausstellungsbereich.
Mittwoch 9:00 – 18:30 Uhrdonnerstag 9:00 – 17:00 Uhr
DIE AusstELLER
– AMc – Analytik & Messtechnik gmbh chemnitz
– A.M.S. Software GmbH
– a-solution gmbh
– ATX hardware gmbh west
– Awr corporation
– beck-Messtechnik
– berghof Automationstechnik gmbh
– bosch rexroth Ag
– cgs – computer gesteuerte systeme gmbh
– CISWORKS GmbH & Co. KG
– coMsoFT gmbh
– egsTon system electronics eggenburg gmbh
– esz Ag calibration & metrology
– göpel electronic gmbh
– ingun Prüfmittelbau gmbh
– irs systementwicklung gmbh
– iTk engineering Ag
– kistler instrumente gmbh
– konrad gmbh
– MAc Panel company
– measX GmbH & Co. KG
– Mic Mass interface connections gmbh
– Micronova Ag
– national instruments germany gmbh
– noffz computerTechnik gmbh
– Prones Automation gmbh
– safenet germany gmbh
– schmid elektronik Ag
– S.E.A. Datentechnik GmbH
– sepp.med GmbH
– seT gmbh
– sohatex gmbh
– soMA gmbh
– sYsTec gmbh
– Virginia Panel corporation
– Virinco As
– werum software & systems Ag
– wireFlow Ab
– wks informatik gmbh
– Xon software gmbh
Stand: Juni 2014
l F
ür
Fort
ges
chri
tten
e
12 | Academic
Technik begreifen: wir laden sie ein!
KEyNOtE
Dave Wilson
Academic Marketing
director, national
instruments
Nikolai Rösch
Academic Program
Manager central
europe, national
instruments
der dritte Tag des ViP-kongresses ist
einer der größten herausforderungen
gewidmet, der wir uns als ingenieure
und wissenschaftler stellen müssen:
wie können wir durch packende und
mitreißende lehrinhalte dem Fach-
kräftemangel begegnen? ziel unseres
dozenten- und Ausbildertags ist es,
mit aktuellen Technologien und Pro-
dukten für die Ausbildung und lehre
den künftigen generationen mehr
als nur eine praktische erfahrung für
ihre schulische und akademische
Laufbahn zu bieten. Getreu unserem
credo „do engineering“ wird wäh-
rend der keynote Theorie sprichwört-
lich in die Praxis umgesetzt. Wir laden
sie herzlich dazu ein, aktiv an der
gestaltung der lehrpläne von morgen
mitzuwirken!
national instruments bietet ihnen im rahmen des ViP-kongresses 2014 den
kostenfreien dozenten- und Ausbildertag, der unter dem Themenschwerpunkt
„Ausbildung und lehre“ ein breit gefächertes Vortrags- und kursprogramm mit
zukunftsweisenden lehrinhalten und Technologien vorstellt und einblicke in
das NI-Academic-Programm gewährt. An diesem Tag treffen innovative Produkte
auf zukunftsweisende Lehrkonzepte. Werfen Sie einen Blick auf die Themen:
Ausbildung, Lehre und StudiumVerpassen sie nicht, wie theoretische
Themen – beispielsweise Falten,
Filtern und korrelieren – anschaulich,
praktisch und spannend präsentiert
werden. Ziel dieser Vortragsreihe ist
es, ihnen eine Vielzahl von didakti-
schen konzepten, Projektideen und
deren umsetzung sowie lehrplankon-
zepte von lehrenden und Ausbildern
vorzustellen. Nutzen Sie die Chance
zur inspiration und zum gedanken-
austausch mit und unter Kollegen.
HF-Technologiendieser Track ist klein aber fein und
zeigt eindrucksvoll, wie mithilfe von
hard- und software ein praktischer
zugang zur Theorie der nachrichten-
technik geschaffen werden kann –
getreu dem Motto „Technik begrei-
fen“!
Mess- und Regelungstechnikdie Mess- und regelungstechnik
ist ein essentieller bestandteil der
technischen Ausbildung und ein
wesentliches Fachgebiet im rahmen
eines Ingenieurstudiums. Rund um
diese beiden Themen gibt es viele
konzepte und Ansätze zur Vermittlung
von Theorie. Erleben Sie in diesem
Track, wie bereiche von der robotik
bis zur prädiktiven reglung anschau-
lich und praxisorientiert in der lehre
und in Projekten umgesetzt werden.
Workshops und Seminarelernen sie in unseren workshops
erste schritte im umgang mit
ni-Produkten und setzen sie kleine
Beispiel anwendungen selbst um.
in unseren seminaren vermitteln
ihnen versierte ni-ingenieure und
Partner den einstieg in verschiedene
ni-Technologien, die durch live-
demonstrationen verdeutlicht wer-
den. Die entspannte Atmosphäre
in kleiner runde erlaubt einen inten-
siven Austausch zwischen zuhörern
und NI-Experten.
Freitag 9:00 – 10:30 Uhr Freitag 11:00 – 17:00 Uhr
24. OKTOBER 2014
Academic | 13
VORtRAGsREIHEN
hF-technologien11:00 – 11:30 radio data system transmission using
Software-Defined RadiosMatthias schulz, Tu darmstadt
11:30 – 12:00 anschauliche signaltheorie: der adaptive equalizer – lineare Verzerrungen erkennen und nutzenProf. Ulrich Mann, Hochschule Schweinfurt
Mess- und Regelungstechnik12:00 – 12:30 optimierung konventioneller thermischer
trocknungsprozesse von nahrungsmitteln durch modellbasierte prädiktive Regler mithilfe von ni labView und ni myrioAlexander-nicolai köhler, Markus Fischer, hochschule Fulda
12:30 – 13:00 advanced-control-Konzepte zur regelung eines rotatorischen inversen Pendels – implementierung und test auf dem ni-crio-system Prof. Steven Lambeck, Hochschule Fulda
13:00 – 14:30 Mittagspause/Besuch der ausstellung
14:30 – 15:00 implementierung und Vergleich von Bildverarbeitungstechniken und -verfahren für robot VisionProf. Peter Nauth, Fachhochschule Frankfurt a.M.
15:00 – 15:30 Motion control system eines 3-achs-roboters für Pick&Place-aufgabenProf. Ulrich Hoffmann, Stefan Rößner, Norbert Voß, Fachhochschule Aachen
15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung
16:00 – 16:30 Mobile Ganganalyse für Prothesenträger mittels ni myrioJochen Schuy, TU Darmstadt
16:30 – 17:00 laborverdampferstrecke zur mess- und regelungstechnischen Konzeptvalidierung und integration in die lehreAndreas kohlhepp, Tu München
Seminare11:00 – 12:30 lego Mindstorms eV3 für die ausbildung und
lehrekaren schnier, Martin engels, lego education germany
12:30 – 14:00 Mittagspause/Besuch der ausstellung
14:00 – 15:30 ni academic Product line in der anwendungoleg scherling, national instruments germany gmbh
15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung
16:00 – 17:00 schaltungsdesign mit ni elVis, ni Multisim und ni labViewoleg scherling, national instruments germany gmbh
ausbildung und lehre11:00 – 11:30 lernen durch erfahren – Vermittlung
messtechnischer grundlagen an der tu darmstadt mithilfe der ni-myrio-PlattformDr. Jann Neumann, TU Darmstadt
11:30 – 12:00 Futur[e]ing. – Pilotversuch zu einem neuen studiengangskonzept mit labView als fachübergreifende Modellierungs- und entwicklungsplattformProf. Norbert Dahmen, Jost Göttert, hochschule niederrhein
12:00 – 12:30 Praktikum echtzeitprozesssteuerung mit ni labView und ni mydaQ Dr. Oswald Kowalski, TU Ilmenau
12:30 – 13:00 lehrprojekt labView software-entwicklung am Beispiel des Kartenspiels „Mau-Mau“Sindy Schmidt, Jan Jens Koltermann, Tu cottbus-senftenberg
13:00 – 14:30 Mittagspause/Besuch der ausstellung
14:30 – 15:00 Falten, filtern, korrelieren: Signalverarbeitung mit labView in hörsaalexperimenten erlebbar machenProf. Georg Eggers, Hochschule München
15:00 – 15:30 Konzeption und entwicklung eines laborprüfplatzes zur untersuchung von piezo-elektrischen Mikropumpenulrich dahmen, hochschule niederrhein
15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung
16:00 – 16:30 Bau eines kugelförmigen displayslukas bockstaller, gewerbliche schulen waldshut Tiengen
16:30 – 17:00 labView-Programmierung einer verfahrenstechnischen Durchfluss- und regelanlage für die ausbildungDr. Hans Schneider, IPI Ing.-Büro für Prozessinformatik, Hannes Schulze, Dr. Margit Lieback, oberstufenzentrum lausitz
Workshops11:00 – 12:30 ni myrio – einführung in embedded-systeme in
der lehreJohannes Mutterer, National Instruments Germany gmbh
12:30 – 14:00 Mittagspause/Besuch der ausstellung
14:00 – 15:30 ni myrio – steuerung und regelung mit dem Quanser Qube lJohannes Mutterer, National Instruments Germany gmbh
15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung
16:00 – 17:00 Software-Defined Radio mit NI USRPFabian raschka, national instruments germany gmbh l
Fü
r Fo
rtg
esch
ritt
ene
WaRUM
networKing
40+ aussteller
innoVationen Meet the eXPerts
rund 120 Vorträge anwenderlösungen
industrietrends
14 | specials
CLAD-Zertifizierungihr know-how – von experten bescheinigt
get-together Medienpartner
im rahmen des ViP 2014 haben sie die gelegenheit, kostenfrei an der Zertifi-
zierung zum Certified LabVIEW Associate Developer (CLAD) teilzunehmen.
Sollte Ihre CLAD-Zertifizierung bald ablaufen, können Sie sich kostenfrei rezerti-
fizieren lassen. Die Zertifizierungen von National Instruments unterstreichen Ihre
technischen Kenntnisse und Fähigkeiten. Mit der CLAD-Zertifizierung verfügen
sie über einen industrieweit anerkannten Qualitätsnachweis und eine hervor-
ragende Referenz.
Nutzen sie diese Chance – und
sichern sie sich das Rüstzeug
für Ihre nächsten großen Heraus-
forderungen!
Kontakte knüpfen, Gedanken austauschen, Netzwerke pflegen: Auch
der ViP 2014 wird abgerundet durch ein exklusives get-together in entspannter
Atmosphäre. Lassen Sie den ersten Kongresstag beim Abendessen in der
gemütlichen Tenne des Veranstaltungsforums mit angeregten gesprächen
ausklingen. Direkt im Anschluss laden wir Sie im Rahmen der VIP-Party zum
ungezwungenen networking mit referenten, Ausstellern, ni-experten und
anderen Kongressteilnehmern ein.
donnerstag 16:00 – 17:00 UhrFreitag 16:00 – 17:00 Uhr
Mittwoch ab 17:00 Uhr
pREIsE
VIP-Kongresstickets
22. – 23. Okt. 2014 inkl. Abendveranstaltung € 520 | € 465*
22. Oktober 2014 inkl. Abendveranstaltung € 395
23. Oktober 2014 € 335
Gruppenticket (4 für 3)
22. – 23. Okt. 2014 inkl. Abendveranstaltung € 1560 | € 1395*
Hochschultickets
22. – 23. Oktober 2014 inkl. Abendveranstaltung € 300
22. Oktober 2014 inkl. Abendveranstaltung € 200
23. Oktober 2014 € 200
Dozenten- und Ausbildertagtagesticket
24. Oktober 2014 kostenfrei
Alle Preise in Euro zzgl. Mehrwertsteuer* Frühbuchertarif: Gilt bis einschließlich 31. Juli 2014Gruppenticket: Die Teilnehmer müssen der gleichen Firma angehören.Hochschultarif: Gilt für alle Hochschulangehörigen und Studenten.
LEIstuNGEN
Mit der buchung des kongresspasses erhält der Teilnehmer
die berechtigung zur Teilnahme am ViP-kongress 2014
für die Anzahl der gebuchten Kongresstage. Die Kongress-
teilnahme beinhaltet folgende leistungen:
– keynotes und Fachvorträge
– Tagungsband
– zutritt zur Ausstellung
– Abendveranstaltung bei Teilnahme am 22. Oktober 2014
– Tägliches Lunchbuffet und zwei Kaffeepausen inkl.
getränke
ANMELDEBEDINGuNGEN
Das Anmeldeformular finden Sie online unter ni.com/vip
die Anmeldungen werden der reihenfolge nach berück-
sichtigt. Wir empfehlen Ihnen eine frühzeitige Anmeldung.
Rücktrittsbedingungen
die Abmeldung von dieser Veranstaltung muss national
Instruments schriftlich mitgeteilt werden. Es gelten folgen-
de rücktrittsbedingungen:
– Bei Rücktritt bis zum 2. September 2014 wird eine Storno-
gebühr von 50 Euro zzgl. Mehrwertsteuer erhoben.
– Bei Rücktritt ab 3. September 2014 beträgt die Storno-
gebühr 100 % der Teilnahmegebühr.
– Gerne akzeptieren wir einen Ersatzteilnehmer. Bitte teilen
Sie uns dies in schriftlicher Form mit.
Haben sie Fragen zur Anmeldung?
Wir helfen Ihnen gerne weiter. Bitte wenden Sie sich
an Andrea Schütze unter Tel. +49 (0) 89 741313-121 oder
senden Sie eine E-Mail an [email protected].
DIE VIp-2014-sERVICEs – WIR sIND FüR sIE DA!
Hotels
empfehlungen und vorab reservierte kontingente unter:
germany.ni.com/vip/hotels
Bus-shuttle
– von ausgewählten hotels am Morgen
(22./23. Oktober 2014) zum Veranstaltungsort
und abends nach der ViP-Party zurück
– vom Flughafen München zum Veranstaltungsort:
22. Oktober 2014 – Abfahrt 08:30 Uhr
– vom Veranstaltungsort zum Flughafen München:
23. Oktober 2014 – Abfahrt 17:15 Uhr
Übersicht siehe: germany.ni.com/vip/busshuttle
Meet the eXPerts
FrÜhBucherraBattsichern sie sich den Frühbucherrabatt für das
2-tagesticket und das Gruppenticket für 465 €
bzw. 1395 € bis zum 31. Juli 2014.
Anmeldung und services | 15
Anmeldung und services
Medienpartner
donnerstag 16:00 – 17:00 UhrFreitag 16:00 – 17:00 Uhr
VIDEOEINDRüCKE VoN VIP 2013
Veranstaltungsort
Veranstaltungsforum Fürstenfeld
Fürstenfeld 12
82256 Fürstenfeldbruck
bei München
fuerstenfeld.de
Veranstalter
National Instruments Germany GmbH
Ganghoferstraße 70 b
80339 München
Tel.: +49 (0) 89 7413130
Fax: +49 (0) 89 7146035
powered by
ni.com/vip
ni.com/dozententag
Top Related