Technologie- und Anwenderkongress dozenTen- und AusbilderTAg · das spektrum des gezeigten umfasst...

einladung

Technologie- und Anwenderkongress

dozenTen- und AusbilderTAg

22. – 24. oktober 2014 | Fürstenfeldbruck bei München

was sie auf dem ViP 2014 erwartet

Mittwoch 22. Oktober 20149:30 – 10:30 Begrüßung: Michael Dams, director sales central and eastern europe, national instruments

Keynote: Owen Golden, Vice President global energy segment, national instruments Jean-Christoph Heyne, Vice President Asset Management solutions, siemens Ag, sektor energy

11:00 – 17:00 labView Power Programming

test & Measurement

Verification & Validation

embedded control & Monitoring

daten management Meet the experts workshops seminare

ab 17:00 get-together mit anschließender Party

donnerstag 23. Oktober 20149:00 – 10:30 Keynote: Rahman Jamal, Technical & Marketing director europe, national instruments

Daniel Riedelbauch, Marketing Manager central europe, national instruments

11:00 – 17:00 labView Power Programming

test & Measurement



Business trends Meet the experts workshops seminare

ab 18:00 hochschulstammtisch

Freitag 24. Oktober 20149:00 – 10:30 Keynote: Dave Wilson, Academic Marketing director, national instruments

Nikolai Rösch, Academic Program Manager central europe, national instruments

11:00 – 17:00 hF-technologien ausbildung und lehre workshops seminare

17:00 ende des dozenten- und ausbildertags

NEu – MEEt tHE ExpERtswir bieten ihnen ein neues Format, um in entspannter Atmosphäre direkt mit Experten in Kontakt zu treten. dabei variieren

die Formate von der Präsentation mit Podiumsdiskussion bis hin zur Aufteilung der Experten in themenspezifische Gruppen. Nutzen

Sie diese Gelegenheit, um sich auszutauschen, individuelle Anregungen einzubringen und wertvolle Tipps und Tricks mitzunehmen.

2 | Inhalt

Inhalt

10 worKshoPs | seMinare

12 – 13 acadeMic

04 Keynotes

05 – 09 Vortragsreihen

14 sPecials

11 ausstellung

15 anMeldung | serVices

Vorwort | 3

05 – 09 Vortragsreihen

Platform-based design

Industrie 4.0, Internet der Dinge,

Cyber-physical systems – wer

kennt diese trends nicht? diese

begriffe sind seit einiger zeit in aller

Munde und waren auch bereits beim

letztjährigen ViP eines der hauptthe-

men. Heute, kaum ein Jahr später,

sind diese Trends omnipräsenter denn

je und geben die richtung vor, in die

sich Forschung, lehre und industrie

künftig entwickeln. Intelligenz und

interaktionsfähigkeit von systemen

werden immer weiter optimiert, doch

dabei steigt auch die komplexität ins

schier Unermessliche. Deshalb bleibt

jedoch nach wie vor die Frage: wie

lassen sich die herausforderungen

bei der entwicklung dieser systeme

heute und in zukunft bewältigen?

eine bewährte Methodik ist die, die

unsere Kunden bereits seit Jahren

einsetzen: der plattformbasierte An-

satz. Auch im kommerziellen Umfeld

ist der Plattformgedanke keineswegs

neu, sondern vielerorts allgegen-

wärtig. Oft nehmen wir allerdings

die uns um gebenden Plattformen

und ihre Vorteile nicht immer in ihrer

gesamtheit wahr und wertschätzen

sie daher nicht. Man denke nur einmal

an das Beispiel der Betriebssysteme.

ob wir nun einen laptop oder ein

mobiles endgerät nutzen, es ist das

betriebssystem, das als intelligente

schnittstelle hardware und Anwen-

dungssoftware verbindet und uns

das tägliche Miteinander zwischen

Mensch und Maschine erleichtert.

niemand würde heute ein Tablet oder

ein smartphone kaufen und erst ein-

mal ein eigenes betriebssystem dafür

entwickeln. Vielmehr wird das ge-

eignete gerät ausgewählt und durch

Anwendungssoftware, die Apps, an

unsere Bedürfnisse angepasst.

die gleiche Philosophie lässt sich

auch auf den entwicklungsbereich

übertragen. Auf Basis der Plattform

für das graphical system design ni

labView werden hardwareressour-

cen abstrahiert und systemlösungen

für die unterschiedlichsten Anwen-

dungsgebiete wie Verification &

Validation, embedded control &

Monitoring sowie Test & Measurement

realisiert. Wiederkehrende Abläufe

und benötigte werkzeuge werden

damit innerhalb der Plattform zur

Verfügung gestellt, sodass lediglich

spezifische Anforderungen durch

individuelle Anwendungsentwicklung

erfüllt werden müssen. Der Nutzen

des „platform-based design“ mit

labView liegt auf der hand: zeit-

und kostenersparnis, die unweigerlich

zu Wettbewerbsvorteilen führen.

deshalb freuen wir uns schon heute

darauf, wieder gemeinsam mit un-

seren Anwendern und Partnern vom

22. bis zum 24. Oktober in Fürstenfeld-

bruck bei München technologische

entwicklungen, Trends und lösungen

rund um das graphical system design

zu präsentieren. Lassen sie sich

diese Gelegenheit nicht entgehen

dabei zu sein, wenn ein Fachpublikum

von mehr als 700 teilnehmern aus

Forschung, Lehre und Industrie

für drei tage zu einem intensiven

Austausch zusammentrifft! Abge-

rundet wird das Programm wie jedes

Jahr durch unseren Dozenten- und

Ausbildertag am 24. Oktober.

sEE yOu At VIp 2014!

Michael Dams Rahman Jamal

director sales central and eastern europe Technical & Marketing director europe

national instruments national instruments

4 | Keynote

keynotes

BEGRüssuNG: MICHAEL DAMs

director sales central and eastern europe, national instruments

tRENDs

Owen Golden

Vice President global

energy segment,

national instruments

Jean-Christoph Heyne

Vice President Asset

Management solutions,

siemens Ag, sektor energy

Am ersten Tag des ViP-kongresses stehen zukünftige

Trends und herausforderungen der energiebranche im Mit-

telpunkt. Die Teilbereiche Erzeugung, Übertragung und

Verteilung werden immer komplexer und sind zunehmend

dem Risiko von Cyberangriffen ausgesetzt. Zahlreiche

unternehmen, sowohl kleine wie auch große, haben viel-

versprechende ideen für die entwicklung eines intelligente-

ren Strom netzes. Damit sich diese Ideen umsetzen lassen,

benötigen ingenieure und wissenschaftler werkzeuge, mit

denen sie innovativ arbeiten können. Erfahren Sie in der

keynote von owen golden, wie national instruments diese

werkzeuge in enger zusammenarbeit mit führenden unter-

nehmen in der Industrie entwickelt.

Jean-Christoph Heyne erläutert aus seinem Blickwinkel,

wel che Maßnahmen ineinandergreifen müssen, damit die

Energie wende gelingen kann. Denn moderne, komplexe

energiesysteme müssen dafür sorgen, dass energie nicht

nur nachhaltig sondern auch zuverlässig und effizient

erzeugt, verlustarm transportiert, intelligent verteilt, ge-

speichert sowie effizient genutzt wird. Die Dynamik im

zukünftigen energiesystem stellt hohe Anforderungen

an Assets und betreiber, die nur auf basis genauer infor-

mationen beherrscht werden können.

tECHNOLOGIEs & AppLICAtIONs

Rahman Jamal

Technical & Marketing

director europe,


Daniel Riedelbauch

Marketing Manager

central europe,


Am zweiten kongresstag stehen die drei begriffe Produkt-

entwicklungen, Technologien und Trends im Mittelpunkt

der Keynote. Live-Demonstrationen gespickt mit den neu-

esten inhalten aus der entwicklungsabteilung von national

instruments bilden gepaart mit realen Anwendungsbeispie-

len aus Forschung, Lehre und Industrie dabei den Kern.

das spek trum des gezeigten umfasst die bereiche der klas-

sischen Mess- und Prüftechnik, automatisierte Testsysteme

sowie embedded-lösungen für steuer- und regelungstech-

nische Aufgaben. Nutzen Sie die Gelegenheit und erfahren

sie, wie das „platform-based design“ mit ni labView und

seinem gesamten Ökosystem die brennenden Fragen rund um

Industrie 4.0 und Cyber-Physical Systems schon heute

imstande ist zu lösen!

Mittwoch 9:30 – 10:30 Uhr donnerstag 9:00 – 10:30 Uhr

Vortragsreihen | 5

labView Power Programming

Die Vortragsreihe LabVIEW power programming steht

dieses Jahr ganz unter dem Motto Big Applications.

erfahrene Anwender und experten von ni stellen in diesem

rahmen verschiedene herangehensweisen, werkzeuge,

Anwendungen und Lösungen vor.

Anwendungen in labView wachsen mit den Anforde-

rungen. Da der Trend zu immer komplexeren und stärker

integrierten Produkten geht, müssen auch die Testsysteme,

Prototypen und Messtechnik, die diese Produkte möglich

machen, diesem Trend folgen. Dabei steigt nicht nur

die Komplexität der Hardware, sondern auch der Software.

Aus einer kleinen datenerfassung wird so schnell eine

sogenannte „Big APP“ (große Applikation).

Bei der Entwicklung, Wartung und Pflege unterscheiden

sich größere von kleinen Anwendungen beträchtlich. Zum

einen lohnt hier das anfängliche investieren von zeit in

entsprechende Architekturen und herangehensweisen wie

beispielsweise ooP oder dem Akteur-Framework, zum

anderen können zahlreiche werkzeuge dem Programmierer

dabei helfen, der großen Anzahl von VIs, Requirements usw.

Herr zu werden.

die Vortragsreihe ermöglicht einsteigern einen zugang

zu Techniken, werkzeugen und herangehensweisen im

umgang mit big APPs, soll aber auch dem erfahrenen

labView-entwickler Anregungen geben und eine Plattform

zur Diskussion bieten.

Mittwoch 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 12:00 einführung in labView ooP l

stefan kissel, national instruments germany gmbh

12:00 – 12:30 actor Framework – explainedoliver wachno, bürkert werke gmbh

12:30 – 14:00 Mittagspause/Besuch der ausstellung

14:00 – 14:30 actor Framework – in actionoliver wachno, bürkert werke gmbh

14:30 – 15:30 ui design – ideen, Konzepte, anregungenwolfgang zwick, national instruments germany gmbh

15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der ausstellung

16:00 – 16:30 labView web services – technologie und anwendung lSimon Hogg, National Instruments Corp.

16:30 – 17:00 Gestaltung von Benutzeroberflächen in labView am Beispiel von Forschungsanlagen der chemischen Verfahrenstechnikdominic zuleger, christian Moritz, zumolab

Mittwoch Meet the Experts12:00 – 13:00 Meet the labView experts

national instruments and Friends

donnerstag 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 strukturierte softwareentwicklung mithilfe

des scruM-Modells lJulien de Freitas, National Instruments Switzerland gmbh

11:30 – 12:00 refactoring von großen ProjektenMartin Weiss, Carl Zeiss Jena GmbH

12:00 – 12:30 Bug und Feature tracking in labView durch die anbindung von redmineoliver Frank, oliver buhrz, helmholtz-zentrum geesthacht, zentrum für Material- und küstenforschung gmbh

12:30 – 13:00 Qualitätssicherung durch Code Reviewnorbert brand, national instruments germany gmbh


14:30 – 15:00 entwickeln von Funktionen für die automatisierte erstellung komplexer anwendungen mit X-controls und Vi-scriptingulf-hendrik hansen, die Messfabrik gmbh

15:00 – 15:30 Modularisierung von labView-applikationen mit Packet libraries lMarco brauner, national instruments germany gmbh


16:00 – 17:00 datenverwaltung in großen anwendungen – Performanceüberlegungen lnorbert brand, Moritz Mayer, national instruments germany gmbh l

Fü

r Fo

rtg

esch

ritt

ene

6 | Vortragsreihen

Test & Measurement

in einer welt, in der eine Technologie bereits von der nächs-

ten überholt wird, bevor die erste überhaupt den Markt

erschöpft hat, müssen Prüfstände und Tests bereits in der

entwicklungsphase und vor erstellung der ersten Proto -

typen eingesetzt werden, um den gesamten Prozess zu

optimieren. So sollen Systeme flexibel und skalierbar und

doch hochpräzise und leistungsfähig sein, um auf die Anfor-

derungen der Kunden reagieren zu können. So ist der Ein-

satz einer modularen hard- und softwareplattform und einer

offenen Architektur die beste Voraussetzung, um schneller,

kostensparender und erfolgreich ans Ziel zu gelangen.

diese Vortragsreihe zeigt durch praxisbezogene Anwender-

und technologievorträge aus Forschung und Industrie,

wie einfach sich Mess- und Automatisierungs- sowie rF-

Systeme den wechselnden Anforderungen anpassen lassen.

Mittwoch 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 are Modular instruments right for Me?

Bill Driver, National Instruments Corp.

11:30 – 12:00 Messung des Bremsverhaltens eines 2 km langen Güterzuges im stationären PrüfstandLaurent Chatard, Konrad GmbH, Jörg Koch, knorr bremse Ag

12:00 – 12:30 Kraft, druck und Beschleunigung messen mit piezoelektrischen sensoren und labViewMartin stierli, kistler instrumente Ag

12:30 – 13:00 datenerfassungssystem des Vierquadranten-stromrichters für die Plasma-lageregelung von asdeX upgradeAlexander sigalov, claus-Peter käsemann, horst eixenberger, Max-Planck-institut für Plasmaphysik


14:30 – 15:00 einführung in ni VirtualBenchstefan Albert, national instruments germany gmbh

15:00 – 15:30 Fast and high-Quality Validation of Microcontrollers with ni PXiDr. Hans-Georg Häck, Texas Instruments Deutschland gmbh


16:00 – 16:30 ni-Vst-basierter utP 9010 rF-Funktionstester für netzwerknoten und Module bei der Qundis gmbh Manuel bogedein, noffz computerTechnik gmbh

16:30 – 17:00 test nonstop – entwicklung und test parallel von tag 1 anMichael riemer, imbus Ag

donnerstag 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 12:00 5 Red Flags to Consider Before Configuring Your

next Measurement systemJim Schwartz, National Instruments Corp.

12:00 – 12:30 smart machine control for the manufacturing of next-generation silicon photonics microchipsignazio Piacentini, Pi micos gmbh


14:00 – 14:30 Programmierung eines MeMs-Mikrofonssebastian walser, hochschule München

14:30 – 15:00 Flexibler Prüfstand für die modellbasierte entwicklung hydraulischer Komponenten lJulius Hudec, Rausch & Pausch GmbH

15:00 – 15:30 race to the Finish: Build an automated test system in under an hourBill Driver, National Instruments Corp.


16:00 – 16:30 skriptbasierte automatisierungslösung mit ni compactrio und ni diademholger Müller, a-solution gmbh, Andreas gessler, Aventics gmbh

16:30 – 17:00 hochdynamische Messung des innenwiderstands von BatteriezellenMartin brand, Markus hofmann, Tu München

Mittwoch Meet the Experts11:00 – 12:00 Model-Based engineering for rF applications

with the ni Platformbenjamin Michel, Thomas Frank, national instruments germany gmbh, olivier Pelhatre, Awr germany

l A

uto

mot

ive-

bez

ug

Vortragsreihen | 7


die zunehmende komplexität und leistung von systemen

stellt wachsende Anforderungen an die Spezifikation,

Anwendungsentwicklung und den Test. Deshalb verzögern

sich viele Projekte oder scheitern sogar.

in dieser Vortragsreihe erleben die Teilnehmer verschie -

dene Praxisvorträge rund um das Thema Validierung &

Verifizierung von Systemen – von der Anforderungs-

definition über Hardware-in-the-Loop-Tests bis hin zum

konfigurierten, automatisierten Test. Dabei werden sowohl

werkzeuge und Vorgehensweisen zur bewältigung der

gestiegenen Anforderungen, als auch konkrete lösungen

von Kunden und Partnern vorgestellt.

Mittwoch 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 wo sind die requirements hin?

Jürgen Dodek, MTU Friedrichshafen GmbH

11:30 – 12:00 Validation & Verification von A bis ZAndreas stark, national instruments germany gmbh

12:00 – 12:30 Processor-in-the-loop (Pil) für leistungselektronische systemeJens Bielefeldt, KOSTAL Industrie Elektrik GmbH


14:00 – 14:30 automatisierung von hardware design Verification and Validation Tests lAxel rau, continental Automotive gmbh

14:30 – 15:00 record und Playback von inertialsignalen mittels integrierter ni-basierter in-the-loop-testlaborumgebung für location-Based servicesina Partzsch, Fraunhofer-institut für Verkehrs- und infrastruktursysteme iVi

15:00 – 15:30 teststrategien für elektrische tests nach lV 124 – Vorstellung einer Lösung zur Qualifikation von Steuergeräten nach LV 124 Norm lronald kaempf, ralf zimmermann, wks informatik gmbh


16:00 – 16:30 integrationstests für schienenfahrzeuge auf Basis von labViewrainer Arnold, Andreas rzezacz, VoiTh engineering services gmbh road & rail

16:30 – 17:00 improving embedded software Quality by testing early and oftenNicholas Keel, National Instruments Corp.

Mittwoch Meet the Experts14:30 – 15:30 Power electronics testing round table

controversy – (Poetry)-slam offene diskussionAndreas stark, national instruments germany gmbh

donnerstag 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 software-in-the-loop-simulation mit ni

Veristand und Visual studio unter Verwendung der ni Veristand execution aPisimon drüke, Fraunhofer-institut für Produktionstechnologie iPT, christian scheering, Miele & Cie. KG

11:30 – 12:00 Performing highly dynamic linear and nonlinear Feedback control of component test Benches with automated controller design lDr. Jörg Paschedag, Marc Scherer, ITK Engineering AG

12:00 – 12:30 Plug&Play Betriebsstrategieintegration in hardware-in-the-loop-PrüfstandssystemeJörg Küfen, Forschungsgesellschaft Kraftfahrwesen Aachen mbh

12:30 – 13:00 das combined energy lab – hardware-in-the-loop-testumgebung für µKwK-anlagenJens Werner, TU Dresden


14:30 – 15:00 closed-loop control and real-time simulation with ni VeristandNicholas Keel, National Instruments Corp.

15:00 – 15:30 developing elektra, the eol (end-of-line) test system for automotive inverter legidio Vitelli, loccioni deutschland gmbh


16:00 – 16:30 Grafische Definition von NI-VeriStand-echtzeitsequenzenMarkus Riedesser, CISWORKS GmbH & Co. KG

16:30 – 17:00 testautomatisierung scheinwerfersysteme lcarlos urquizar, Aed engineering gmbh

l A

uto

mot

ive-

bez

ug

l A

uto

mot

ive-

bez

ug

8 | Vortragsreihen

data Management & business Trends

DAtA MANAGEMENt

Auch in diesem Jahr wollen wir Ihnen wieder Anregungen

geben, wie sie die Auswertung ihrer Messdaten richtig

konzipieren. Die Vorträge dieser Reihe zeigen aktuelle

Anwendungen, bewährte Muster zur lösung von Aufgaben

und konzepte, die wir als relevant innerhalb der nächsten

drei bis fünf Jahre einschätzen.

BusINEss tRENDs

Technologische Aspekte und Details stehen jedes Jahr auf

dem VIP-Kongress im Fokus. Doch neben den neuesten

Technologien, die zur Steigerung der Effizienz und Leistung

in Forschung, entwicklung und Produktion erheblich beitra-

gen, darf der ganzheitliche Ansatz des geschäftsszenarios

nicht außer Acht gelassen werden. Abseits der techni-

schen Feinheiten beleuchtet die Vortragsreihe „Business

Trends“ häufig vernachlässigte, organisatorische und

wirtschaftliche Bestandteile eines projekts. hier werden

die technologischen elemente mit prozeduralen, personellen

und kaufmännischen komponenten kombiniert und anhand

praktischer beispiele Ansätze zur optimierung von strate-

gien aufgezeigt. Das Forum bildet die ideale Plattform zum

wissensaustausch für Führungskräfte in leitender Position,

sowie für unternehmer bis hin zur Managementebene!

Mittwoch 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 rettet die datensilos!

Andreas haub, national instruments engineering GmbH & Co. KG

11:30 – 12:00 Big analog dataAndreas haub, national instruments engineering GmbH & Co. KG

12:00 – 12:30 isaaK-X unternehmensweite datenhaltung und PrüfstandsauswertungMartin Winkler, measX GmbH & Co. KG


14:00 – 15:00 highlights in diadem 2014walter rick, national instruments engineering gmbh & Co. KG

15:00 – 15:30 echtzeit unter windows mit diadem dac und ethercatholger Müller, a-solution gmbh


16:00 – 16:30 asaM ods: expertensysteme für jedermann mit diadem und dataFinder lstefan romainczyk, national instruments engineering GmbH & Co. KG

16:30 – 17:00 diadem 64 bit – sneak Preview lAndrea Perin, national instruments germany gmbh

donnerstag Meet the Experts12:00 – 13:00 Best Practices bei der datenverwaltung

Anreas haub, walter rick, stefan romainczyk, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG

donnerstag 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 continuous improvement using Knowledge

creation as the FoundationAndrew krupp, Vice President, Quality and continuous Improvement, National Instruments Corp.

11:30 – 12:00 Business Modelling für techies – hilfestellungen für einen erfolgreichen Businessplangünter Pröpster, geschäftsführer, gulf one gmbh

12:00 – 12:30 innovationen und trends im Bereich automotive testingJürgen Wölfle, Manager Testing Technology, conti Temic microelectronic gmbh

12:30 – 13:00 ni startup Program empowers the First highspeed grain-by-grain sorting devicedavid liechti, head of engineering, Qualysense Ag


14:30 – 15:00 Product development Process – driving Efficiency Improvements at NIAndrew krupp, Vice President, Quality and continuous Improvement, National Instruments Corp.

15:00 – 15:30 Build vs. Buy – chancen der plattformbasierten entwicklung und herausforderungen bei der integrationDr. Wolfram Koerver, Geschäftsführer, S.E.A. Datentechnik GmbH


16:00 – 16:30 schlüsselelemente einer erfolgreichen standardisierung von PrüfmittelnThomas rönpage, Area sales Manager, national instruments germany gmbh

16:30 – 17:00 Mitarbeiter motiviert durch Zeiten des Wandels führen – herausforderung für jedes unternehmenAndré saller, Area sales Manager, national instruments germany gmbh

l F

ür

Fort

ges

chri

tten

e l

Au

tom

otiv

e-b

ezu

g

Vortragsreihen | 9


der rasche Fortschritt und der zunehmende druck, mit

weniger budget immer mehr zu erreichen, lassen neue

Technologien heute schneller als jemals zuvor aus dem

Boden schießen. Darüber hinaus haben auch Kosten

und risiken bei der erstellung qualitativ hochwertiger em-

bedded-systeme zugenommen und viele unternehmen

gelangen an den Rand ihrer Kapazitäten.

in der Vortragsreihe „embedded control & Monitoring“

wird anhand von Anwendervorträgen und anschaulichen

Beispielen aus der Industrie erläutert, wie sie in Ihrem

unternehmen diese Herausforderungen meistern.

Mittwoch 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 a Better approach to embedded systems design

Nicholas Butler, National Instruments Corp.

11:30 – 12:00 aktives energiemanagement eines holzwerkes mithilfe von labView und ni single-Board rios als cyber-Physical systemsPeter Adelhardt, dATA AheAd gmbh, Arthur Naumann, Holzwerke Bullinger GmbH & Co.KG

12:00 – 12:30 hMi solutions for embedded systemsMelanie eisfeld, national instruments germany gmbh

12:30 – 13:00 Modular software and hardware design for systems microscopyDr. Lars Hufnagel, EMBL


14:30 – 15:00 intelligente eingebettete Mehrkomponenten-Kraftmessplatte für hochdynamische Überwachungs- und regelungsapplikationenoliver Adams, sascha kamps, rwTh Aachen

15:00 – 15:30 smaller size, increased Flexibility: introducing ni‘s newest Board-level embedded targetEric Myers, National Instruments Corp.


16:00 – 16:30 auf ni single-Board rio basierendes modulares sensor-aktor-testsystemherbert Pichlik, sYsTec gmbh, bert walch, robert bosch gmbh

16:30 – 17:00 labView auf eigener, vernetzter embedded-hardwareMarco schmid, schmid elektronik Ag

donnerstag Meet the Experts11:00 – 12:00 embedded system design – Best Practices and

lessons learnednational instruments and Partners

donnerstag 11:00 – 17:00 Uhr11:00 – 11:30 unlocking advanced Features in embedded

control and Monitoring applicationsAurélie uturald, national instruments germany gmbh

11:30 – 12:00 einsatz von labView und compactrio bei der entwicklung eines seegangskompensierenden hebewerkesMark lautermann, Aker solutions

12:00 – 12:30 integration eines compactrio-gesteuerten anti-icing-systems in ein leitsystem der windenergie mittels oPc uaingmar kühl, nordex energy gmbh, klaudius Pinkawa, A.M.S. Software GmbH


14:00 – 14:30 Infinitus – Entwicklung einer 12 Meter breiten druckmaschineudo schwadke, Tu berlin, stephan cepek, big image systems

14:30 – 15:00 luVo – schwingungsüberwachung an großlagern in KraftwerkenDr. Joachim Hilsmann, measX GmbH & Co. KG, Dr. Bruno van den Heuvel, Udo Denzer, RWE Power AG

15:00 – 15:30 schwingungsmessungen in der Material-qualifizierung für High-End Hybrid-WälzlagerAndreas hergesell, MetadAQ, robert bachmann, cerobeAr gmbh


16:00 – 16:30 Prozessregelung und leitsystem mit labView und dezentralen ni compactrioJochen Weber, ProNES Automation GmbH, Dr. Gilbert Anderer, AVA Biochem BSL AG

16:30 – 17:00 automatisierung einer hydraulischen richtpresse mit ni compactrionorbert schmotz, universität rostock/FVTr-rostock gmbh

l F

ür

Fort

ges

chri

tten

e l

Au

tom

otiv

e-b

ezu

g

10 | Workshops und seminare

wissen erwerben und praktisch umsetzen

WORKsHOps

erfahrene ni-Mitarbeiter vermitteln in workshops erste

schritte im umgang mit ni-Produkten und unterstützen

Sie dabei, kleine Beispielanwendungen selbst umzusetzen.

sie erhalten eine kompetente einführung in die Funktions-

weise und Anwendungsgebiete der hard- und software

und können Gelerntes anhand praxisorientierter Übungen

gleich selber nachvollziehen. Bitte beachten sie, dass

für eine teilnahme am Workshop eine Anmeldung er-

forderlich ist.

sEMINARE

Neben den Workshops bieten wir Ihnen auch dieses Jahr

wieder seminare an, in denen sie den einstieg in ver-

schiedene ni-Technologien von versierten ni-ingenieuren

vermittelt bekommen. Fachliche Ausführungen werden in

dieser speziellen Vortragsform durch live-demonstrati-

onen verdeutlicht. Die entspannte Atmosphäre in kleiner

Runde erlaubt einen intensiven Austausch zwischen

Zuhörern und NI-Experten.

Mittwoch 11:00–17:00 Uhr11:00–12:30 industrielle Bildverarbeitung mit dem Vision

Builder for automated inspection (VBai) heinz gebel, national instruments germany gmbh

14:00–15:30 einführung in die objektorientierte Programmierung mit labView lDr. Holger Brand, Brand New Technologies

16:00–17:00 interaktives datenmanagement und Berichterstellung mit ni diadem lJonas Leiter, National Instruments Germany GmbH

donnerstag 11:00–17:00 Uhr11:00–12:30 textbasierte Programmierung mit

labwindows/cViFabian raschka, national instruments germany gmbh

14:00–15:30 Software-Defined Radio mit NI USRP lFabian raschka, national instruments germany gmbh

16:00–17:00 interaktives datenmanagement und Berichterstellung mit ni diadem lJonas Leiter, National Instruments Germany GmbH

Mittwoch 11:00–17:00 Uhr11:00–12:30 triggern, takten und synchronisieren mit ni

labViewJonas Leiter, National Instruments Germany GmbH

14:00–15:30 erste schritte mit ni rio – FPga- und echtzeitprogrammierung lAurélie uturald, national instruments germany gmbh

16:00–17:00 einführung in ni Motion lheinz gebel, national instruments germany gmbh

donnerstag 11:00–17:00 Uhr11:00–12:30 softwarevalidierung für embedded-systeme –

implementierung von echtzeit-testapplikationen mit ni Veristand loleg scherling, national instruments germany gmbh

14:00–15:30 neuerungen in ni labView llorenz casper, national instruments germany gmbh

16:00–17:00 testmanagement mit ni teststandAurélie uturald, national instruments germany gmbh l

Fü

r Fo

rtg

esch

ritt

ene

Ausstellung | 11

Ausstellung – knüpfen sie wichtige kontakte

im rahmen des ViP 2014 präsentieren rund 40 Alliance

partner, produktpartner und systemintegratoren

ihre aktuellsten Anwendungen, Lösungen und Produkte.

informieren sie sich auf der großzügigen Ausstellungs-

fläche über die neuesten Entwicklungen und tauschen Sie

sich mit den Ausstellern über deren serviceangebote und

Lösungsstrategien aus.

Von der erstellung eines einzelnen Produkts über ganze

systeme und deren integration bis hin zu beratung und

Training – ViP-Aussteller verfügen über die optimale kom-

bination von technischer Ausstattung und know-how, um

auch anspruchsvolle ingenieurtechnische herausforderun-

gen zu lösen. Unter anderem zeigen wir Ihnen Lösungen

und Anwendungsbeispiele aus den bereichen hardware-

in-the-loop sowie Maschinenzustandsüberwachung und

-steuerung. Da unsere RIO-Architektur 10-jähriges

Jubiläum feiert, widmen wir ihr in diesem Jahr zudem

einen eigenen Ausstellungsbereich.

Mittwoch 9:00 – 18:30 Uhrdonnerstag 9:00 – 17:00 Uhr

DIE AusstELLER

– AMc – Analytik & Messtechnik gmbh chemnitz

– A.M.S. Software GmbH

– a-solution gmbh

– ATX hardware gmbh west

– Awr corporation

– beck-Messtechnik

– berghof Automationstechnik gmbh

– bosch rexroth Ag

– cgs – computer gesteuerte systeme gmbh

– CISWORKS GmbH & Co. KG

– coMsoFT gmbh

– egsTon system electronics eggenburg gmbh

– esz Ag calibration & metrology

– göpel electronic gmbh

– ingun Prüfmittelbau gmbh

– irs systementwicklung gmbh

– iTk engineering Ag

– kistler instrumente gmbh

– konrad gmbh

– MAc Panel company

– measX GmbH & Co. KG

– Mic Mass interface connections gmbh

– Micronova Ag

– national instruments germany gmbh

– noffz computerTechnik gmbh

– Prones Automation gmbh

– safenet germany gmbh

– schmid elektronik Ag

– S.E.A. Datentechnik GmbH

– sepp.med GmbH

– seT gmbh

– sohatex gmbh

– soMA gmbh

– sYsTec gmbh

– Virginia Panel corporation

– Virinco As

– werum software & systems Ag

– wireFlow Ab

– wks informatik gmbh

– Xon software gmbh

Stand: Juni 2014

l F

ür

Fort

ges

chri

tten

e

12 | Academic

Technik begreifen: wir laden sie ein!

KEyNOtE

Dave Wilson

Academic Marketing

director, national

instruments

Nikolai Rösch

Academic Program

Manager central

europe, national

instruments

der dritte Tag des ViP-kongresses ist

einer der größten herausforderungen

gewidmet, der wir uns als ingenieure

und wissenschaftler stellen müssen:

wie können wir durch packende und

mitreißende lehrinhalte dem Fach-

kräftemangel begegnen? ziel unseres

dozenten- und Ausbildertags ist es,

mit aktuellen Technologien und Pro-

dukten für die Ausbildung und lehre

den künftigen generationen mehr

als nur eine praktische erfahrung für

ihre schulische und akademische

Laufbahn zu bieten. Getreu unserem

credo „do engineering“ wird wäh-

rend der keynote Theorie sprichwört-

lich in die Praxis umgesetzt. Wir laden

sie herzlich dazu ein, aktiv an der

gestaltung der lehrpläne von morgen

mitzuwirken!

national instruments bietet ihnen im rahmen des ViP-kongresses 2014 den

kostenfreien dozenten- und Ausbildertag, der unter dem Themenschwerpunkt

„Ausbildung und lehre“ ein breit gefächertes Vortrags- und kursprogramm mit

zukunftsweisenden lehrinhalten und Technologien vorstellt und einblicke in

das NI-Academic-Programm gewährt. An diesem Tag treffen innovative Produkte

auf zukunftsweisende Lehrkonzepte. Werfen Sie einen Blick auf die Themen:

Ausbildung, Lehre und StudiumVerpassen sie nicht, wie theoretische

Themen – beispielsweise Falten,

Filtern und korrelieren – anschaulich,

praktisch und spannend präsentiert

werden. Ziel dieser Vortragsreihe ist

es, ihnen eine Vielzahl von didakti-

schen konzepten, Projektideen und

deren umsetzung sowie lehrplankon-

zepte von lehrenden und Ausbildern

vorzustellen. Nutzen Sie die Chance

zur inspiration und zum gedanken-

austausch mit und unter Kollegen.

HF-Technologiendieser Track ist klein aber fein und

zeigt eindrucksvoll, wie mithilfe von

hard- und software ein praktischer

zugang zur Theorie der nachrichten-

technik geschaffen werden kann –

getreu dem Motto „Technik begrei-

fen“!

Mess- und Regelungstechnikdie Mess- und regelungstechnik

ist ein essentieller bestandteil der

technischen Ausbildung und ein

wesentliches Fachgebiet im rahmen

eines Ingenieurstudiums. Rund um

diese beiden Themen gibt es viele

konzepte und Ansätze zur Vermittlung

von Theorie. Erleben Sie in diesem

Track, wie bereiche von der robotik

bis zur prädiktiven reglung anschau-

lich und praxisorientiert in der lehre

und in Projekten umgesetzt werden.

Workshops und Seminarelernen sie in unseren workshops

erste schritte im umgang mit

ni-Produkten und setzen sie kleine

Beispiel anwendungen selbst um.

in unseren seminaren vermitteln

ihnen versierte ni-ingenieure und

Partner den einstieg in verschiedene

ni-Technologien, die durch live-

demonstrationen verdeutlicht wer-

den. Die entspannte Atmosphäre

in kleiner runde erlaubt einen inten-

siven Austausch zwischen zuhörern

und NI-Experten.

Freitag 9:00 – 10:30 Uhr Freitag 11:00 – 17:00 Uhr

24. OKTOBER 2014

Academic | 13

VORtRAGsREIHEN

hF-technologien11:00 – 11:30 radio data system transmission using

Software-Defined RadiosMatthias schulz, Tu darmstadt

11:30 – 12:00 anschauliche signaltheorie: der adaptive equalizer – lineare Verzerrungen erkennen und nutzenProf. Ulrich Mann, Hochschule Schweinfurt

Mess- und Regelungstechnik12:00 – 12:30 optimierung konventioneller thermischer

trocknungsprozesse von nahrungsmitteln durch modellbasierte prädiktive Regler mithilfe von ni labView und ni myrioAlexander-nicolai köhler, Markus Fischer, hochschule Fulda

12:30 – 13:00 advanced-control-Konzepte zur regelung eines rotatorischen inversen Pendels – implementierung und test auf dem ni-crio-system Prof. Steven Lambeck, Hochschule Fulda


14:30 – 15:00 implementierung und Vergleich von Bildverarbeitungstechniken und -verfahren für robot VisionProf. Peter Nauth, Fachhochschule Frankfurt a.M.

15:00 – 15:30 Motion control system eines 3-achs-roboters für Pick&Place-aufgabenProf. Ulrich Hoffmann, Stefan Rößner, Norbert Voß, Fachhochschule Aachen


16:00 – 16:30 Mobile Ganganalyse für Prothesenträger mittels ni myrioJochen Schuy, TU Darmstadt

16:30 – 17:00 laborverdampferstrecke zur mess- und regelungstechnischen Konzeptvalidierung und integration in die lehreAndreas kohlhepp, Tu München

Seminare11:00 – 12:30 lego Mindstorms eV3 für die ausbildung und

lehrekaren schnier, Martin engels, lego education germany


14:00 – 15:30 ni academic Product line in der anwendungoleg scherling, national instruments germany gmbh


16:00 – 17:00 schaltungsdesign mit ni elVis, ni Multisim und ni labViewoleg scherling, national instruments germany gmbh

ausbildung und lehre11:00 – 11:30 lernen durch erfahren – Vermittlung

messtechnischer grundlagen an der tu darmstadt mithilfe der ni-myrio-PlattformDr. Jann Neumann, TU Darmstadt

11:30 – 12:00 Futur[e]ing. – Pilotversuch zu einem neuen studiengangskonzept mit labView als fachübergreifende Modellierungs- und entwicklungsplattformProf. Norbert Dahmen, Jost Göttert, hochschule niederrhein

12:00 – 12:30 Praktikum echtzeitprozesssteuerung mit ni labView und ni mydaQ Dr. Oswald Kowalski, TU Ilmenau

12:30 – 13:00 lehrprojekt labView software-entwicklung am Beispiel des Kartenspiels „Mau-Mau“Sindy Schmidt, Jan Jens Koltermann, Tu cottbus-senftenberg


14:30 – 15:00 Falten, filtern, korrelieren: Signalverarbeitung mit labView in hörsaalexperimenten erlebbar machenProf. Georg Eggers, Hochschule München

15:00 – 15:30 Konzeption und entwicklung eines laborprüfplatzes zur untersuchung von piezo-elektrischen Mikropumpenulrich dahmen, hochschule niederrhein


16:00 – 16:30 Bau eines kugelförmigen displayslukas bockstaller, gewerbliche schulen waldshut Tiengen

16:30 – 17:00 labView-Programmierung einer verfahrenstechnischen Durchfluss- und regelanlage für die ausbildungDr. Hans Schneider, IPI Ing.-Büro für Prozessinformatik, Hannes Schulze, Dr. Margit Lieback, oberstufenzentrum lausitz

Workshops11:00 – 12:30 ni myrio – einführung in embedded-systeme in

der lehreJohannes Mutterer, National Instruments Germany gmbh


14:00 – 15:30 ni myrio – steuerung und regelung mit dem Quanser Qube lJohannes Mutterer, National Instruments Germany gmbh


16:00 – 17:00 Software-Defined Radio mit NI USRPFabian raschka, national instruments germany gmbh l

Fü

r Fo

rtg

esch

ritt

ene

WaRUM

networKing

40+ aussteller

innoVationen Meet the eXPerts

rund 120 Vorträge anwenderlösungen

industrietrends

14 | specials

CLAD-Zertifizierungihr know-how – von experten bescheinigt

get-together Medienpartner

im rahmen des ViP 2014 haben sie die gelegenheit, kostenfrei an der Zertifi-

zierung zum Certified LabVIEW Associate Developer (CLAD) teilzunehmen.

Sollte Ihre CLAD-Zertifizierung bald ablaufen, können Sie sich kostenfrei rezerti-

fizieren lassen. Die Zertifizierungen von National Instruments unterstreichen Ihre

technischen Kenntnisse und Fähigkeiten. Mit der CLAD-Zertifizierung verfügen

sie über einen industrieweit anerkannten Qualitätsnachweis und eine hervor-

ragende Referenz.

Nutzen sie diese Chance – und

sichern sie sich das Rüstzeug

für Ihre nächsten großen Heraus-

forderungen!

Kontakte knüpfen, Gedanken austauschen, Netzwerke pflegen: Auch

der ViP 2014 wird abgerundet durch ein exklusives get-together in entspannter

Atmosphäre. Lassen Sie den ersten Kongresstag beim Abendessen in der

gemütlichen Tenne des Veranstaltungsforums mit angeregten gesprächen

ausklingen. Direkt im Anschluss laden wir Sie im Rahmen der VIP-Party zum

ungezwungenen networking mit referenten, Ausstellern, ni-experten und

anderen Kongressteilnehmern ein.

donnerstag 16:00 – 17:00 UhrFreitag 16:00 – 17:00 Uhr

Mittwoch ab 17:00 Uhr

pREIsE

VIP-Kongresstickets

22. – 23. Okt. 2014 inkl. Abendveranstaltung € 520 | € 465*

22. Oktober 2014 inkl. Abendveranstaltung € 395

23. Oktober 2014 € 335

Gruppenticket (4 für 3)

22. – 23. Okt. 2014 inkl. Abendveranstaltung € 1560 | € 1395*

Hochschultickets

22. – 23. Oktober 2014 inkl. Abendveranstaltung € 300

22. Oktober 2014 inkl. Abendveranstaltung € 200

23. Oktober 2014 € 200

Dozenten- und Ausbildertagtagesticket

24. Oktober 2014 kostenfrei

Alle Preise in Euro zzgl. Mehrwertsteuer* Frühbuchertarif: Gilt bis einschließlich 31. Juli 2014Gruppenticket: Die Teilnehmer müssen der gleichen Firma angehören.Hochschultarif: Gilt für alle Hochschulangehörigen und Studenten.

LEIstuNGEN

Mit der buchung des kongresspasses erhält der Teilnehmer

die berechtigung zur Teilnahme am ViP-kongress 2014

für die Anzahl der gebuchten Kongresstage. Die Kongress-

teilnahme beinhaltet folgende leistungen:

– keynotes und Fachvorträge

– Tagungsband

– zutritt zur Ausstellung

– Abendveranstaltung bei Teilnahme am 22. Oktober 2014

– Tägliches Lunchbuffet und zwei Kaffeepausen inkl.

getränke

ANMELDEBEDINGuNGEN

Das Anmeldeformular finden Sie online unter ni.com/vip

die Anmeldungen werden der reihenfolge nach berück-

sichtigt. Wir empfehlen Ihnen eine frühzeitige Anmeldung.

Rücktrittsbedingungen

die Abmeldung von dieser Veranstaltung muss national

Instruments schriftlich mitgeteilt werden. Es gelten folgen-

de rücktrittsbedingungen:

– Bei Rücktritt bis zum 2. September 2014 wird eine Storno-

gebühr von 50 Euro zzgl. Mehrwertsteuer erhoben.

– Bei Rücktritt ab 3. September 2014 beträgt die Storno-

gebühr 100 % der Teilnahmegebühr.

– Gerne akzeptieren wir einen Ersatzteilnehmer. Bitte teilen

Sie uns dies in schriftlicher Form mit.

Haben sie Fragen zur Anmeldung?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Bitte wenden Sie sich

an Andrea Schütze unter Tel. +49 (0) 89 741313-121 oder

senden Sie eine E-Mail an [email protected].

DIE VIp-2014-sERVICEs – WIR sIND FüR sIE DA!

Hotels

empfehlungen und vorab reservierte kontingente unter:

germany.ni.com/vip/hotels

Bus-shuttle

– von ausgewählten hotels am Morgen

(22./23. Oktober 2014) zum Veranstaltungsort

und abends nach der ViP-Party zurück

– vom Flughafen München zum Veranstaltungsort:

22. Oktober 2014 – Abfahrt 08:30 Uhr

– vom Veranstaltungsort zum Flughafen München:

23. Oktober 2014 – Abfahrt 17:15 Uhr

Übersicht siehe: germany.ni.com/vip/busshuttle

Meet the eXPerts

FrÜhBucherraBattsichern sie sich den Frühbucherrabatt für das

2-tagesticket und das Gruppenticket für 465 €

bzw. 1395 € bis zum 31. Juli 2014.

Anmeldung und services | 15

Anmeldung und services

Medienpartner

donnerstag 16:00 – 17:00 UhrFreitag 16:00 – 17:00 Uhr

VIDEOEINDRüCKE VoN VIP 2013

Veranstaltungsort

Veranstaltungsforum Fürstenfeld

Fürstenfeld 12

82256 Fürstenfeldbruck

bei München

fuerstenfeld.de

Veranstalter

National Instruments Germany GmbH

Ganghoferstraße 70 b

80339 München

Tel.: +49 (0) 89 7413130

Fax: +49 (0) 89 7146035

[email protected]

powered by

ni.com/vip

ni.com/dozententag

Technologie- und Anwenderkongress dozenTen- und AusbilderTAg · das spektrum des gezeigten umfasst...

Documents

Transcript of Technologie- und Anwenderkongress dozenTen- und AusbilderTAg · das spektrum des gezeigten umfasst...