Seite 1 von 7 · Messung der Abweichung des Mittenmaßes l c vom Nennmaß l n durch...

(( DAkkSDeutscheAkkreditierungsstelle

Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH

Beliehene gemäß § 8 Absatz l AkkStelleG i.V.m. § l Absatz l AkkStelleGBVUnterzeichnerin der Multilateralen Abkommenvon EA, ILAC und IAF zur gegenseitigen Anerkennung

Akkreditierung

Die Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH bestätigt hiermit, dass das Kalibrierlaboratorium

Carl Zeiss Jena GmbH

Kompetenzzentrum Qualität/KalibrierlaborCarl-Zeiss-Promenade 10, 07745 Jena

die Kompetenz nach DIN EN ISO/IEC 17025:2018 besitzt, Kalibrierungen in folgenden Bereichendurchzuführen:

Dimensionelle MessgrößenLänge

Parallelendmaße

- Strichmaße, Abstände

Durchmesser

Formabweichung- Längenmessgeräte a)Koordinatenmesstechnik

Koordinatenmessgeräte a)

a) nurVor-Ort-Kalibrierung

Die Akkreditierungsurkunde gilt nur in Verbindung mit dem Bescheid vom 15. 12. 2020 mit derAkkreditierungsnummer D-K-12037-01. Sie besteht aus diesem Deckblatt, der Rückseite desDeckblatts und der folgenden Anlage mit insgesamt 8 Seiten.

Registrierungsnummer der Urkunde: D-K-12037-01-00

Berlin, 15. 12. 2020 Im Auftrag D\l H.Abteilungslei^jeri

Die Urkunde samt Urkundenanlage gibt den Stand zum Zeitpunkt des Ausstellungsdatums wieder. Der jeweils aktuelle Stand des

Geltungsbereiches der Akkreditierung ist der Datenbank akkreditierter Stellen der Deutschen Akkreditierungsstelle GmbH (DAkkS) zuentnehmen. https://www.dakks. de/content/datenbank-akkreditierter-stellen

Siehe Hinweise auf der Rückseite


Standort Berlin

Spittelmarkt 1010117 Berlin

Standort Frankfurt am Main

Europa-Allee 5260327 Frankfurt am Main

Standort BraunschweigBundesallee 100

38116 Braunschweig

Die auszugsweise Veröffentlichung der Akkreditierungsurkunde bedarf der vorherigen schriftlichenZustimmung der Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH (DAkkS). Ausgenommen davon ist die separateWeiterverbreitung des Deckblattes durch die umseitig genannte Konformitätsbewertungsstelle inunveränderter Form.

Es darf nicht der Anschein erweckt werden, dass sich die Akkreditierung auch auf Bereiche erstreckt,die über den durch die DAkkS bestätigten Akkreditierungsbereich hinausgehen.

Die Akkreditierung erfolgte gemäß des Gesetzes über die Akkreditierungsstelle (AkkStelleG) vom31. Juli 2009 (BGBI. l S. 2625) sowie der Verordnung (EG) Nr. 765/2008 des Europäischen Parlamentsund des Rates vom 9. Juli 2008 über die Vorschriften für die Akkreditierung und Marktüberwachungim Zusammenhang mit der Vermarktung von Produkten (Abi. L 218 vom 9. Juli 2008, S. 30).Die DAkkS ist Unterzeichnerin der Multilateralen Abkommen zur gegenseitigen Anerkennung derEuropean co-operation for Accreditation (EA), des International Accreditation Forum (IAF) undder International Laboratory Accreditation Cooperation (ILAC). Die Unterzeichner dieser Abkommenerkennen ihre Akkreditierungen gegenseitig an.

Der aktuelle Stand der Mitgliedschaft kann folgenden Webseiten entnommen werden:EA: www.european-accreditation.orgILAC: www.ilac. orgIAF: www.iaf. nu



Anlage zurAkkreditierungsurkunde D-K-12037-01-00nach DIN EN ISO/IEC 17025:2018

Gültig ab: 15.12.2020

Ausstellungsdatum: 15. 12.2020

Urkundeninhaber:

Carl Zeiss Jena GmbH

Kompetenzzentrum Qualität/KalibrierlaborCarl-Zeiss-Promenade 10, 07745 Jena

Kalibrierungen in den Bereichen:

Dimensionelle MessgrößenLänge

Parallelendmaße

- Strichmaße, Abstände

Durchmesser

- Formabweichung

- Längenmessgeräte a)Koordinatenmesstechnik

- Koordinatenmessgeräte a)

a) nur Vor-Ort-Kalibrierung

Für die mit * gekennzeichneten Messgrößen/Kalibriergegenstände ist dem Kalibrierlaboratorium,ohne dass es einer vorherigen Information und Zustimmung der DAkkS bedarf, die Anwendung derhier aufgeführten Normen/Kalibrierrichtlinien mit unterschiedlichen Ausgabeständen gestattet.

Das Kalibrierlaboratorium verfügt über eine aktuelle Liste aller Normen/Kalibrierrichtlinien imflexiblen Akkreditierungsbereich.

Die Anforderungen an das Managementsystem in der DIN EN ISO/IEC 17025 sind in einer für Kalibrierlaboratorien relevantenSprache verfasst und stehen insgesamt in Übereinstimmung mit den Prinzipien der D/A/ EN ISO 9001.

Die Urkunde samt Urkundenanlage gibt den Stand zum Zeitpunkt des Ausstellungsdatums wieder. Der Jeweils aktuelle Standdes Geltungsbereiches der Akkreditierung ist der Datenbank akkreditierter Stellen der Deutschen Akkreditierungsstelle GmbH(DAkkS) zu entnehmen. https://www. dakks. de/content/datenbank-akkreditierter-stellen

verwendete Abkürzungen: siehe letzte Seite Seite l von 8

Anlage zurAkkreditierungsurkunde D-K-12037-01-00


Permanentes Laboratorium

Kalibrier- und Messmöglichkeiten (CMC)Messgröße /

Kalibriergegenstand

Länge

Parallelendmaßeaus Stahl nachDIN EN ISO 3650:1999

Parallelendmaßeaus Keramik nach

DINEN ISO 3650:1999

Parallelendmaße *aus Stahl nachDINEN ISO 3650:1999

Messbereich/Messspanne

0,5 mm bis 100 mm

0,5 mm bis 100 mm

40 mm bis 300 mm

Messbedingungen /Verfahren

VDI/VDE/DGQ2618Blatt 3. 1:2004

DKD-R 4-3 Blatt 3. 1:2018

in den Nennmaßen der

Normale

Messung der Abweichungdes Mittenmaßes /c vomNennmaß /n durch Unter-schiedsmessung

Messung der Abwei-chungenyo und fu vomMittenmaß durch

5-Punkte-Unterschieds-

messung


DKD-R 4-3 Blatt 3. 1:2018

Für die kleinsten Messun-Sicherheiten sind Anschieb-barkeit und Anschubmerk-

male beider Messflächen

des Kalibriergegenstandsmit einer geeigneten

Planglasplatte zu prüfen.


DKD-R 4-3 Blatt 3. 1:2018

Für die Nennmaße

40 mm bis 100 mm dürfendie Nennmaße der Normale

max. 25 mm abweichen.

Für die NennmaßeS 100 mm bis 300 mmdürfen die Nennmaße der

Normale max. 50 mm

abweichen.

Messung der Abweichung /cvom Nennmaß/n durchUnterschiedsmessung.

Erweiterte

Messunsicherheit11

Für das Mittenmaß:

0, 05 [im + 0, 5 . 10-6 . /

Für die Abweichung/o und^uvom Mittenmaß:0, 05 \im


0, 07 [im + 0, 5 . 10-6 . /

Für die Abweichung/o und/uvom Mittenmaß:

0,05 [im


0, 12^im+l-10-6-/

Bemerkungen

/ = Länge des Maßes;

Messflächenqualitätentsprechend denFestlegungen im QMHbzw. in den

Arbeitsanweisungen

Messung mitULM 600

ll In den CMC sind die erweiterten Messunsicherheiten nach EA-4/02 M:2013 enthalten. Diese sind im Rahmen derAkkreditierung die kleinsten angebbaren Messunsicherheiten mit einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von etwa 95 %und haben, sofern nichts anderes angegeben ist, den Erweiterungsfaktor k = 2. Messunsicherheiten ohne Einheitenangabesind auf den Messwert bezogene Relativwerte, sofern nichts anderes vermerkt ist.

Gültig ab:Ausstellungsdatum:

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Messgröße /Kalibriergegenstand

Parallelendmaßeaus Stahl nachDIN EN ISO 3650:1999

Strichmaßstäbeaus Stahl, Quarzglas,Kunststoff oder Metall

Einstellringe undInnenzylinder

Durchmesser *

Einstelldorne und

Außenzylinder

Durchmesser *

Prüfstifte und

GewindeprüfstifteDurchmesser

Kalibrier- und Messmöglichkeiten (CMC)Messbereich /Messspanne

> 100 mm bis 800 mm

0 mm bis 600 mm

2 mm bis 10 mm

> 10 mm bis 300 mm

l mm bis 300 mm

0, 17 mm bis 20 mm

Messbedingungen/Verfahren


DKD-R 4-3 Blatt 3. 1:2018

Für die Nennmaße> 100mm bis 300 mmdürfen die Nennmaße derNormale max. 50 mmabweichen.

Für die Nennmaße

> 300 mm bis 800 mm

dürfen die Nennmaße derNormale max. 100mmabweichen.Messung der Abweichung /<vom Nennmaß/n durchUnterschiedsmessung.

Wl 0230 SJQ: 2017-03

Messung im Auf-oderDurchlicht


Option 3 und 4

DKD-R 4-3 Blatt 4, 1:2018

VDI/VDE/DGQ2618Blatt 4. 2:2007 Option 3DKD-R 4-3 Blatt 4. 2:2018Option 5. 3.3

ErweiterteMessunsicherheit11


0, 1 [im + l- 10-6 . /

0, 03 \im+2- 10-7 . /

0,4 [im

0, 2 |^m + 1, 5 . 10-6 . d

0, 2 \xm + 1, 5 . 10-6 . d

0, 2 \im + 1, 5 . 10-6 . d

Bemerkungen

Messung mitRubin 800

/= gemessene Länge

Maximale Dicke

40mm

(/= gemessenerDurchmesser

ll In den CMC sind die erweiterten Messunsicherheiten nach EA-4/02 M:2013 enthalten. Diese sind im Rahmen der

Akkreditierung die kleinsten angebbaren Messunsicherheiten mit einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von etwa 95 %und haben, sofern nichts anderes angegeben ist, den Erweiterungsfaktor k =2. Messunsicherheiten ohne Einheitenangabesind auf den Messwert bezogene Relativwerte, sofern nichts anderes vermerkt ist.


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Kalibrier- und Messmöglichkeiten (CMC)Messgröße/

Kalibriergegenstand

von oben genanntenRingen, tnnenzylindern,Dornen, Außenzylindern,Prüfstiften oderGewin-deprüfstiften

Rundheitsabweichung *

von oben genanntenRingen, Innenzylindern,Dornen, Außenzylindern,Prüfstiften oder Gewin-

deprüfstiftenGeradheitsabweichung

derMantellinien *

von oben genanntenRingen, Innenzylindern,Dornen oderAußenzylin-demParallelitätsabweichung

derMantellinien *

KugelnDurchmesser

Rundheitsabweichung

Plan-und Planparallel-gläserMittenmaß

Plan-und Planparallel-gläserEbenheitsabweichung

Parallelitätsabweichung

Messbereich /Messspanne

bis 40 [im

bis 40 [im

bis 40 [im

2 mm bis 100 mm

0, 5 mm bis 100 mm

für Durchmesser

0 mm bis 150 mm


VDI/VDE/DGQ2618Blatt 4. 1:2006 undBlatt 4, 2:2007Option l und 2

DKD-R4-3Blatt 4. 1 und 4. 2:2018Option 5. 3. l und 5.3.2Formprüfung für Prüf-stifte und Gewindeprüf-stifte ab 0 l mm

axiale Länge: < 100 mm

axiale Länge: > 100 mm

axiale Länge: S 100 mm

axiale Länge: > 100 mm

KA 12/38:2017-03

KA 12/01:2017-02maximaler Durchmesser

60 mm

KA 12/01:2017-02Digitalinterferometer

ErweiterteMessunsicherheit1)

0,05 \im

0, 15 \xm

0, 15 tim + 2 . 10-7 . /

0, 2 |^m

0, 2 ^im + 5 . 10-7 . /

0, 2 [im + 1, 5 . 10-6 . d

0, 1 [im

0, 15 ̂ m + l . l0-6 . /

0, 03 |^m

0,05 \im

Bemerkungen

/= Messlänge inRichtung derZylinderachse

/= Messlänge inRichtung derZylinderachse

d= gemessenerDurchmesser

/ = Messlänge inRichtung derZylinderachse

ll In den CMC sind die erweiterten Messunsicherheiten nach EA-4/02 M:2013 enthalten. Diese sind im Rahmen derAkkreditierung die kleinsten angebbaren Messunsicherheiten mit einer Uberdeckungswahrscheinlichkeit von etwa 95 %und haben, sofern nichts anderes angegeben ist, den Erweiterungsfaktor k =2. Messunsicherheiten ohne Einheitenangabesind auf den Messwert bezogene Relativwerte, sofern nichts anderes vermerkt ist.


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((Anlage zurAkkreditierungsurkunde D-K-12037-01-00

DAkkSDeutscheAkkreditierungsstelle



Kalibriergegenstand

optisch erfassbarer 2D-Strukturen auf ebenenStrukturträgernPosition und Abstände

von optisch erfassbarenKanten auf ebenen Struk-

turträgernGeradheitsabweichung

von optisch erfassbarenKreisen auf ebenen Struk-

turträgern

Rundheitsabweichung


Messfläche400 mm x 400 mm

Messfläche

700 mm x 1000 mm

Messfläche

400 mm x 400 mm

Messfläche700 mm x 1000 mm

für Durchmesser:

0, 01 mm bis 400 mm

> 400 mm bis 700mm


KA 12/39:2017-02


KA 12/39:2017-02

Messung im Auflicht

KA 12/39:2017-02

Messung im Auf- oderDurchlicht

KA 12/39:2017-02

Messung im Auflicht

KA 12/39:2017-02

Messung im Auf- oderDurchlicht

KA 12/39:2017-02

Messung im Auflicht

Erweiterte

Messunsicherheit1)

1D: 0, 4 ^m + 2 . 10-6 . /

2D: 0, 5 ^im + 2 . 10-6 . /

1D: l |^m+ 2 . 10-6 . /

2D: 2^m + l . 10-6 . /

y(0, 9/


DAkkSDeutscheAkkreditierungsstelle



Kalibriergegenstand

zwischen optisch erfass-baren 2D-Strukturen aufebenen StrukturträgernWinkelabweichung


0" bis 360°

0° bis 360°


KA 12/39:2017-02


KA 12/39:2017-02

Messung im Auflicht


0,6"+(0,19 m///'

0,6" + (0, 72 m ///'

Bemerkungen

Maximale Schenkel-

länge 400 mmStrukturhöhe « l mm

/ = Länge der Schenkel

(Symmetrisch); beiunterschiedlichenSchenkellängen wird Uaufgabenspezifischberechnet

Maximale Schenkel-länge 1000 mm

Strukturhöhe « l mm

/= Länge der Schenkel

(Symmetrisch); beiunterschiedlichen

Schenkellängen wird Uaufgabenspezifischberechnet

Vor-Ort-KalibrierungKalibrier- und Messmöglichkeiten (CMC)

Messgröße/Kalibriergegenstand

Länge

Längenmessgerätehorizontale Bauart mit

max. 3000 mm Messbe-

reich des Messelementes


Messelement0 mm bis 3000 mm



ErweiterteMessunsicherheit ll

0,08 tim + l. 10-6 . /

Bemerkungen

/ = die mit dem

Messelement

gemessene Länge

11 In den CMC sind die erweiterten Messunsicherheiten nach EA-4/02 M:2013 enthalten. Diese sind im Rahmen derAkkreditierung die kleinsten angebbaren Messunsicherheiten mit einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von etwa 95 %und haben, sofern nichts anderes angegeben ist, den Erweiterungsfaktor k = 2. Messunsicherheiten ohne Einheitenangabesind auf den Messwert bezogene Relativwerte, sofern nichts anderes vermerkt ist.


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Koordinatenmesstechnik

Messmikroskope, Mess-Projektoren, optischeZweikoordinatenmess-

gerate *


0 mm bis 909 mm


DKD-R 4-3 Blatt 18. 1:2018

Kalibrieren der

messtechnischen Eigen-schaften von Koordina-

tenmessgeräten (KMG)nach DIN EN ISO 10360und VDI/VDE 2617

Bestimmung der Antast-abweichung PS-ID(OT)mittels eines Strichbrei-

tennormals gemäßVDI/VDE 2617Blatt 6. 1:2007

Bestimmung derAntastabweichung Pnomittels eines Kreisnormalsgemäß DIN EN ISO 10360-7:2011

Bestimmung der Längen-messabweichung&x, £BYentlang der Geräteachsenin X- u. Y-Richtung mittelsStrichmaßstäben aus GlasgemäßDIN EN ISO 10360-7:2011

Bestimmung der Längen-messabweichung£ux, £uventlang der Geräteachsenin X-u. Y-Richtung mittelsStrichmaßstäben aus GlasgemäßDIN EN ISO 10360-7:2011

Bestimmung der Längen-messabweichung £BXYmittels Strichmaßstäbenaus Glas gemäßDIN EN ISO 10360-7:2011


0, 08 [im

0, 30 \im

0, 1 kirn+0,3 . 10-6-/

0, 05 ̂ m + 0, 3 . 10-6 . /

0, l|^m+0, 3-10-6-/

Bemerkungen

Messeinrichtungen mitvisueller Antastungoder optoelektroni-scher Kantener-kenn ung

/ = die gemesseneLänge

ll In den CMC sind die erweiterten Messunsicherheiten nach EA-4/02 M:2013 enthalten. Diese sind im Rahmen der

Akkreditierung die kleinsten angebbaren Messunsicherheiten mit einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von etwa 95 %und haben, sofern nichts anderes angegeben ist, den Erweiterungsfaktor fr = 2. Messunsicherheiten ohne Einheitenangabesind auf den Messwert bezogene Relativwerte, sofern nichts anderes vermerkt ist.


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Messmikroskope, Mess-Projektoren, optischeZweikoordinatenmess-

gerate *


0 mm bis 909 mm


Bestimmung der Längen-messabweichung Evxvmittels Strichmaßstäbenaus Glas gemäßDIN EN ISO 10360-7:2011

Bestimmung der Recht-winkligkeitsabweichung derMessachsen zueinandermittels eines Rechtwinklig-keitsnormals (Strichplatte)


0, 05 ̂ im + 0, 3 . 10-G . /

0, 3"

Bemerkungen

Messeinrichtungen mitvisueller Antastungoderoptoelektroni-scherKantener-kennung

/= die gemesseneLänge

verwendete Abkürzungen:

CMC Calibration and measurement capabilities (Kalibrier- und Messmöglichkeiten)DIN Deutsches Institut für Normung e.V.DKD-R Richtlinie des Deutschen Kalibrierdienstes (DKD),

herausgegeben von der Physikalisch-Technischen BundesanstaltVDE Verband der Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik e.V.VDI Verein Deutscher Ingenieure e. V.DGQ Deutsche Gesellschaft für Qualität e.V.

KA Kalibrieranweisung der Carl Zeiss Jena GmbHWl Work Instruction der Carl Zeiss Jena GmbH

11 In den CMC sind die erweiterten Messunsicherheiten nach EA-4/02 M:2013 enthalten. Diese sind im Rahmen derAkkreditierung die kleinsten angebbaren Messunsicherheiten mit einer Uberdeckungswahrscheinlichkeit von etwa 95 %und haben, sofern nichts anderes angegeben ist, den Erweiterungsfaktor k = 2. Messunsicherheiten ohne Einheitenangabesind auf den Messwert bezogene Relativwerte, sofern nichts anderes vermerkt ist.


15. 12. 202015. 12.2020 Seite 8 von 8

D-K-12037-01_Akkreditierungsurkunde_20201215.pdfD-K-12037-01_Anlage der Akkreditierungsurkunde_20201215.pdf

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