SR-SCOPE RMP30-S - helmut-fischer.com · Das SR-SCOPE® misst die Dicke von Kupferschichten auf den...
2
Schichtdicke Materialanalyse Mikrohärte Werkstoffprüfung SR-SCOPE ® RMP30-S Handgerät zur Messung der Kupferdicke auf Leiterplatten oder dünnen Laminaten, da verfahrensbedingt kein Durchgriff erfolgt und somit keine Beeinflussung durch gegenüberliegende Kupferschichten vorliegt. Das SR-SCOPE ® misst die Dicke von Kupferschichten auf den Oberseiten von Leiterplatten nach der elek- trischen Widerstandsmethode nach DIN EN 14571. Besonders geeignet für Messungen auf Multilayern Zerstörungsfrei, schnell, präzise und ohne Einfluss gegenüberliegender Kupferschichten
Transcript of SR-SCOPE RMP30-S - helmut-fischer.com · Das SR-SCOPE® misst die Dicke von Kupferschichten auf den...
Schichtdicke Materialanalyse Mikrohärte Werkstoffprüfung
SR-SCOPE® RMP30-S Handgerät zur Messung der Kupferdicke auf Leiterplatten
oder dünnen Laminaten, da verfahrensbedingt kein Durchgriff erfolgt und somit keine Beeinflussung durch gegenüberliegende Kupferschichten vorliegt.
Das SR-SCOPE® misst die Dicke von Kupferschichten auf den Oberseiten von Leiterplatten nach der elek-trischen Widerstandsmethode nach DIN EN 14571. Besonders geeignet für Messungen auf Multilayern
Zerstörungsfrei, schnell, präzise und ohne Einfluss gegenüberliegender Kupferschichten
901-
070
0
9/12
02-1
2
Schichtdicke Materialanalyse Mikrohärte Werkstoffprüfung
Merkmale Große LCD Anzeige Batteriebetrieb oder Netzanschluss Automatische Sondenerkennung Automatische Messwertaufnahme beim Aufsetzen
der Sonde Toleranzgrenzen (Limits) Akustisches Signal bei Messwertübernahme und
Limitüberschreitung Verriegelbare Tastatur Automatisches Ausschalten Speicherung von max. 10.000 Messwerten
in bis zu 100 Applikationen, unterteilt in max. 1.000 Blöcke Statistische Auswertung Ausreißerkontrolle Kalibrierung mit zertifizierten Cu/Iso Normalen
zur Rückführbarkeit der Messergebnisse Umschaltbare Maßeinheiten μm oder mils Displayanzeige in 8 Sprachen wählbar RS232 Schnittstelle
Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, 71069 Sindelfingen, Germany, Tel. +49 70 31 30 30, [email protected] Instrumentation (GB) Ltd, Lymington / Hampshire SO41 8JD, England, Tel. +44 15 90 68 41 00, [email protected] Technology, Inc., Windsor, CT 06095, USA, Tel. 1 (860) 683-0781, [email protected]
Helmut Fischer AG, CH-6331 Hünenberg, Switzerland, Tel. +41 41 785 08 00, [email protected] Instrumentation Electronique, 78180 Montigny le Bretonneux, France, Tel. +33 1 30 58 00 58, [email protected] Fischer S.R.L., 20099 Sesto San Giovanni (Milano), Italy, Tel. +39 0 22 55 26 26, [email protected] Instruments, S.A., 08018 Barcelona, Spain, Tel. +34 9 33 09 79 16, [email protected] Fischer Meettechniek B.V., 5627 GB Eindhoven, The Netherlands, Tel. +31 40 248 22 55, [email protected],Fischer Instruments K.K., Saitama-ken 340-0012, Japan, Tel. +81 4 89 29 34 55, [email protected] Instrumentation (Far East) Ltd, Kwai Chung, N.T., Hong Kong, Tel. +852 24 20 11 00, [email protected] Instrumentation (S) Pte Ltd, Singapore 658065, Singapore, Tel. +65 62 76 67 76, [email protected] Fischer Instrumentation Ltd, Shanghai 200333, P.R. China, Tel. +86 21 32 51 31 31, [email protected] Measurement Technologies (India) Pvt. Ltd, Pune 411036, India, Tel. + 91 20 26 82 20 65, [email protected]
www.helmut-fischer.com
Bestellinformationen Best.-Nr.
SR-SCOPE® RMP30-S 603-714Standardlieferumfang: Messgerät, Koffer, Batterie, Netzteil, AnleitungMesssonde ERCU N 603-220Messsonde ERCU-D10 603-387Kal-S ERCU Cu/Iso 5 μm 603-175Kal-S ERCU Cu/Iso 12 μm 603-176Kal-S ERCU Cu/Iso 18 μm 603-177Kal-S ERCU Cu/Iso 35 μm 603-178Kal-S ERCU Cu/Iso 70 μm 603-179Kal-S ERCU Cu/Iso 105 μm 603-180Kal-S ERCU Cu/Iso 140 μm 603-668Stativ V12 Base 604-420Einspannvorrichtung für ERCU-Sonden 603-658Auflagepodest für Handgerät 600-025Interface Verbindungssatz MP 602-341Adapter USB – RS232 603-650Auswertungssoftware FISCHER DataCenter 604-575
Messsonde ERCU N für kleine Messflächen
Messsonde ERCU-D10 für große Messflächen
Messmethode
Elektrische 4-Punkt-Widerstandsmethode. Über die 2 äußeren Kontaktstifte wird ein Gleichstrom in die Kup-ferschicht eingeleitet. Mit den zwei inneren Kontaktstif-ten wird das durch den Stromfluss entstehende elekt-rische Potenzial abgegriffen. Über eine Kalibrierkenn-linie wird dieses Potenzial in eine äquivalente Kupfer-dicke umgewandelt. Die Messung wird nicht von iso-liert gegenüberliegenden Kupferschichten beeinflusst.
Prinzip der elektrischen Widerstandsmethode zur Schichtdickenmessung
Stromquelle˜̃̃V
I IU = f(d)
Cu-Schicht dEpoxy-Basismaterial
Technische DatenMessbereiche für Messsonden:ERCU NMessbereich I: 0,1 – 10 μmMessbereich II: 5 – 120 μm Wiederholpräzision s(1): 0,2 μm ≤ s ≤ 2 % v. MwERCU-D10Messbereich I: 0,1 – 10 μm Messbereich II: 5 – 200 μm Wiederholpräzision s(1): 0,075 μm ≤ s ≤ 1,5 % v. Mw(1) abhängig vom Messbereich
