BL el widerstand -...

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Elektrische Widerstandsmessungen Messverfahren: aktive, elektrische Messungen in Bohrungen, Physikalisches Prinzip: Messung des OHMschen Übergangswiderstandes bzw. des scheinbaren (apparent) spezifischen Widerstandes , Maßeinheit: Quelle: Galvanische Einspeisung eines niederfrequenten Wechselstromes I (mA) mittels Elektroden (A, B), Empfänger: Spannungsmessung (mV) mittels Elektroden (M, N), Einsatzbedingungen: offene Bohrung, elektrisch leitender Bohrlochinhalt (Spülung), Korrekturen: Bohrlochkorrektur (Kaliber), geringe Schichtmächtigkeiten, Interpretation: Lithologie, Kluftbereiche, Porositäts- und Sättigungsbestimmung. Ü R a R , m Ω Ω⋅ U Δ

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Elektrische Widerstandsmessungen

Messverfahren: aktive, elektrische Messungen in Bohrungen,

Physikalisches Prinzip: Messung des OHMschen Übergangswiderstandes bzw. des scheinbaren (apparent) spezifischen Widerstandes ,

Maßeinheit:

Quelle: Galvanische Einspeisung eines niederfrequenten Wechselstromes I (mA) mittels Elektroden (A, B),

Empfänger: Spannungsmessung (mV) mittels Elektroden (M, N),

Einsatzbedingungen: offene Bohrung, elektrisch leitender Bohrlochinhalt (Spülung),

Korrekturen: Bohrlochkorrektur (Kaliber), geringe Schichtmächtigkeiten,

Interpretation: Lithologie, Kluftbereiche, Porositäts- und Sättigungsbestimmung.

ÜRaR

, mΩ Ω ⋅

U∆

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A

B

B

Zweielektroden-Messungsingle-point-resistivity SPRRÜ = dU/I in OhmÜbergangswiderstandan der SPR(A)-Elektrode

Elektrische Widerstandsmessungen in Bohrungen

Isolie

rung

A

B

MN

Vierelektroden-Messungz. B. GradientsondeRa = (dU/I)k in ohmmscheinbarer spez. Widerstand

A0

B

MN

A1'

A1

Fokussierte MessungLaterologRa = (dU/I)k' in ohmmscheinbarer spez. Widerstand

A

B

M

N

MikromessungenMicrologRa = (dU/I)k'' in ohmmscheinbarer spez. Widerstand

k - Geometrie(Sonden)faktor

B B B

Spülung

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4 – Elektrodenanordnungen

Geber: A,B - Stromelektroden, niederfrequenter Wechselstrom I (mA),

Empfänger: M,N - Spannungselektroden, Spannungsdifferenz (mV),

- spezifischer elektrischer Widerstand des homogenen Vollraumes (t – true = „wahr“),

- Elektrodenabstände,

k - Sondenfaktor (Geometriefaktor).

4

1 1 1 1MN MN

tAB AB

U UR k

I IAM AN BM BN

π∆ ∆= =

− − +

( m)tR Ω⋅

, , ,AM AN BM BN

U∆

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Bohrloch

Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes in inhomogener Umgebung (Bohrloch, Schichtgrenzen, Infiltrationszone).

Die spezifischen Widerstände der Teilbereiche gehen in Abhängigkeit von der Elektrodengeometrie gewichtet in das Messergebnis ein.

Inhomogenes Medium: scheinbarer spezifischer Widerstand (apparent specific resistivity).

t aR R→

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, , , , , , , , , ,...,

, , ,

m mc xo j t mc i ja a

hang lieg

R R R R R d d d d hR R

R R Sondengeometrie Elektrodenabstände

=

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Ziel der Messwertbearbeitung

Bestimmung des wahren Formationswiderstandes aus :

Lösung der direkten Aufgabe: Analytische Verfahren für einfache, zylindersymmetrische Fälle, Abweichungs- oder Korrekturdiagramme (departure curves) für bestimmte Elektroden-Anordnungen,

Lösung der inversen Aufgabe (iterative Algorithmen):

( , )t WR f S= Φ aR

Numerische Methoden (FD, FE) zur Modellierung der Widerstandsverteilung aus Messwerten von Sonden mit unterschiedlicher geometrischer Charakteristik (seitliche Bohrlochsondierung) für komplizierte lithologische Verhältnisse (endliche Schichtmächtigkeiten, variable Infiltration).

Oder: Entwicklung neuer Messmethoden, Fokussierende elektrische Widerstandsmessungen.

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4 - Elektroden-Widerstandsmessung

N1

B

A

M

N

blankesKabel

0LA

M

N0

L

Potentialsonde Normale

Gradientsonden Inverse

Oberkante (OK) Unterkante (UK)

0 - SondenbezugspunktL - Spacing (radiale Auflösung)

AM < MN MN < AMGeometriebedingung

Sondenfaktork = 4π AM k = 4π AM*AN/MN

B

A

M

N0

L

B

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Potential- und Gradientsonde

Praktikum Bohrlochmessung mit der elektrischen Sonde ELGG, Robertson Geologging, Simulation von elektrischen Bohrlochmessungen am Modelltrog.

Potentialsonde

Elektrodenanordnungen

Kleine Normale: L = AM = 0.25 m; ELGG: SHNO – short normal, L = 16“ = 0.4 m. Große Normale: L = AM = 1.0 m; ELGG: LONO – long normal, L = 64“ = 1.6 m,

Laterale Wirkungstiefe = f (R, L).

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Potentialsonde Verhalten an Schichtgrenzen und Einfluss der Schichtmächtigkeit h auf die Kurvenbilder:

Symmetrische Kurven für Schichtmächtigkeiten , Schichtgrenzenbestimmung hochohmige Schichten: Schichtgrenzen liegen um außerhalb

der Wendepunkte, gutleitende Schichten: Schichtgrenzen innerhalb der

Wendepunkte.

Verfälschte Widerstandswerte für , Umkehr des Widerstandsbildes für .

5h L>

/ 2L+

/ 2L−

5h L<

h L<

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Gradientsonden

Elektrodenanordnungen Oberkante OK = Unterkante UK: A 2.5 m M 0.5 m N, L = 2.75 m,

Verhalten an Schichtgrenzen und Einfluss der Schichtmächtigkeit h auf die Kurvenbilder:

Asymmetrische Kurven, maximale Indikation an der Oberkante bzw. Unterkante einer Schicht,

Wendepunkte markieren direkt die Schichtgrenzen.

Kombination beider Gradientsonden ermöglicht die Bestimmung der Schichtmächtigkeit h,

Geringmächtige Schichten : geringere Verfälschung von

gegenüber durch liegend und hangend Schichten als bei der Potentialsonde,

Keine Widerstandsumkehr.

tRaR5h L<

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OK

UK

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Abweichdiagramme (departure curves, Modellkurven)

Bestimmung des wahren Formationswiderstandesaus dem gemessenen scheinbaren spezifischen Widerstand für eine bestimmte Elektroden-Anordnung (Potential- bzw. Gradientsonde). x – Achse: geometrische Größen y – Achse: elektrische Größen Kurvenparameter: Formations- / Spülungswiderstand

Einfacher Fall: unendliche Schichtmächtigkeit , keine Infiltration, Zylindersymmetrie.Anwendung

Korrektur von Spülungs- und Kalibereinfluß, Bestimmung von aus für verschiedene Spacings L (kleine und große Normale), Bewertung der Infiltrationsverhältnisse.

aRtR

/L d/a mR R

5h L≥

/t mR R

tR ( )aR f L=

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Bohrung FG-3

z = 37.0 md = 3.14“ = 0.08 mL = 64“ = 1.63 mRa(LONO) = 4372 ohmmRm = 36.3 ohmmL / d = 20.4Ra(LONO) / Rm = 120.5Rt / Rm = 90Rt = 3267 ohmm

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0 2000 4000 6000 8000Ra in ohmm

48

46

44

42

40

38

36

34

32

30

28

26

24

22

20

18

16

14

12

10

z in

m

SHNO

LONO

Bohrung FG-3Lithologie, Kennwert KL? SHNO > LONO

z = 37.0 md = 3.14“ = 0.08 mL = 64“ = 1.63 mRa(LONO) = 4372 ohmmRm = 36.3 ohmmL / d = 20.4Ra(LONO) / Rm = 120.5Rt / Rm = 90Rt = 3267 ohmmRw = 13.5 ohmKL(LONO) = 1.5 %KL(Rt) = 1.1%

h = 7 mh / L = 4.5

L/2 = 0.8m

WP?

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Fokussierende elektrische Widerstandsmessungen

Probleme bei 4 – Elektrodenanordnungen (Potential- und Gradientsonde)

Verfälschung der Messkurven bei geringmächtigen Schichten, Unsicherheit bei Festlegung von Schichtgrenzen (Potentialsonde), Starke Beeinflussung durch das Bohrloch (Kaliber, Spülung, Infiltration) und Liegend- bzw. Hangendschichten.

Fokussierende Messanordnungen durch zusätzliche Steuerströme wird der Messstrom seitlich (lateral) in Form einer „Stromplatte“ in die Formation gezwungen (Laterolog).

Vorteile

Höhere vertikale Schichtauflösung; Lithologie, Messwert entspricht näherungsweise dem wahren

Schichtwiderstand , Rückschluss auf Gesteinskennwerte .,a LLR

, ,W TS VΦtR

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7 – Elektroden Laterolog

Messstrom , Steuerströme , phasengleich zu , Regelung der Steuerströme, Fokussierbedingung: Stromplatte mit .

Laterolog – 3 (FEL – Fokussiertes Elektrolog, Guardlog)

Stabförmige Steuerelektroden , Staboberflächen U = const (Äquipotentialfläche), kein Stromfluss

entlang der Bohrlochachse, Regelung der Steuerströme, Fokussierbedingung: Stromplatte mit .

Dual – Laterolog (1 Sonde; Schlumberger)

tief eindringendes Strombündel: Laterolog deep (LLd ), flach eindringendes Strombündel: Laterolog shallow (LLs), laterale Widerstandsänderungen (Infiltration).

0A0I

1 2,A A1 2;I I 0I

1 1 2 ´2;M M M MU U U U= =

0I

1 2,A A

0 1 2( ) ( ) ( )U A U A U A= =

0I

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Geometriefaktor (Pseudogeometrischer Faktor)

Fokussierte Stromplatte: infiltrierter + nichtinfiltrierter radialer Bereich Reihenschaltung unter Beachtung des pseudogeometrischen Faktor:

, 0( ) 1 ( )a LL i X i tR J d R J d R= + −

- Integraler pseudogeometrischer Faktor der infiltrierten Zone = Beitrag des von der Infiltrationstiefe abhängigen Widerstandes am Gesamtwiderstand, - Beitrag der nichtinfiltrierten Formation,

große Eindringtiefe: klein, kleine Eindringtiefe: groß.

( )iJ d

1 ( )iJ d−

( )iJ d

id

A0

A2

A1

infiltrierteZone RX0

nichtinfiltrierteZone Rt

di

J (di ) 1- J (di )

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Mikrowiderstandsmessungen

Mechanischer Andruck einer Platte (Pad, Schuh) mit montierten Elektroden an die Bohrlochwand, direkter Kontakt der Elektroden mit dem Gebirge bzw. dem Filterkuchen.

Ungünstige Bedingungen: raue Bohrlochwand, Ausbrüche. Elektrodenabstände im cm – Bereich: Sehr hohes vertikales Auflösungsvermögen: 2 ... 5cm, Sehr geringe radiale Wirkungstiefe: 3 ... 5cm.

Infiltration: Messwert wird wesentlich vom Widerstand des Filterkuchens und der infiltrierten Zone bestimmt.

mcR

0XR

Anwendungen Lokalisierung und Charakterisierung permeabler, infiltrierter Schichten, Lokalisierung und Charakterisierung geringmächtiger Strukturen (Kluftzonen, Einzelklüfte).

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Mikrowiderstandsanordnungen

Klassisches Mikrolog: Mikronormale + Mikroinverse Unterschiedliche radiale Charakteristik, Radiale Wirkungstiefe: Mikronormale > Mikroinverse, In permeablen infiltrierten Schichten: Separation („Auseinanderlaufen“) der Messkurven, In impermeablen Schichten näherungsweise gleicher Widerstand. Fokussierende Mikrosysteme mit unterschiedlicher radialer

Wirkungstiefe bis maximal 10 cm MSFL – Microspherically Focused Log, PL – Proximity Log, MLL – Microlaterolog.

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A0

A1

M0

B0, N0, B1

Steuerelektroden

A

MN

B; N

M

guard electrode

A0

A1

MN

B0, B1

A0

Bohrloch

Pad

Microlog ML

A1

B0, B1

Elektrodenpads (schematisch)

Microlaterolog MLL

Micro SFL

Proximity

control electrode

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Mikrowiderstandsmessungen Besondere Anwendungen

Elektrische Schichtneigungsmessungen, Diplog DIP, Elektrische Bohrlochwand-Scannerverfahren.

Elektrische Schichtneigungsmessungen

Lokalisierung von Schichtgrenzen, Kluftzonen und kleinräumigen Strukturelementen in ihrer räumlichen Lage (Neigung und Richtung) mit hoher vertikaler Auflösung.

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Dipsonde

3, 4 bis 8 angedrückte, azimutal versetzte Pads: 90° bei 4 Systemen,

Pad

Mikrowiderstandsanordnungen mit kleinen Elektrodenabständen und geringer radialer Eindringtiefe:

Mikropotentialsonde (Mikronormale): A 5cm M, Mikrogradientsonde (Mikroinverse): A 3.5cm M 1.5cm N,

Fokussierende Mikrologs:

01 20 0A B ( )A , µA, A AI→ →

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Messeinrichtungen zur Bestimmung von Neigung und Azimut der Bohrung bzw. zur Orientierung der Sonde (Azimut gegen magn. N),

Kalibermessung: Spreizung der Andruckarme mit den Elektrodenpads,

Vertikale Abtastung (sampling rate): ∆z < 5 mm,

Vertikales Bohrloch und horizontale Schichtung:

Widerstandsindikationen liegen exakt in der gleichen Tiefe für alle Spuren (Pads), sonst versetzt.

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BN Pad 1

CUR1Pad 2CUR2

Pad 3CUR3

1 3

3-Arm-Diplogmesskurven horizontale und geneigte Schichtgrenzevertikales Bohrloch

A

MN

A0

120°1

2

3

Ra , RÜ

z

OrientierunssystemReferenz: Pad 1

A2

A1 M

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Auswertung von Dip-Messungen (software)

Bestimmung der Tiefenverschiebung von Widerstandsindikationen in den Messkurven, Anwendung der Kreuzkorrelationsfunktion KKF auf die Messkurven

CUR 1, CUR 2, CUR 3. Parameter:

Tiefenfensters ∆Z (window size) zur Berechnung der KKF,

Schrittweite ∆Z (s) (step size) im Bohrlochverlauf, Überlappung der Tiefenfenster,

Festlegung des Suchwinkels m (search angle).

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n – Anzahl der Verschiebungsschritte im Tiefenfenster ∆Z, m – Anzahl der Berechnungsschritte für maximaler Verschiebungsbetrag, search angle.

τ

1

1 21

( ) ( ) ( )n m

ix i x iτ τ

+ −

=∑Ψ = ⋅ +

Berechnung der KKF zwischen CUR 1/ CUR 2; CUR 1 / CUR 3; CUR 2 / CUR 3 im Tiefenfensters ∆Z bei schrittweiser Verschiebung der Messkurven um den Verschiebungsbetrag (vertikaler Punktabstand).

Numerische Berechnung der KKF:

zτ = ∆

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0 2 4 6 8 10R in ohmm

13.5

13

12.5

12

11.5

11

10.5

10

9.5

9z

in m

Pad x1

Pad x2

0 2 4 6 8 10 0 2 4 6 8 10 0 2 4 6 8 10 0 2 4 6 8 10 0 2 4 6 8 10

0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5τ dz (m)

0.5

0.6

0.7

0.8

0.9

(τ)

τ = 0

dz = 10cm

τ = dz

Amplitude: sicher; unsicher

Kreuzkorrelationsfunktion KKF: Φ (τ)

τ = 2 dz τ = 3 dz τ = 4 dz τ = 5 dz

dZ = 200cm

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Maxima der KKF = CORR = optimale Verschiebungsbeträge (CUR 1, CUR 2), , ,

Messung der azimutalen Orientierung von CUR 1 (Azimut von Pad 1), Raumorientierung der 3 Verschiebungspunkte + mittleres Bohrlochkaliber

= scheinbares Schichteinfallen (Einfallswinkel und -richtung),

Scheinbares Schichteinfallen (apparent dip) in Bezug auf das Koordinatensystem der Bohrung,

Mit Bohrlochneigung und -azimut, Koordinatentransformation: wahres Schichteinfallen (true dip),

Wiederholung des Auswerteprozesses im nächsten Tiefenfensters mit der Verschiebung .

12h13h 23h

d

( )Z s∆Z∆

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Wahl der Bearbeitungsparameter

Window size: Tiefenfenster, Auflösung (Feinheit)

Übersichtsbearbeitung: = 2 m, Detailbearbeitung: = 1 m.

Step size: Überlappung der Tiefenfenster ( )

zu klein: Indikationen werden mehrfach erfasst, mathematical dips, zu groß: „übersehen“ von Indikationen.

Search angle: Anpassung des Suchwinkels an die erwarteten Schichtneigungen.

Z∆Z∆

( ) / 2Z s Z∆ ≈ ∆

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15

14.5

14

13.5

13

12.5

12

11.5

11

10.5

10

9.5

9

z in

m

0 2 4 6 8 10

R (x1) in ohmm

0 2 4 6 8 10

R (x2) in ohmm

Tadpole - Darstellungvertikales Bohrloch, Bezugselektrode x1, Kaliber d = 25cm = const.

tan ϕ = h12 / d

ϕ1 = 50,2°

ϕ2 = 38.7°

0 30 60 90

Tadpoleϕ in °

Tadpole

h12 = 30cm

h12 = 20cm

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Window size: 1.0m, Step size : 0.5m, Search angle: 60°, Max. KKF: CORR > 45%, sicher

Tadpole = schwarz CORR < 35%, unsicher

Tadpole = weiß

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Elektrische Bohrlochwand – Scannerverfahren

Weiterentwicklung des Diplogs

Formation MicroScanner (FMS), Formation MicroImager (FMI), Electrical Micro Imaging tool (EMI).

Messgröße: Ohmscher Übergangswiderstand an jeder Einzelelektrode, Zweielektrodenanordnung:

Qualitatives Abbild zu den elektrischen Eigenschaften der Bohrlochwand

0 ,; ( )consti Ü i

i

UA B R

I

∆→ = Ω

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Aufbau 4 und mehr Elektrodenträger (Pads), Hydraulischer Andruck an die Bohrlochwand (Kaliber), Auf den Pads: große Anzahl von gegenseitig versetzten Einzelelektroden

(buttons, n = 27) montiert, Unterschied zum Diplog, Streifenabtastung (Scanning) der Bohrlochwand, Farbimage.

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Isolator

Return-elektrode B

6 azimutale Pads

Stromfluß IdU = const.

Pad

Buttons

Fokussier-elektrode(guard)

Meßstrom

Fokussier-strom

FormationleitendeSpülung

Filter-kuchen

guard-Elektrode = MetallgehäuseUbutton = Uguard kein Stromfluss zwischen den Elektroden

Pad

Infiltrations- zone

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Messwertdarstellung

Kurvendarstellung; Spur, Farbcodierung; Image: Maxima gelb: kompakte Bereiche, Sande, Minima braun: Kluftbereiche, Tone, Schluffe,

Räumliche Zuordnung der MessdatenOrientierungssystem: Neigung und Richtung der Bohrung,

Azimut des Referenzpads,

Kalibermessung.

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Beispiel: 6 – Arm EMI (Haliburton),25 buttons pro pad; Button-Durchmesser = 0.16“ = 4 mm.

Geringmächtige, horizontale Sand-Schluff-Sedimentationssequenz.

30 cm

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Bohrlochachse

Inklinations-vektor

I A

0°N

I - Inklination (Einfallen)A - Azimut (Richtung)

I

270°

0°(N)

90°(E)

180°

I

0 60 120 180 240 300 360

z

0 60 120 180 240 300 360

z

"aufgerolltes"Bohrlochimage

Horizontale und einfallende Schichtenvertikales Bohrloch

0 60 120 180 240 300 360

z

N E

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Hydraulisch induzierte Risse, akustischer und elektrischer Bohrlochscanner.

Abplatzung

Ebene, einfallende Schichtung